采用碳热还原法制备不同配比的CuNiC合金，结合Xfilm埃利的四探针电阻测试技术，系统研究其导电性能与微观结构的关系，以拓展其在功能性电子材料中的应用。四探针电
2026-01-04 18:04:31
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铜材料，利用组分协同效应赋予其优于单一金属的独特性能。本研究聚焦CuC合金，采用碳热还原法合成，借助Xfilm埃利的四探针技术系统测试导电性能，为开发高性能低成本铜
2025-12-25 18:05:0368 
薄膜电阻率是材料电学性能的关键参数，对其准确测量在半导体、光电及新能源等领域至关重要。在众多测量技术中，四探针法因其卓越的精确性与适用性，已成为薄膜电阻率测量中广泛应用的标准方法之一。下文
2025-12-18 18:06:01154 ）与待测芯片（DUT）的物理 “神经中枢”，ATE 测试板（涵盖负载板、探针卡 PCB 等核心品类）的性能表现，直接左右着测试数据的真伪、测试效率的高低，更深刻影响着芯片的最终量产良率。它早已超越传统
2025-12-15 15:09:09
ATE的探针卡，在晶圆测试中被称为定海神针，有着不可替代价值，那么在设计和生产阶段有哪些注意事项，点开今天的文章，有你需要的答案。
2025-12-15 15:07:36228 
系统梳理二者的差异，为科研与工业领域的相关工作者提供清晰的参考。#Photonixbay.成像原理与光学路径共聚焦原理示意图传统显微镜：主要基于透射或反射光学原理。
2025-12-11 18:02:081080 工业镜头作为机器视觉系统中的核心组件，在自动化生产、质量检测和精密测量等领域发挥着关键作用。其中，“工作距离”（WorkingDistance，简称WD）是一个至关重要的参数，它直接影响系统
2025-12-06 16:46:35374 
四探针法是广泛应用于半导体材料、薄膜、导电涂层及块体材料电阻率测量的重要技术。该方法以其无需校准、测量结果准确、对样品形状适应性强等特点，在科研与工业检测中备受青睐。在许多标准电阻率测定场合，四探针
2025-12-04 18:08:42692 自石墨烯在实验室中被成功分离以来，其基础研究与工业应用迅速发展。亟需建立其关键控制特性的标准测量方法。国际电工委员会发布的IECTS62607-6-8:2023技术规范，确立了使用四点探针法评估
2025-11-27 18:04:50164 导电畴壁（DWs）是新型电子器件的关键候选结构，但其纳米尺度与宿主材料高电阻特性导致电学表征困难。Xfilm埃利四探针方阻仪可助力其电阻精确测量，本文以四探针测量技术为核心，采用亚微米级多点探针
2025-11-20 18:03:34240 CW32通用型MCU工作电压是1.65V~5.5V，射频MCU工作电压则是1.8V/2.2V~3.6V；通用型CW32F系列MCU，比如：CW32F030、CW32F020、CW32F003
2025-11-12 06:49:16
随着电子器件尺寸持续缩小，热管理问题日益突出。热电材料的三项关键参数——电导率（σ）、热导率（κ）和塞贝克系数（α），共同决定了器件的热电优值（ZT），进而影响其能效与可靠性。四探针技术因其高空
2025-11-06 18:04:29235 太阳能IV曲线测试仪：光伏检测的“性能探针”柏峰【BF-CV1500】太阳能IV曲线测试仪是专为光伏组件及系统性能检测设计的专业设备，以“精准采集+深度分析”为核心优势，
2025-11-06 13:29:03255 
在微观尺度下，每一次纳米级的移动，都可能牵动着一次技术突破。无论是修复微小的LED芯片，还是操控探针进行纳米级的定位，都需要一套能于方寸之间施展精准控制的运动系统。芯明天N11系列压电马达位移台
2025-11-06 10:36:49254 
Flexfilm探针式台阶仪作为表面形貌测量的精密仪器，能够依据最新的ISO21920系列标准实现表面微观特征的精准表征与关键参数的定量测量。该设备通过高精度探针扫描技术，可精确测定样品的表面台阶
2025-11-05 18:02:19888 
在工业表面纹理测量领域，触针式轮廓仪仍是最常用的测量工具。为确保测量结果的准确性，需要定期使用ISO5436-1标准定义的材料测具进行校准。这些校准过程涉及探针与材料测具之间的机械接触，在重复测量中
2025-10-31 18:12:53461 在有机单晶电学性能表征领域，四探针测量技术因能有效规避接触电阻干扰、精准捕捉材料本征电学特性而成为关键方法，Xfilm埃利四探针方阻仪作为该领域常用的专业测量设备，可为相关研究提供可靠的基础检测支持
2025-10-30 18:05:14243 应用的关键。Xfilm埃利四探针方阻仪作为高精度电学测量设备，在该领域展现出重要的技术价值。微四探针（M4PP）凭借高精度、高空间分辨率及支持霍尔效应测量的优势，成为石墨
2025-10-16 18:03:30265 在半导体行业的精密世界里，精准测试如同工匠手中的精准刻刀，是雕琢出高性能芯片的关键。北京季峰作为国内领先的芯片检测技术第三方，其探针台（manual Prober）和B1500A半导体参数分析仪备受
2025-10-13 15:26:46862 
一、引言
在高端半导体测试设备领域，东京精密 TOKYO SEIMITSU Vega 系列的 Vega Planet 探针台以其全方位的性能表现，成为复杂测试场景的核心设备。海翔科技提供的二手
2025-10-11 11:50:25328 
钛基金属复合材料因其优异的力学性能、轻质高强、耐高温和耐磨性，在航空航天领域具有广阔的应用前景。与纯金属不同，Ti基复合材料的电导率受微观结构、制备工艺及几何形态影响显著。Xfilm埃利四探针通过
2025-10-09 18:05:18461 Xfilm埃利的四探针方阻仪，系统分析了铜/FR4复合材料在不同振动周期和温度下的电阻率和电导率变化。实验方法与理论模型/Xfilm实验方法：实验样品：单层铜薄膜（厚
2025-09-29 13:47:00390 四探针法（4PP）作为一种非破坏性评估技术，广泛应用于半导体和导电材料的电阻率和电导率测量。其非破坏性特点使其适用于从宏观到纳米尺度的多种材料。然而，传统解析模型在校正因子的计算中存在近似误差
2025-09-29 13:46:07977 接触电阻率（ρc）是评估两种材料接触性能的关键参数。传统的传输长度法（TLM）等方法在提取金属电极与c-Si基底之间的ρc时需要较多的制造和测量步骤。而四探针法因其相对简单的操作流程而备受关注，但其
2025-09-29 13:45:33577 技术支持：4009926602超导薄膜的微观不均匀性（颗粒度）是影响其宏观性能的关键因素。在接近临界温度（T ᶜ）时，传统四探针法常观测到异常电阻峰，这一现象长期被误认为材料本征特性。然而，研究表明
2025-09-29 13:45:23413 性能。传统两端子测量方法因接触电阻难以控制或减小，导致系统误差不可忽视。本文提出一种四探针改进的四端子方法，通过多次电阻测量和简单代数计算并结合Xfilm埃利四探
2025-09-29 13:44:52794 ）成像的非接触式测量技术，通过分离Remitter与体电阻（Rbulk），实现高精度、无损检测。实验验证表明，该方法与基于四点探针法（4pp）的Xfilm埃利在线四探
2025-09-29 13:44:42354 平板显示（FPD）制造过程中，薄膜厚度的实时管理是确保产品质量的关键因素。传统方法如机械触针法、显微法和光学法存在破坏样品、速度慢、成本高或局限于特定材料等问题。本研究开发了一种基于四探针法的导电
2025-09-29 13:43:36642 SnO₂:F薄膜作为重要透明导电氧化物材料，广泛用于太阳能电池、触摸屏等电子器件，其表面电阻特性直接影响器件性能。本研究以射频（RF）溅射技术制备的SnO₂:F薄膜为研究对象，通过铝PAD法与四探针
2025-09-29 13:43:26654 随着5G通信技术的快速发展，高阻绝缘体上硅在微波与毫米波器件、探测器等领域的应用需求激增。然而，高阻硅片电阻率的快速准确测量仍面临技术挑战。四点探针法（4PP）因其高精度、宽量程等特点被视为优选方法
2025-09-29 13:03:53536 确保测量的一致性与可重复性。为此，国际电工委员会（IEC）发布了IECTS62607-6-7（范德堡法）和IECTS62607-6-8（在线四探针法），旨在规范大面积
2025-09-29 13:03:33727 一、引言 在半导体测试设备市场中，东京精密 TOKYO SEIMITSU UF 系列的 UF2000 探针台以其稳定的性能和广泛的适用性，成为中小规模测试场景的优选设备。海翔科技提供的二手
2025-09-13 11:05:321130 一、引言
碳化硅（SiC）作为宽禁带半导体材料，在功率器件、射频器件等领域应用广泛。总厚度偏差（TTV）是衡量碳化硅衬底质量的关键指标，准确测量 TTV 对保障器件性能至关重要。目前，探针式和非接触
2025-09-10 10:26:371011 
探针与LVDC传感器的协同工作，结合亚埃级分辨率（5 Å）与智能化分析软件，可精准测量台阶高度（纳米至1050μm）、表面粗糙度（Ra、Rz等参数）、膜层厚度及应
2025-08-26 14:19:50
本文围绕探针式碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪，系统阐述其操作规范与实用技巧，通过规范测量流程、分享操作要点，旨在提高测量准确性与效率，为半导体制造过程中碳化硅衬底 TTV 测量提供标准化操作指导
2025-08-23 16:22:401082 半导体激光阵列LDA芯片作为大功率半导体激光器的核心部件，其封装质量直接决定了半导体激光器的可靠性。本文采用Flexfilm探针式台阶仪结合探针扫描法测量Smile效应，能够对LDA芯片批量化封装
2025-08-20 18:02:281525 摘要
本文围绕探针式碳化硅衬底 TTV 厚度测量仪，系统阐述其操作规范与实用技巧，通过规范测量流程、分享操作要点，旨在提高测量准确性与效率，为半导体制造过程中碳化硅衬底 TTV 测量提供标准化操作
2025-08-20 12:01:02551 要求也逐渐提升，如何准确快速的完成射频芯片的批量测试则成了众多射频芯片企业面临的难题。 射频晶圆芯片测试 为了满足射频芯片的大批量快速测试，采用自动化平台配合矢量网络分析和探针台是大多数射频芯片企业的选择
2025-07-24 11:24:54542 
背景介绍： 北京某公司是一家专注于高性能SAW滤波器和双工器等系列射频前端芯片的研发设计、生产和销售的企业。企业在测试其晶圆芯片产品时，由于原有测试系统无法控制探针台，导致测试工作难以完成，因此急需
2025-07-23 15:55:14590 
低温薄膜电阻器作为超导集成电路的核心元件，其核心挑战在于实现超导材料NbN与金属电阻层Mo间的低接触电阻（R₀）。本文使用四探针法研究钼（Mo）为电阻材料，利用其低电阻率和优异工艺重复性，通过NbN
2025-07-22 09:52:42502 薄层电阻（SheetResistance,Rs）是表征导电薄膜性能的关键参数，直接影响柔性电子、透明电极及半导体器件的性能。四探针法以其高精度和可靠性成为标准测量技术，尤其适用于纳米级薄膜表征。本文
2025-07-22 09:52:041007 在半导体芯片的制造流程中，探针可以对芯片进行性能检验；在新材料研发的实验室中，探针与样品表面的纳米级接触，解锁材料的电学、光学特性；在生物研究室中，探针正在以极快且细微的运动对细胞进行穿透。这些精密
2025-07-10 08:49:29631 
高压大流器件,IGBT器件,晶圆,KGD测试
2025-06-27 18:04:54450 
探针卡, WAT,PCM测试
2025-06-26 19:23:17673 NS系列国产探针式台阶仪线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。通过2μm金刚石探针
2025-06-23 10:53:09
计量行业有四手 “生手，新手，熟手，老手” 作为测量生手，你是否常常因为不知道如何使用探针附件而自己盲目试验？ 作为测量新手，你是否常常因为记不住软硬件操作而对计量工作无从下手？ 作为测量老手，您是
2025-06-20 13:40:421125 
NS系列探针式轮廓仪台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度
2025-06-18 15:44:11
为满足客户对低温测试的要求，季丰电子成功自研了低高温手动探针台，目前已在季丰张江FA投入使用，该机台填补了传统常规型手动探针台无法实现低温测试环境的空白。
2025-06-05 13:38:04784
纯分享帖，需要者可点击附件免费获取完整资料~~~*附件：电机云母槽自动下刻机双探针接触式检测系统设计.pdf【免责声明】本文系网络转载，版权归原作者所有。本文所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题，请第一时间告知，删除内容！
2025-05-26 02:16:37
我司主要负责如下产品开发和设计,东莞中探探针有限公司及中探探针（福建）有限公司均为连接器开发服务.同时可联系我进行产品开发.
东莞中探探针有限公司
中探探针（福建）有限公司
市场部: 技术
2025-05-22 15:00:25496 路电源。当FPGA不工作，CYUSB3014会工作正常；当FPGA上电工作，CYUSB3014工作异常（驱动会找不到）。
测试如下：
把CYUSB3014断开电源，把3.3V_USB接上示波器，发现
2025-05-20 06:48:13
上搞开发。
近期使用AC6903B4做了一个电压探针，可以TFT显示，希望可以语音播报数值。
# 基于杰理AC690n的Midi音乐测试
项目是开源的，有兴趣的朋友一起来玩。
还有其他有用的链接
2025-05-13 17:00:33
探针和探针卡是半导体制造中晶圆测试环节的关键组件，可以筛选不良芯片，避免无效封装、降低成本，是半导体测试的“质量守门员”，技术壁垒高且国产化空间大。国内企业在中低端市场已实现突破，但高端领域仍需攻克
2025-05-08 18:14:211310 
PGal 探针插头连接器的工作核心在于利用顶针内部弹簧的压缩与回弹机制，动态调整连接器的工作高度。这一设计不仅增强了连接器触点的接触压力，确保电气连接的稳固性，还可有效抵御因振动、冲击导致的接触不良或断路风险，保障了信号传输的连续性和可靠性。
2025-05-08 16:38:43434 ，BGA 后出现 QFN 等新封装，通信模块常集成在小型电路板上，成品厂将其作为 SMT 部件焊到主电路板。 传统 ICT 用尖头探针接触圆形测试点形成回路，测试点需占大面积，对定位精度要求高且占用大量空间。珠子探针技术则相反，通过在测试点印
2025-05-06 11:08:47509 NS系列高精度探针接触式台阶仪单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下
2025-04-25 16:12:49
微动开关的工作原理
2025-04-17 09:00:103081 本文详细介绍了如何在Keysight Infiniimax主动探针中应用偏移，以及如何将偏移用于各种应用场景。在主动探针或示波器前端应用偏移的主要目的是减去输入信号中的大部分或全部直流分量，从而使信号更好地利用输入的动态范围。
2025-04-15 16:04:17542 
中图仪器NS系列探针式薄膜厚度台阶仪是一款为高精度微观形貌测量设计的超精密接触式仪器，广泛应用于半导体、光伏、MEMS、光学加工等领域。通过2μm金刚石探针与LVDC传感器的协同工作，结合亚埃级
2025-04-15 10:47:00
在与客户的交流中发现，部分客户对某些测试在精度可满足实验需求的情况下，希望有更经济的解决方案。 为满足客户的这一需求，季丰电子开发了一款经济型精密探针座， MP-05探针座 。 应用场合 主要应用于
2025-04-09 18:36:31807 
我正在尝试使用 i.MXRT1176 跟踪引脚和 MIMXRT1170-EVK 板上的 J-Trace 探针来启用指令跟踪。
我已经安装了电阻器R1881， R1882， R1883， R1884
2025-04-07 06:21:47
代码直接从闪存运行，因此我不认为这是一个问题。
有人有其他的想法我可以尝试吗？我想改用 Segger 调试探针，但是如果我无法使其正常工作，我不想冒险购买一个。
2025-04-02 06:41:36
提供PCB行业飞针测试用探针，间距0.2mm，针尖直径0.03mm。频率0-67GHz。使用寿命10-30万次。
2025-03-28 12:04:251267 
一、引言 在多功能压力测量系统里，四探针电极以其独特测量原理，助力获取材料电学性能与压力的关联数据。它在材料科学、电子工程等领域应用广泛，有力推动了对材料在压力下电学行为的研究，成为现代材料性能研究
2025-03-27 14:04:49888 
客户在ubuntu 22.04上使用S32DS，并在连接调试探针时发现问题。这是屏幕截图。
通过 USB 连接似乎有问题。所以我的问题是
（1） 是不是连接 USB 有问题？如果是，如何解决这个问题？
(2)是否有通过以太网连接 Debug Probe 的动手教程？
2025-03-27 07:18:56
FAKRA连接器射频探针：高频测试解决方案，助力汽车智能化升级FAKRA连接器是一种专为汽车行业设计的超小型射频（RF）同轴连接器，由德国Rosenberger公司开发，并通过德国汽车制造商
2025-03-21 13:32:44
在炭黑生产与应用的各个环节，精准把控其性能至关重要，而炭黑电阻率是衡量质量与应用潜力的关键指标。两探针粉末电阻率测试仪凭借独特技术与高效检测能力，在炭黑测试中发挥着不可或缺的作用。 一、工作
2025-03-21 09:16:34825 
NS系列探针式接触台阶高度仪单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达
2025-03-20 16:00:59
•无需焊接或探针，即可轻松准确地测量宽禁带功率半导体裸片的动态特性 •是德科技夹具可在不损坏裸片的情况下实现快速、重复测试 •寄生功率回路电感小于10nH，实现干净的动态测试波形 是德科技（NYSE
2025-03-14 14:36:25738 hBN-Graphene-hBN是一种由六方氮化硼和石墨烯交替堆叠形成的范德华异质结结构。这种结构制备方法分为机械剥离法和化学气相沉淀法。其中化学气相沉淀法就需要高温和特定的环境。奕叶探针台高温系统
2025-03-12 14:41:391011 
您是否正面临以下测量挑战？手动清洁三坐标探针耗时耗力，影响生产进度？微小探针清洁困难，容易造成损坏，损失惨重？探针因积尘或静电干扰测量结果，缺乏有效解决方案？蔡司探针自动清洁装置将是您的理想选择
2025-03-06 14:59:00628 
您是否正面临以下测量挑战？ 手动清洁三坐标探针耗时耗力，影响生产进度？ 微小探针清洁困难，容易造成损坏，损失惨重？ 探针因积尘或静电干扰测量结果，缺乏有效解决方案？ 蔡司探针自动清洁装置将是您的理想
2025-03-05 14:59:25414 
NS系列高精度探针式台阶仪用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配
2025-03-03 15:05:30
您是否正面临以下测量挑战？手动清洁三坐标探针耗时耗力，影响生产进度？微小探针清洁困难，容易造成损坏，损失惨重？探针因积尘或静电干扰测量结果，缺乏有效解决方案？蔡司探针自动清洁装置将是您的理想选择
2025-02-28 17:07:521273 
我使用公式算出探针处电压7.3V，为何用仿真软件是-6V，那位大佬来解答下，万分感谢！
2025-02-19 11:50:38
致真精密仪器探针台系列产品介绍
2025-02-18 10:47:17882 
Enterprise 解决方案的一部分进行查看。探针并行运行，提供真正的性能可扩展性和一致的访问速度。部署的 Probe 数量没有限制。实时 Web 地图和实时监控可以从一个管理平台上的多个探针实时查看，从而
2025-02-14 17:08:43610 
充分利用HP&Dell工作站的ODD插槽位与PCIe扩展插槽位，提升系统存储空间新选择！现代的专业工作站旨在处理高强度的工作负载，但随着储存需求的增长，将储存空间进行升级已成为必然的任务之一
2025-02-14 15:38:091065 
RPA（Robotic Process Automation），机器人流程自动化，也称为软件机器人，使用自动化技术来模拟人类工作人员的后台任务，如提取数据、填写表格、移动文件等。它结合了 API
2025-02-08 09:22:231512 
NXCAD——数字化工作流程解决方案(CAD工作流程)使用西门子领先的产品设计软件NXCAD加速执行基于工作流程的解决方案。我们在了解行业需求方面累积了多年的经验，并据此针对各个行业的具体需求提供
2025-02-06 18:15:02833 
前言复合探针式影像测量仪龙门型造型设计，结构稳定，XY轴运动相互不干涉支持雷尼绍PH6+自动换针系统5环40项上灯+同轴光源Z轴可以加高到300mm一、产品描述1.产品特性复合探针式影像测量仪一款
2025-02-06 09:11:24
超级电容电池是一种介于传统电容器与电池之间的新型储能装置。其工作原理主要基于电荷分离和电场存储，以下是关于超级电容电池工作原理的详细解释：
2025-01-27 11:17:002247 )。 如下图所示，沿被测接地极E(或C 2 、P 2 )和电位探针P 1 及电流探针C 1 ，依直线彼此相距20m，使探针处于E、C中间位置，按要求将探针插入大地。用专用导线将接地电阻测试仪端子E(或C 2 、P 2 )、P 1 、C 1 与探针所在位置对应连接。 一、准备工作 1、熟读接地电阻测试仪的
2025-01-21 14:49:0715816 
在高温电阻测试仪的四探针法中，探针的间距对测量结果确实存在影响，但这一影响可以通过特定的测试方法和仪器设计来最小化或消除。 探针间距对测量结果的影响 在经典直排四探针法中，要求使用等间距的探针进行
2025-01-21 09:16:111238 
，更要小心呵护，确保其表面清洁、无氧化层。若探针表面有污垢，可能会影响与被测样品的接触，导致测量误差。可以使用酒精棉球轻轻擦拭探针表面，但要注意避免酒精残留。 其次，仪器的校准工作不可忽视。校准周期应根据仪器的
2025-01-20 16:25:29889 
，尤其关注于如何改造传统产业，不断提升产品品质并推动企业的可持续发展。 蔡司涉足工业领域己过百年，长期深耕质量检测领域。探针系统作为三坐标质量检测中与工件接触的关键部件，其设计及质量对接触式测量结果具有关键影响。蔡司探针系统系列包含
2025-01-14 13:57:49328 
摘要：迄今为止，对半导体光放大器（SOA）中增益恢复时间的波长依赖性的测量大多采用泵浦-探头技术，泵浦和探头在不同的波长上工作。泵浦波长的选择及其与探头波长的相对接近可能会影响测量结果，并妨碍
2025-01-09 11:08:211080 
有效输出信号（/DVALID）有时一直为高，有时如果输出为高的话，用示波器的探针点一下PCB上/DVALID信号经过的一个过孔，DDC112U的/DVALID就能给出低电平了。
为什么会出现这种工作不稳定的现象，请问有哪些原因可能导致这种现象？
2025-01-09 06:31:41
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