0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

高温电阻测试仪的四探针法中,探针的间距对测量结果是否有影响

jf_81284414 来源:jf_81284414 作者:jf_81284414 2025-01-21 09:16 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

在高温电阻测试仪的四探针法中,探针的间距对测量结果确实存在影响,但这一影响可以通过特定的测试方法和仪器设计来最小化或消除。

探针间距对测量结果的影响

在经典直排四探针法中,要求使用等间距的探针进行测试。如果探针间距不等或探针存在游移,就会导致实验误差。这是因为探针间距的变化会影响电流在材料中的分布,从而影响电压的测量值,最终导致电阻率的计算结果出现偏差。

双电测组合四探针法的优势

为了消除探针间距对测量结果的影响,高温四探针测试仪通常采用双电测组合四探针法。这种方法具有以下优势:

  1. 测试结果与探针间距无关 :双电测组合四探针法通过特定的电路设计算法处理,能够消除探针间距不等及针尖机械游移变化的影响。因此,在使用这种方法时,即使探针间距存在一定的变化,也不会对测试结果产生显著影响。
  2. 自动修正边界效应 :对于小尺寸被测片或探针在较大样品边缘附近测量时,双电测组合四探针法具有自动修正边界效应的功能。这意味着在这些特殊情况下,也不需要对样品进行几何测量或寻找修正因子,即可获得准确的测试结果。

实际应用中的考虑

在实际应用中,为了确保高温电阻测试仪的准确性和可靠性,需要注意以下几点:

  1. 选择合适的探针间距 :虽然双电测组合四探针法可以消除探针间距对测量结果的影响,但在实际测试中仍需选择合适的探针间距以确保测试的准确性和稳定性。通常,探针间距应根据被测材料的特性和测试要求来确定。
  2. 定期校准和维护 :高温电阻测试仪和探针需要定期进行校准和维护以确保其准确性和可靠性。校准过程中,应使用标准样品进行测试,并根据测试结果调整仪器参数以确保测试结果的准确性。
  3. 注意测试环境 :在测试过程中,应注意控制测试环境的温度和湿度等条件以减少外部环境对测试结果的影响。同时,还应避免测试过程中产生振动和电磁干扰等不利因素以确保测试的稳定性。

综上所述,虽然探针间距在高温电阻测试仪的四探针法中会对测量结果产生影响,但通过采用双电测组合四探针法以及注意实际应用中的考虑因素,可以最小化或消除这一影响并获得准确的测试结果。
1.jpg

审核编辑 黄宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 测试仪
    +关注

    关注

    6

    文章

    4150

    浏览量

    60826
  • 电阻率
    +关注

    关注

    0

    文章

    146

    浏览量

    11185
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    探针法电阻的原理与常见问题解答

    探针法是广泛应用于半导体材料、薄膜、导电涂层及块体材料电阻测量的重要技术。该方法以其无需校准、测量
    的头像 发表于 12-04 18:08 72次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b>测<b class='flag-5'>电阻</b>的原理与常见问题解答

    基于探针法测量石墨烯薄层电阻的IEC标准

    单层石墨烯薄层电阻(RsRs)的标准化流程。Xfilm埃利探针方阻作为符合该标准要求的专业测量设备,可为石墨烯薄层
    的头像 发表于 11-27 18:04 103次阅读
    基于<b class='flag-5'>四</b>点<b class='flag-5'>探针法</b><b class='flag-5'>测量</b>石墨烯薄层<b class='flag-5'>电阻</b>的IEC标准

    基于探针测量的 BiFeO₃畴壁欧姆响应研究

    导电畴壁(DWs)是新型电子器件的关键候选结构,但其纳米尺度与宿主材料高电阻特性导致电学表征困难。Xfilm埃利探针方阻可助力其电阻精确
    的头像 发表于 11-20 18:03 184次阅读
    基于<b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针</b><b class='flag-5'>测量</b>的 BiFeO₃畴壁欧姆响应研究

    基于探针法 | 测定钛基复合材料的电导率

    分离电流与电压测量路径,可有效消除接触电阻,结合几何修正与环境控制,成为Ti基复合材料电导率测定的理想技术。下文将系统阐述基于探针法的钛基复合材料电导率测定方法与
    的头像 发表于 10-09 18:05 341次阅读
    基于<b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b> | 测定钛基复合材料的电导率

    探针法校正因子的全面综述:基于实验与数值模拟的电阻测量误差修正

    探针法(4PP)作为一种非破坏性评估技术,广泛应用于半导体和导电材料的电阻率和电导率测量。其非破坏性特点使其适用于从宏观到纳米尺度的多种材料。然而,传统解析模型在校正因子的计算
    的头像 发表于 09-29 13:46 752次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b>校正因子的全面综述:基于实验与数值模拟的<b class='flag-5'>电阻</b>率<b class='flag-5'>测量</b>误差修正

    基于探针和扩展电阻模型的接触电阻率快速表征方法

    接触电阻率(ρc)是评估两种材料接触性能的关键参数。传统的传输长度法(TLM)等方法在提取金属电极与c-Si基底之间的ρc时需要较多的制造和测量步骤。而探针法因其相对简单的操作流程而
    的头像 发表于 09-29 13:45 408次阅读
    基于<b class='flag-5'>四</b>点<b class='flag-5'>探针</b>和扩展<b class='flag-5'>电阻</b>模型的接触<b class='flag-5'>电阻</b>率快速表征方法

    非局域探针法:超导薄膜颗粒度对电阻特性的影响机制解析

    技术支持:4009926602超导薄膜的微观不均匀性(颗粒度)是影响其宏观性能的关键因素。在接近临界温度(T ᶜ)时,传统探针法常观测到异常电阻峰,这一现象长期被误认为材料本征特性。然而,研究表明
    的头像 发表于 09-29 13:45 331次阅读
    非局域<b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b>:超导薄膜颗粒度对<b class='flag-5'>电阻</b>特性的影响机制解析

    非接触式发射极片电阻测量:与探针法的对比验证

    )成像的非接触式测量技术,通过分离Remitter与体电阻(Rbulk),实现高精度、无损检测。实验验证表明,该方法与基于探针法(4pp)的Xfilm埃利在线
    的头像 发表于 09-29 13:44 254次阅读
    非接触式发射极片<b class='flag-5'>电阻</b><b class='flag-5'>测量</b>:与<b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b>的对比验证

    探针薄膜测厚技术 | 平板显示FPD制造电阻率、方阻与厚度测量实践

    薄膜厚度测量仪,其原理是通过将已知的薄膜材料电阻率除以方阻来确定厚度,并使用XFilm平板显示在线方阻测试仪作为对薄膜在线方阻实时检测,以提供数据支撑。旨在实现非破
    的头像 发表于 09-29 13:43 523次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针</b>薄膜测厚技术 | 平板显示FPD制造<b class='flag-5'>中</b><b class='flag-5'>电阻</b>率、方阻与厚度<b class='flag-5'>测量</b>实践

    探针法 | 测量射频(RF)技术制备的SnO2:F薄膜的表面电阻

    开展表面电阻测量研究。Xfilm埃利探针方阻凭借高精度检测能力,可为此类薄膜电学性能测量提供
    的头像 发表于 09-29 13:43 527次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b> | <b class='flag-5'>测量</b>射频(RF)技术制备的SnO2:F薄膜的表面<b class='flag-5'>电阻</b>

    探针法精准表征电阻率与接触电阻 | 实现Mo/NbN低温超导薄膜电阻

    低温薄膜电阻器作为超导集成电路的核心元件,其核心挑战在于实现超导材料NbN与金属电阻层Mo间的低接触电阻(R₀)。本文使用探针法研究钼(M
    的头像 发表于 07-22 09:52 438次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b>精准表征<b class='flag-5'>电阻</b>率与接触<b class='flag-5'>电阻</b> | 实现Mo/NbN低温超导薄膜<b class='flag-5'>电阻</b>器

    探针法丨导电薄膜薄层电阻的精确测量、性能验证与创新应用

    系统探讨探针法测量原理、优化策略及其在新型导电薄膜研究的应用,并结合FlexFilm在半导体量测装备及光伏电池电阻检测系统的技术积累,
    的头像 发表于 07-22 09:52 844次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针法</b>丨导电薄膜薄层<b class='flag-5'>电阻</b>的精确<b class='flag-5'>测量</b>、性能验证与创新应用

    探针电极在多功能压力测量系统的原理与应用

    的重要工具。 二、探针电极测量原理 (一)基本原理 探针电极由根等
    的头像 发表于 03-27 14:04 802次阅读
    <b class='flag-5'>四</b><b class='flag-5'>探针</b>电极在多功能压力<b class='flag-5'>测量</b>系统<b class='flag-5'>中</b>的原理与应用

    探针粉末电阻测试仪在炭黑测试的应用与优势

    在炭黑生产与应用的各个环节,精准把控其性能至关重要,而炭黑电阻率是衡量质量与应用潜力的关键指标。两探针粉末电阻测试仪凭借独特技术与高效检测能力,在炭黑
    的头像 发表于 03-21 09:16 742次阅读
    两<b class='flag-5'>探针</b>粉末<b class='flag-5'>电阻</b>率<b class='flag-5'>测试仪</b>在炭黑<b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>中</b>的应用与优势

    接地电阻测试仪的使用方法

    接地电阻测试仪又称接地摇表,专门用来测量各种电气设备、防雷接地装置和重复接地的接地电阻。ZG-8型接地电阻
    的头像 发表于 01-21 14:49 1.3w次阅读
    接地<b class='flag-5'>电阻</b><b class='flag-5'>测试仪</b>的使用方法