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中科院半导体所

文章:1539 被阅读:623.4w 粉丝数:327 关注数:0 点赞数:51

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影响晶体管饱和电流的各项因素

在芯片性能的比拼中,有一个参数几乎成了晶体管速度的代名词——饱和电流(IdSAT)。它衡量的是晶体管....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-21 10:24 105次阅读
影响晶体管饱和电流的各项因素

浅谈芯片设计中的标准单元

在数字芯片设计领域,标准单元(Standard Cell)是构成复杂芯片功能的基础构件。它是指经过预....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-21 10:23 100次阅读

ESD防护设计的核心准则

在集成电路(IC)的设计、制造、封装、测试及应用全流程中,静电放电(ESD)是最常见且破坏性极强的隐....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-20 17:31 584次阅读
ESD防护设计的核心准则

3D NAND中的Channel Hole工艺介绍

Channel Hole(沟道通孔)是3D NAND闪存制造中的核心工艺步骤。它是指在垂直堆叠的多层....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 11:43 215次阅读
3D NAND中的Channel Hole工艺介绍

集成电路制造工艺中的COAG技术介绍

在半导体先进制程的跨代演进中,我们往往将目光聚焦于光刻机(EUV)的波长抑或是晶体管架构(从Plan....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 11:41 202次阅读
集成电路制造工艺中的COAG技术介绍

GAAFET全环绕栅极晶体管制造流程图解

本文图解介绍了GAAFET(Gate-All-Around FET)的制造流程。
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 09:25 474次阅读
GAAFET全环绕栅极晶体管制造流程图解

2.5DIC集成在宽I/O接口领域的实际应用

2.5DIC集成在宽I/O接口领域有着重要的实际应用,其核心结构由一块采用TSV(硅通孔)技术的无源....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 09:22 874次阅读
2.5DIC集成在宽I/O接口领域的实际应用

高温工作寿命测试的失效机制与结果判断

高温工作寿命测试(High Temperature Operating Life,简称HTOL)是评....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-14 09:19 577次阅读
高温工作寿命测试的失效机制与结果判断

抬升源漏技术如何拯救纳米尺度晶体管

在芯片尺寸持续缩小的竞赛中,晶体管工程师们遇到了一道难以逾越的鸿沟:源漏区越做越浅,接触电阻却越来越....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-10 17:08 698次阅读
抬升源漏技术如何拯救纳米尺度晶体管

一文详解器件级立体封装技术

2D、2.5D和3D立体封装技术已广泛应用于倒装芯片和晶圆级封装工艺中,成为后摩尔时代芯片性能提升的....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-10 17:06 1374次阅读
一文详解器件级立体封装技术

扇出型晶圆级封装技术介绍

本文主要介绍扇出型(先上晶芯片面朝下)晶圆级封装(FOWLP)。首个关于扇出型晶圆级封装(FOWLP....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-10 09:58 883次阅读
扇出型晶圆级封装技术介绍

半导体制造中的侧墙工艺介绍

侧墙工艺是半导体制造中形成LDD结构的关键,能有效抑制热载流子效应。本文从干法刻蚀原理出发,深度解析....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-09 10:23 295次阅读
半导体制造中的侧墙工艺介绍

无源TSV转接板的制作方法

无源TSV转接板作为先进封装的“交通枢纽”,是实现高密度异构集成的核心。本文深度解析TSV高深宽比刻....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-09 10:20 196次阅读
无源TSV转接板的制作方法

现代微电子器件封装技术的发展历程和基本类型

在现代微电子技术体系中,微电子器件封装技术已演变为连接芯片设计与系统应用的桥梁性学科,其战略地位随A....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-03 14:11 1384次阅读
现代微电子器件封装技术的发展历程和基本类型

芯片制造中的硅片表面细抛光与最终抛光加工工艺介绍

硅片表面细抛光作为实现超精密加工的关键工序,其核心在于通过精准调控抛光布材质、抛光液成分及工艺参数,....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-01 16:17 181次阅读
芯片制造中的硅片表面细抛光与最终抛光加工工艺介绍

集成电路制造中多晶硅栅刻蚀工艺介绍

在集成电路制造中,栅极线宽通常被用作技术节点的定义标准,线宽越小,单位面积内可容纳的晶体管数量越多,....
的头像 中科院半导体所 发表于 04-01 16:15 1203次阅读
集成电路制造中多晶硅栅刻蚀工艺介绍

芯片制造中硅片表面的粗抛光加工工艺介绍

硅片表面无蜡贴片单面抛光作为半导体制造中实现高洁净度表面的关键工艺,其核心在于通过真空吸附或水表面张....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-31 14:56 1207次阅读
芯片制造中硅片表面的粗抛光加工工艺介绍

浅谈FinFET技术的深度演进

FinFET(鳍式场效应晶体管)自 2011 年由 Intel 商业化以来,统治了半导体先进制程超过....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-31 14:55 706次阅读
浅谈FinFET技术的深度演进

半导体先进封装和传统封装的本质区别

半导体先进封装,本质上是把“封装”从芯片的保护外壳,升级成系统性能的一部分。
的头像 中科院半导体所 发表于 03-31 10:04 1747次阅读
半导体先进封装和传统封装的本质区别

芯片制造中硅片的表面抛光加工工艺介绍

硅片表面抛光作为半导体制造中实现超光滑、无损伤表面的核心工艺,其核心目标在于通过系统性化学机械抛光(....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-30 10:28 1613次阅读
芯片制造中硅片的表面抛光加工工艺介绍

晶体管中界面层的作用和重要性

在芯片制造的宏大叙事中,人们常常津津乐道于光刻机如何雕刻纳米级线条,刻蚀机如何打通层层叠叠的沟槽。但....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-27 15:35 302次阅读
晶体管中界面层的作用和重要性

半导体刻蚀技术如何推动行业革新

首先,让我们回顾一下刻蚀技术的基础。刻蚀工艺在半导体制造中扮演着至关重要的角色。它的主要任务是将预先....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-25 14:48 1517次阅读
半导体刻蚀技术如何推动行业革新

芯片制造中的硅片倒角加工工艺介绍

硅片倒角加工是半导体硅片制造中保障边缘质量与可靠性的关键工序,其核心目标在于消除切割后边缘产生的棱角....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-25 14:46 1293次阅读
芯片制造中的硅片倒角加工工艺介绍

新型HERB技术如何重塑芯片蚀刻工艺

在芯片制造的精密世界中,蚀刻工艺是决定电路精度和性能的关键步骤。近年来,离子传输技术的突破正在悄然改....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 16:50 176次阅读
新型HERB技术如何重塑芯片蚀刻工艺

集成电路制造中的前道、中道和后道工艺介绍

集成电路的制造,堪称现代工业体系中最复杂精密的系统工程之一。一片硅晶圆从进入晶圆厂到最终完成电路结构....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 16:47 289次阅读
集成电路制造中的前道、中道和后道工艺介绍

芯片制造中硅片的表面处理工艺介绍

硅片表面热处理作为半导体制造中调控材料特性、消除加工应力的核心工序,其技术演进紧密围绕IC工艺微细化....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 16:45 232次阅读
芯片制造中硅片的表面处理工艺介绍

芯片制造中的硅片双面研磨与表面磨削工艺

硅片双面研磨与表面磨削作为去除切割损伤层、提升表面平坦度的核心工序,其工艺选择与参数控制直接决定硅片....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 09:44 227次阅读
芯片制造中的硅片双面研磨与表面磨削工艺

器件工艺协同优化中加速版图设计的三种方法

器件工艺协同优化(DTCO)流程需要生成海量版图。本文将介绍几种借助自动化手段,加速这一耗时流程的实....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 09:41 199次阅读
器件工艺协同优化中加速版图设计的三种方法

半导体芯片封装中引线框架的概念和工艺

在半导体芯片的制造流程中,封装是将微小的裸芯片与外部电路系统连接起来的关键环节。引线框架(Leadf....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 09:40 363次阅读

芯片制造中硅切片工艺的切割方式和加工流程

硅切片作为半导体硅片制造的核心环节,其加工精度与效率直接影响后续研磨、腐蚀、抛光等工序的质量及最终芯....
的头像 中科院半导体所 发表于 03-24 09:31 313次阅读
芯片制造中硅切片工艺的切割方式和加工流程