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中科院半导体所

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晶圆接受测试的具体内容与重要作用

在智能手机、电脑和自动驾驶汽车等高科技产品的背后,隐藏着一项至关重要的半导体制造技术——晶圆接受测试....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-10 15:08 1294次阅读
晶圆接受测试的具体内容与重要作用

功函数在芯片制造中的核心作用

在我们手中的智能手机和电脑核心,躺着一块精密的芯片。芯片的核心,是数十亿个名为“晶体管”的微观开关。....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-03 16:58 1222次阅读
功函数在芯片制造中的核心作用

芯片制造检验工艺中的全数检查

在IC芯片制造的检验工艺中,全数检查原则贯穿于关键工序的缺陷筛查,而老化测试作为可靠性验证的核心手段....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-03 16:55 998次阅读
芯片制造检验工艺中的全数检查

半导体制造中的多层芯片封装技术

在半导体封装领域,已知合格芯片(KGD)作为多层芯片封装(MCP)的核心支撑单元,其价值在于通过封装....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-03 16:51 2374次阅读
半导体制造中的多层芯片封装技术

热压键合工艺的技术原理和流程详解

热压键合(Thermal Compression Bonding,TCB)是一种先进的半导体封装工艺....
的头像 中科院半导体所 发表于 12-03 16:46 3215次阅读
热压键合工艺的技术原理和流程详解

如何理解MOSFET器件沟道电荷分配原则

在模拟集成电路设计中,精确的MOSFET模型是确保电路性能预测准确性的基石。而沟道电荷分配原则,正是....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-19 15:34 6550次阅读
如何理解MOSFET器件沟道电荷分配原则

离子注入工艺中的常见问题及解决方案

在集成电路制造的离子注入工艺中,完成离子注入与退火处理后,需对注入结果进行严格的质量检查,以确保掺杂....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-17 15:33 1567次阅读
离子注入工艺中的常见问题及解决方案

金属淀积工艺的核心类型与技术原理

在集成电路制造中,金属淀积工艺是形成导电结构(如互连线、栅电极、接触塞)的关键环节,主要包括蒸发、溅....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-13 15:37 2339次阅读
金属淀积工艺的核心类型与技术原理

PN结的形成机制和偏置特性

PN 结是构成二极管、双极型晶体管、MOS 晶体管等各类半导体器件的核心结构,其本质是 p 型半导体....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-11 13:59 2478次阅读
PN结的形成机制和偏置特性

化学气相淀积工艺的常见类型和技术原理

APCVD 的反应腔结构如图所示,系统通过专用传送装置实现硅片的自动化运送,反应气体从反应腔中部区域....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-11 13:53 2877次阅读
化学气相淀积工艺的常见类型和技术原理

化学气相淀积工艺的核心特性和系统分类

化学气相淀积(CVD)是借助混合气体发生化学反应,在硅片表面沉积一层固体薄膜的核心工艺。在集成电路制....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-11 13:50 2221次阅读
化学气相淀积工艺的核心特性和系统分类

详解半导体制造中的回流技术

玻璃回流(reflow)技术是通过升温加热杂氧化硅,使其产生流动特性的工艺,常见的回流处理对象包含硼....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-07 15:21 2075次阅读
详解半导体制造中的回流技术

半导体中的合金制备技术详解

合金本质是金属与其他金属或非金属经混合熔化、冷却凝固后形成的具有金属性质的固体产物,而在集成电路工艺....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-05 17:08 1681次阅读
半导体中的合金制备技术详解

什么是晶圆切割与框架内贴片

在半导体制造的精密工艺链条中,芯片切割作为晶圆级封装的关键环节,其技术演进与设备精度直接关系到芯片良....
的头像 中科院半导体所 发表于 11-05 17:06 2197次阅读
什么是晶圆切割与框架内贴片

芯片制造过程中的布线技术

从铝到铜,再到钌与铑,半导体布线技术的每一次革新,都是芯片性能跃升的关键引擎。随着制程进入2nm时代....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-29 14:27 1020次阅读
芯片制造过程中的布线技术

晶圆制造过程中的掺杂技术

在超高纯度晶圆制造过程中,尽管晶圆本身需达到11个9(99.999999999%)以上的纯度标准以维....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-29 14:21 1232次阅读
晶圆制造过程中的掺杂技术

集成电路芯片制备中的光刻和刻蚀技术

光刻与刻蚀是纳米级图形转移的两大核心工艺,其分辨率、精度与一致性共同决定器件性能与良率上限。
的头像 中科院半导体所 发表于 10-24 13:49 2421次阅读
集成电路芯片制备中的光刻和刻蚀技术

PECVD的基本定义和主要作用

PECVD( Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition ,....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-23 18:00 3713次阅读
PECVD的基本定义和主要作用

三维集成电路与晶圆级3D集成介绍

微电子技术的演进始终围绕微型化、高效性、集成度与低成本四大核心驱动力展开,封装技术亦随之从传统TSO....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:38 2217次阅读
三维集成电路与晶圆级3D集成介绍

芯片键合工艺技术介绍

在半导体封装工艺中,芯片键合(Die Bonding)是指将晶圆芯片固定到封装基板上的关键步骤。键合....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:36 3058次阅读
芯片键合工艺技术介绍

SOI工艺技术介绍

在半导体行业持续追求更高性能、更低功耗的今天,一种名为“SOI(Silicon-On-Insulat....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:34 2621次阅读
SOI工艺技术介绍

CMOS集成电路中闩锁效应的产生与防护

闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一种危险的寄生效应,可能导致芯片瞬间失效甚至永久烧毁....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:30 2925次阅读
CMOS集成电路中闩锁效应的产生与防护

浅谈三维集成封装技术的演进

在半导体封装领域,堆叠技术作为推动高集成度与小型化的核心趋势,正通过垂直堆叠芯片或封装实现更紧凑的封....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:29 5292次阅读
浅谈三维集成封装技术的演进

热载流子注入效应对芯片有什么危害

热载流子注入效应(Hot Carrier Inject, HCI)是半导体器件(如晶体管)工作时,高....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:27 1566次阅读
热载流子注入效应对芯片有什么危害

功率半导体晶圆级封装的发展趋势

在功率半导体封装领域,晶圆级芯片规模封装技术正引领着分立功率器件向更高集成度、更低损耗及更优热性能方....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-21 17:24 4446次阅读
功率半导体晶圆级封装的发展趋势

集成电路制造中薄膜刻蚀的概念和工艺流程

薄膜刻蚀与薄膜淀积是集成电路制造中功能相反的核心工艺:若将薄膜淀积视为 “加法工艺”(通过材料堆积形....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-16 16:25 3677次阅读
集成电路制造中薄膜刻蚀的概念和工艺流程

3D封装架构的分类和定义

3D封装架构主要分为芯片对芯片集成、封装对封装集成和异构集成三大类,分别采用TSV、TCB和混合键合....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-16 16:23 2124次阅读
3D封装架构的分类和定义

浅谈SPICE模型参数自动化提取

在过去的几十年里,半导体器件紧凑型模型已经从 BJT Gummel-Poon 模型中的几个参数发展到....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-16 16:21 1562次阅读

详解芯片制造中的可测性设计

然而,随着纳米技术的出现,芯片制造过程越来越复杂,晶体管密度增加,导致导线短路或断路的概率增大,芯片....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-16 16:19 2980次阅读
详解芯片制造中的可测性设计

硅通孔电镀材料在先进封装中的应用

硅通孔(TSV)技术借助硅晶圆内部的垂直金属通孔,达成芯片间的直接电互连。相较于传统引线键合等互连方....
的头像 中科院半导体所 发表于 10-14 08:30 7115次阅读
硅通孔电镀材料在先进封装中的应用