射频芯片自动化测试解决方案案例分享

背景介绍：
北京某公司是一家专注于高性能SAW滤波器和双工器等系列射频前端芯片的研发设计、生产和销售的企业。企业在测试其晶圆芯片产品时，由于原有测试系统无法控制探针台，导致测试工作难以完成，因此急需一套新的测试系统来完成晶圆探针测试。

晶圆芯片测试

核心痛点：
1.用户原有测试系统无法控制探针台，导致难以完成晶圆芯片产品的S参数测试。
2.用户原有测试系统缺乏数据分析功能，无法对测试数据进行有效分析，在一定程度上限制了测试结果的深度利用和被测产品的进一步优化。

射频器件测试系统

射频器件测试系统解决方案
1.系统灵活接入探针台和网分，轻松测试晶圆芯片
纳米软件射频器件测试系统具有高度兼容性，可以自动识别并轻松接入探针台和网分。系统通过探针台定位被测晶圆芯片的坐标，并采集网分数据，生成map图，轻松完成晶圆芯片S参数的自动化测试，测试结果也会实时展示在测试面板中，pass、fail指标自动判别测试结果。

射频器件测试解决方案

2.系统具有批量测试功能，提高产品测试效率
晶圆上的芯片数量众多，可通过系统的批量测试功能，一键实现被测产品的批量测试，提高了测试效率，节省了测试时间。
3.数据洞察功能，全面分析晶圆芯片测试数据
数据分析是产品测试后的关键环节，射频器件测试系统具有数据洞察功能，可以汇总分析所测的S参数数据，帮助快速查找定位问题，从而保障产品的性能和质量，解决了客户原有测试系统无法分析数据的痛点。

测试数据

4.灵活定制报告模板，实现报告自由
系统支持自定义测试报告，根据客户要求，系统实现了将多个产品测试记录合并导出在一份excel中，并且包括产品坐标信息、S参数测试数据、测试结果等信息。同时系统支持灵活报告模板，满足客户对报告的需求。
审核编辑 黄宇