射频芯片该如何测试？矢网+探针台实现自动化测试

射频芯片的研发是国内外研发团队的前沿选题，其优秀的性能特点，如高速、低功耗、高集成度等，使得射频芯片在通信、雷达、电子对抗等领域具有广泛的应用前景。面对射频芯片日益增长的功能需求，针对射频芯片的测试要求也逐渐提升，如何准确快速的完成射频芯片的批量测试则成了众多射频芯片企业面临的难题。

射频晶圆芯片测试

为了满足射频芯片的大批量快速测试，采用自动化平台配合矢量网络分析和探针台是大多数射频芯片企业的选择方案。那么这套方案是如何实现射频芯片的测试呢？

以ATECLOUD自动化测试平台为例，平台在测试射频芯片时可以直接控制矢量网络分析仪和探针台，通过探针台定位被测晶圆芯片的坐标，通过网络分析仪的采集测试数据，生成map图，测试完成之后再将数据传回平台，测试结果也会实时展示在测试面板中，pass、fail指标自动判别测试结果，这样即可完成一颗射频芯片的自动化测试。而平台中可以直接使用批量测试，直接通过平台不断重复上述操作即可实现快速批量测试。

射频芯片测试项目

测试完成后，可以在平台的记录报告中查看所有产品的测试指标数据，包括测试时配置的参数、产品合格信息、测试项目参数等重要信息均可直接显示。想要对数据进行对比分析则可以在数据洞察界面，查看对应方案的数据分析图表，包括产品合格率、人员能效比、产品效率曲线对比、指标参数分布图等各维度分析。

射频芯片测试指标判断

采用上述流程测试射频芯片不仅可以实现射频芯片的自动化批量测试，数据报告和数据分析的步骤也可以采用自动化的方式导出，大幅度提升测试的效率。

审核编辑 黄宇