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中科院半导体所

文章:1547 被阅读:626.6w 粉丝数:328 关注数:0 点赞数:51

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载带芯片的制造工艺及装连技术

从传统到阵列,从ILB到OLB,载带焊如何在高密度互连的浪潮中突破性能与成本的“双刃”挑战,引领芯片....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-24 16:01 122次阅读
载带芯片的制造工艺及装连技术

横向扩散金属氧化物半导体LDMOS的工作原理和核心应用

在这个万物互联的时代,你的手机信号能够稳定覆盖数公里,背后的功臣是一个你可能从未听过的核心器件——横....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-24 15:56 99次阅读
横向扩散金属氧化物半导体LDMOS的工作原理和核心应用

芯片制造核心工艺流程介绍

IC芯片半导体工艺制造技术作为集成电路产业的核心支撑,其发展始终围绕高性能器件研发与工艺精度提升展开....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-22 15:03 453次阅读
芯片制造核心工艺流程介绍

外延应力如何提升芯片性能

在追求更高性能的征途中,工程师们发现了一个免费午餐——应变硅技术。通过在特定区域引入晶格应力,可以显....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-22 15:00 138次阅读
外延应力如何提升芯片性能

利用鉴相鉴频器扩展锁相环的捕获范围

本文将了解如何用鉴相/鉴频器(PFD)替代普通鉴相器,以扩展锁相环(PLL)的捕获范围。
的头像 中科院半导体所 发表于 04-22 14:28 512次阅读
利用鉴相鉴频器扩展锁相环的捕获范围

浅谈常见的封装失效现象

金线偏移是封装环节中最为常见的失效形式之一,IC元器件往往因金线偏移量超出合理范围,导致相邻金线相互....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-22 14:27 137次阅读

Coreless无芯工艺与ETS埋线路工艺的差异比对

在行业通用的载板制造领域中,除了减成法(Tenting)、改良型半加成法(mSAP)、半加成法(SA....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-22 11:08 151次阅读
Coreless无芯工艺与ETS埋线路工艺的差异比对

深度解析薄膜应力与晶圆曲率法

薄膜是现代微电子、光子学与微机电系统(MEMS)器件最基础的构成单元,小到芯片里的导电层、绝缘层,大....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-22 10:59 152次阅读
深度解析薄膜应力与晶圆曲率法

影响晶体管饱和电流的各项因素

在芯片性能的比拼中,有一个参数几乎成了晶体管速度的代名词——饱和电流(IdSAT)。它衡量的是晶体管....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-21 10:24 135次阅读
影响晶体管饱和电流的各项因素

浅谈芯片设计中的标准单元

在数字芯片设计领域,标准单元(Standard Cell)是构成复杂芯片功能的基础构件。它是指经过预....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-21 10:23 136次阅读

ESD防护设计的核心准则

在集成电路(IC)的设计、制造、封装、测试及应用全流程中,静电放电(ESD)是最常见且破坏性极强的隐....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-20 17:31 619次阅读
ESD防护设计的核心准则

3D NAND中的Channel Hole工艺介绍

Channel Hole(沟道通孔)是3D NAND闪存制造中的核心工艺步骤。它是指在垂直堆叠的多层....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 11:43 259次阅读
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集成电路制造工艺中的COAG技术介绍

在半导体先进制程的跨代演进中,我们往往将目光聚焦于光刻机(EUV)的波长抑或是晶体管架构(从Plan....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 11:41 269次阅读
集成电路制造工艺中的COAG技术介绍

GAAFET全环绕栅极晶体管制造流程图解

本文图解介绍了GAAFET(Gate-All-Around FET)的制造流程。
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 09:25 528次阅读
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2.5DIC集成在宽I/O接口领域的实际应用

2.5DIC集成在宽I/O接口领域有着重要的实际应用,其核心结构由一块采用TSV(硅通孔)技术的无源....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 09:22 1195次阅读
2.5DIC集成在宽I/O接口领域的实际应用

高温工作寿命测试的失效机制与结果判断

高温工作寿命测试(High Temperature Operating Life,简称HTOL)是评....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 09:19 631次阅读
高温工作寿命测试的失效机制与结果判断

抬升源漏技术如何拯救纳米尺度晶体管

在芯片尺寸持续缩小的竞赛中,晶体管工程师们遇到了一道难以逾越的鸿沟:源漏区越做越浅,接触电阻却越来越....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-10 17:08 717次阅读
抬升源漏技术如何拯救纳米尺度晶体管

一文详解器件级立体封装技术

2D、2.5D和3D立体封装技术已广泛应用于倒装芯片和晶圆级封装工艺中,成为后摩尔时代芯片性能提升的....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-10 17:06 1773次阅读
一文详解器件级立体封装技术

扇出型晶圆级封装技术介绍

本文主要介绍扇出型(先上晶芯片面朝下)晶圆级封装(FOWLP)。首个关于扇出型晶圆级封装(FOWLP....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-10 09:58 1329次阅读
扇出型晶圆级封装技术介绍

半导体制造中的侧墙工艺介绍

侧墙工艺是半导体制造中形成LDD结构的关键,能有效抑制热载流子效应。本文从干法刻蚀原理出发,深度解析....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-09 10:23 368次阅读
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无源TSV转接板的制作方法

无源TSV转接板作为先进封装的“交通枢纽”,是实现高密度异构集成的核心。本文深度解析TSV高深宽比刻....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-09 10:20 225次阅读
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现代微电子器件封装技术的发展历程和基本类型

在现代微电子技术体系中,微电子器件封装技术已演变为连接芯片设计与系统应用的桥梁性学科,其战略地位随A....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-03 14:11 1770次阅读
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芯片制造中的硅片表面细抛光与最终抛光加工工艺介绍

硅片表面细抛光作为实现超精密加工的关键工序,其核心在于通过精准调控抛光布材质、抛光液成分及工艺参数,....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-01 16:17 212次阅读
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集成电路制造中多晶硅栅刻蚀工艺介绍

在集成电路制造中,栅极线宽通常被用作技术节点的定义标准,线宽越小,单位面积内可容纳的晶体管数量越多,....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-01 16:15 1531次阅读
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芯片制造中硅片表面的粗抛光加工工艺介绍

硅片表面无蜡贴片单面抛光作为半导体制造中实现高洁净度表面的关键工艺,其核心在于通过真空吸附或水表面张....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-31 14:56 1458次阅读
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浅谈FinFET技术的深度演进

FinFET(鳍式场效应晶体管)自 2011 年由 Intel 商业化以来,统治了半导体先进制程超过....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-31 14:55 745次阅读
浅谈FinFET技术的深度演进

半导体先进封装和传统封装的本质区别

半导体先进封装,本质上是把“封装”从芯片的保护外壳,升级成系统性能的一部分。
的头像 中科院半导体所 发表于 03-31 10:04 2014次阅读
半导体先进封装和传统封装的本质区别

芯片制造中硅片的表面抛光加工工艺介绍

硅片表面抛光作为半导体制造中实现超光滑、无损伤表面的核心工艺,其核心目标在于通过系统性化学机械抛光(....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-30 10:28 1854次阅读
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晶体管中界面层的作用和重要性

在芯片制造的宏大叙事中,人们常常津津乐道于光刻机如何雕刻纳米级线条,刻蚀机如何打通层层叠叠的沟槽。但....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-27 15:35 316次阅读
晶体管中界面层的作用和重要性

半导体刻蚀技术如何推动行业革新

首先,让我们回顾一下刻蚀技术的基础。刻蚀工艺在半导体制造中扮演着至关重要的角色。它的主要任务是将预先....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-25 14:48 1613次阅读
半导体刻蚀技术如何推动行业革新