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中科院半导体所

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半导体制造中晶圆清洗设备介绍

在半导体制造过程中,晶圆清洗是一道至关重要的工序。晶圆经切割后,表面常附着大量由聚合物、光致抗蚀剂及....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-27 11:02 857次阅读
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深度解读晶体管的转移特性曲线

本文介绍了晶体管转移特性曲线及其核心参数的意义。曲线描述了栅压控制漏极电流的过程,涵盖关断、亚阈值与....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-26 17:33 5990次阅读
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半导体芯片键合技术概述

键合是芯片贴装后,将半导体芯片与其封装外壳、基板或中介层进行电气连接的工艺。它实现了芯片与外部世界之....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-20 15:36 893次阅读
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浅谈三维原子探针的跨领域应用

原子探针断层扫描(APT,也叫三维原子探针)是一种三维分析技术,能看清原子级的成分分布,空间分辨率达....
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芯片可靠性面临哪些挑战

芯片可靠性是一门研究芯片如何在规定的时间和环境条件下保持正常功能的科学。它关注的核心不是芯片能否工作....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-20 15:32 536次阅读
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功率MOSFET器件的单脉冲雪崩能量参数解读

在功率MOSFET器件的设计与选型中,单脉冲雪崩能量(Single Pulse Avalanche ....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-20 15:28 5192次阅读
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MIT团队提出一种垂直集成的BEOL堆叠架构

近期发现,通过在传统CMOS芯片的后端工艺(BEOL)层添加额外的有源器件层,可将原本仅用于布线的区....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-16 12:59 895次阅读
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详解芯片制造中的金属中间层键合技术

金属中间层键合技术涵盖金属热压键合、金属共晶键合、焊料键合及瞬态液相(transient liqui....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-16 12:55 665次阅读
详解芯片制造中的金属中间层键合技术

详解芯片制造中的中间层键合技术

依据中间层所采用的材料不同,中间层键合可划分为黏合剂键合与金属中间层键合两大类,下文将分别对其进行详....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-16 12:54 1528次阅读
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一文解读微机电系统的基础知识

微机电系统(MEMS,Micro-electro-mechanical System,亦称微系统),....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-14 14:08 680次阅读
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阳极键合工艺的基本原理和关键参数

直接键合方式具备较高的对准精度与稳固的键合强度,能满足高端器件的封装需求,但该技术对晶圆表面的平整度....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-14 14:04 1009次阅读
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晶体管输出特性曲线的构成与核心区域

晶体管的输出特性曲线是半导体器件物理与芯片电路设计之间最关键的桥梁。这张图表描绘了在固定栅极电压下,....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-12 10:51 889次阅读
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超结MOSFET的基本结构与工作原理

超结MOSFET(Super-Junction MOSFET,简称SJ-MOS)是一种在高压功率半导....
的头像 中科院半导体所 发表于 01-04 15:01 2873次阅读
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简单认识3D SOI集成电路技术

在半导体技术迈向“后摩尔时代”的进程中,3D集成电路(3D IC)凭借垂直堆叠架构突破平面缩放限制,....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-26 15:22 929次阅读
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SOI晶圆片的结构特性及表征技术

SOI晶圆片结构特性由硅层厚度、BOX层厚度、Si-SiO₂界面状态及薄膜缺陷与应力分布共同决定,其....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-26 15:21 787次阅读
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Salicide自对准硅化物工艺的定义和制造流程

Salicide(Self-Aligned Silicide,自对准硅化物)是一种通过选择性金属沉积....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-26 15:18 1616次阅读
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漏致势垒降低效应如何影响晶体管性能

随着智能手机、电脑等电子设备不断追求轻薄化,芯片中的晶体管尺寸已缩小至纳米级(如3nm、2nm)。但....
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浅谈SOI晶圆制造技术的四大成熟工艺体系

SOI晶圆片制造技术作为半导体领域的核心分支,历经五十年技术沉淀与产业迭代,已形成以SIMOX、BS....
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集成电路版图设计的核心组成与关键步骤

在集成电路设计中,版图(Layout)是芯片设计的核心环节之一,指芯片电路的物理实现图。它描述了电路....
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DRAM组织结构和读取原理介绍

DRAM 被组织成层次化的阵列,总共由数十亿个 DRAM 单元组成,每个单元存储一位数据。
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不同维度下半导体集成电路的分类体系

半导体集成电路的分类体系基于集成度、功能特性、器件结构及应用场景等多维度构建,历经数十年发展已形成多....
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半导体的能带结构与核心掺杂工艺详解

本文将聚焦半导体的能带结构、核心掺杂工艺,以及半导体二极管的工作原理——这些是理解复杂半导体器件的基....
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半导体封装框架的外部结构设计

封装框架的外部结构设计,核心包含联筋(Dambar)与假脚(False leads)两大关键部分,以....
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集成电路制造中Bosch工艺的关键作用和流程步骤

Bosch工艺,又称交替侧壁钝化深层硅蚀刻工艺,是一种在半导体制造中用于刻蚀硅片上特定材料层的先进技....
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射频电路中Ft和Fmax的概念和建模方法

Ft(电流增益截止频率) 和 Fmax(最高振荡频率) 是两个关键的频率品质因数,用于衡量晶体管处理....
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详解NMOS晶体管的工作过程

在每一颗芯片的内部,数十亿个晶体管如同高速开合的微型水闸,构成数字世界的最小逻辑单元。以NMOS为例....
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浅谈芯片验证方法的演进过程

回溯 20 世纪 90 年代,当时行业内接触的芯片主要包括 Z80、8031、8080/8086 等....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-10 15:14 768次阅读
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运算放大器的核心组成与典型结构

运算放大器是模拟电路与混合信号电路的核心基础模块,其性能直接决定电子系统的信号处理精度与稳定性。掌握....
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晶圆接受测试的具体内容与重要作用

在智能手机、电脑和自动驾驶汽车等高科技产品的背后,隐藏着一项至关重要的半导体制造技术——晶圆接受测试....
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功函数在芯片制造中的核心作用

在我们手中的智能手机和电脑核心,躺着一块精密的芯片。芯片的核心,是数十亿个名为“晶体管”的微观开关。....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-03 16:58 1222次阅读
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