关于光学薄膜在线瑕疵检测系统的技术介绍

摘要：目前薄膜瑕疵检测系统大多采用工业计算机、线扫描相机、旋转编码器和线型光源的方案。

在生产时，由高亮LED组成的线型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通过与薄膜运行同步的旋转编码器触发，使架设在生产线上的线扫描相机同步扫描，将相机采集到的薄膜图像通过工业计算机上的采集卡实时传送给图像处理系统软件进行瑕疵识别处理。由于瑕疵图像的灰阶分布与正常图像的灰阶分布存在明显差异，从而使系统能够发现瑕疵，同时对瑕疵进行有效的判定、分类及后续处理。

精谱测控光学薄膜在线瑕疵检测系统技术介绍

精谱测控光学薄膜在线瑕疵检测系统主要用于检测薄膜在生产过程中表面出现的黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷，借助于由工业CCD相机、高亮LED线性聚光光源组成的薄膜表面缺陷检测的成像系统，及时准确的反应缺陷的的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息，在为质量控制、产品评级提供真是准确数据的同时，有效的节约了生产成本、提高了产品质量。

精谱测控光学薄膜在线瑕疵检测系统原理

将工业线阵CCD 相机架设在生产线上方，同时采用高亮的LED线性聚光冷光源进行背打光，通过线阵CCD相机和高速图像处理系统进行实时的在线扫描。当薄膜在线生产出现瑕疵时，由于瑕疵的成像与正常的薄膜产品存在明显的灰阶差异，使得系统能够及时发现瑕疵缺陷。系统自动记录瑕疵的图像、位置等信息，同时通过信号控制实现打标机对瑕疵的自动贴标定位。

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