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电子发烧友网>今日头条>KOH和TMAH溶液中凸角蚀刻特性研究

KOH和TMAH溶液中凸角蚀刻特性研究

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KOH溶液中进行湿法化学蚀刻期间,硅 (1 1 1) 的绝对蚀刻速率已通过光学干涉测量法使用掩膜样品进行了研究蚀刻速率恒定为0.62 ± 0.07 µm/h 且与 60
2022-03-04 15:07:09845

氢氧化钾在凸角处的蚀刻行为

剂对不同晶面的蚀刻速率分布,解释了氢氧化钾在凸角处的倒圆效应。为了确定快速蚀刻的平面 ,已经对圆角的形状进行了模拟。执行的实验结果与蚀刻拐角的模拟形状非常相似。
2022-03-07 15:26:14372

使用酸性溶液对硅晶片进行异常各向异性蚀刻

在本文中,我们首次报道了实现硅111和100晶片的晶体蚀刻的酸性溶液。通过使用六氟硅酸(也称为氟硅酸)和硝酸的混合物,获得暴露出各种面外111平面的硅111的晶体蚀刻。本文描述了用于该研究溶液的化学组成,随后是使用电子和光学显微镜获得的结果。蚀刻的机理,虽然没有完全理解,将在下面的章节中讨论。
2022-03-09 14:35:42460

KOH溶液中氮化铝的湿化学蚀刻

本文研究KOH溶液中AIN的湿式化学蚀刻蚀刻温度和材料质量的关系。这两种材料的蚀刻速率都随着蚀刻温度的增加而增加,从20~80°C不等。通过在1100°C下快速热退火,提高了反应性溅射制备
2022-03-09 14:37:47431

一种改进的各向异性湿法蚀刻工艺

我们开发了一种改进的各向异性湿法蚀刻工艺,通过在晶片上使用单个蚀刻掩模来制造各种硅微结构,这些微结构具有圆形凹角和尖锐凸角、用于芯片隔离的凹槽、蜿蜒的微流体通道、具有弯曲V形凹槽的台面结构以及具有
2022-03-14 10:51:42581

单晶硅片碱性溶液中的蚀刻速率

本文研究了用金刚石线锯切和标准浆料锯切制成的180微米厚5英寸半宽直拉单晶硅片与蚀刻时间的关系,目的是确定FAS晶片损伤蚀刻期间蚀刻速率降低的根本原因,无论是与表面结构相关,缺陷相关,由于表面存在的氧化层,还是由于有机残差。
2022-03-16 13:08:09619

预清洗对KOH/IPA溶液中单晶硅表面纹理化的影响

实验研究了预清洗对KOH/IPA溶液中单晶硅表面纹理化的影响。如果没有适当的预清洗,表面污染会形成比未污染区域尺寸小的金字塔,导致晶片表面纹理特征不均匀,晶片表面反射率不均匀。根据供应商的不同,晶片的表面质量和污染水平可能会有所不同,预清洗条件可能需要定制,以达到一致和期望的纹理化结果。
2022-03-17 15:23:08501

丁基醇浓度对Si平面表面形貌和蚀刻速率的影响

本文我们华林科纳半导体有限公司研究了类似的现象是否发生在氢氧化钾溶液中添加的其他醇,详细研究了丁基醇浓度对(100)和(110)Si平面表面形貌和蚀刻速率的影响,并给出了异丙醇对氢氧化钾溶液蚀刻结果,为了研究醇分子在蚀刻溶液中的行为机理,我们还对溶液的表面张力进行了测量。
2022-03-18 13:53:01288

HF/H2O二元溶液中硅晶片变薄的蚀刻特性

使用酸性或氟化物溶液对硅表面进行湿蚀刻具有重大意义,这将用于生产微电子包装所需厚度的可靠硅芯片。本文研究了湿蚀刻对浸入48%高频/水溶液中的硅片厚度耗散、减重、蚀刻速率、表面形貌和结晶性
2022-03-18 16:43:11529

用NaOH和KOH溶液蚀刻硅晶片的比较研究

在本研究中,我们研究了碱性后刻蚀表面形貌对p型单晶硅片少子寿命的影响,在恒温下分别使用30%和23%的氢氧化钠和氢氧化钾溶液,表面状态通过计算算术平均粗糙度(Ra)和U-V-可见光-近红外光学反射率
2022-03-21 13:16:47573

详解单晶硅的各向异性蚀刻特性

为了形成膜结构,单晶硅片已经用氢氧化钾和氢氧化钾-异丙醇溶液进行了各向异性蚀刻,观察到蚀刻速率强烈依赖于蚀刻剂温度和浓度,用于蚀刻实验的掩模图案在硅晶片的主平面上倾斜45°。根据图案方向和蚀刻剂浓度
2022-03-25 13:26:342503

基于喷射条件的蚀刻特性和雾化特性研究

研究根据蚀刻条件的变化,对蚀刻特性——蚀刻率和蚀刻系数进行了球面分析,并使用速度、液滴大小、冲击力(PDA)系统分析了喷嘴、喷射压力、线短距离、工质物性值变化时的喷雾特性,并考察了与蚀刻特性的相互关系。
2022-04-07 16:16:39398

喷雾特性蚀刻特性的相互关系

研究根据蚀刻条件的变化,对蚀刻特性——蚀刻率和蚀刻系数进行了球面分析,并使用速度、液滴大小、冲击力(PDA)系统分析了喷嘴、喷射压力、线短距离、工质物性值变化时的喷雾特性,并考察了与蚀刻特性的相互关系。
2022-04-14 14:02:00394

通过光敏抗蚀剂的湿蚀刻剂渗透研究

本文研究了通过光敏抗蚀剂的湿蚀刻剂渗透。后者能够非常快速地响应选择湿蚀刻剂/聚合物的兼容性,以保护下面的膜不被降解。如今,大多数材料图案化是用等离子蚀刻而不是湿法蚀刻来进行的。事实上,与通常
2022-04-22 14:04:19591

单晶硅的各向异性蚀刻特性说明

剂浓度观察到不同的蚀刻特性,当氢氧化钾浓度固定为20wt%时,在80℃以上的蚀刻温度下观察到U形槽的蚀刻形状,在80℃以下观察到V形槽的蚀刻形状,蚀刻硅表面产生的小丘随着蚀刻剂温度和浓度的增加而减少。 为了了解单晶硅的KOH溶液和K
2022-05-05 16:37:362656

TMAH溶液进行化学蚀刻后晶体平面的表征研究

本文提出了一种将垂直氮化镓鳍式场效应晶体管中的鳍式沟道设计成直而光滑的沟道侧壁的新技术。因此,详细描述了在TMAH溶液中的氮化镓湿法蚀刻;我们发现m-GaN平面比包括a-GaN平面在内的其他取向
2022-05-05 16:38:031394

碱性KOH蚀刻特性的详细说明

速度快,而各向同性蚀刻(如HF)会向所有方向侵蚀。使用KOH工艺是因为其在制造中的可重复性和均匀性,同时保持了较低的生产成本。异丙醇(IPA)经常添加到溶液中,以改变从{110}壁到{100}壁的选择性,并提高表面光滑度。
2022-05-09 15:09:201419

一种基于摩擦诱导选择性蚀刻的新型纳米制备方法

在本研究中,通过对目标区域的低破坏性扫描和在KOH溶液中的后蚀刻,发展了一种在石英表面产生三维纳米结构的新型纳米加工方法。这种纳米制造方法的能力通过各种纳米结构来展示,包括斜坡、分级阶段和棋盘状图案。在不同温度下测试扫描区域的蚀刻速率。为了制造更深层次的结构,人们尝试在现有的纳米结构上重新制作。
2022-05-13 13:51:35367

蚀刻溶液的组成和温度对腐蚀速率的影响

我们华林科纳研究探索了一种新的湿法腐蚀方法和减薄厚度在100 µm以下玻璃的解决方案,为了用低氢氟酸制备蚀刻溶液,使用NH4F或nh4hf 2作为主要成分并加入硫酸或硝酸是有效的,研究了混合酸溶液
2022-05-20 16:20:243160

TMAH溶液对硅得选择性刻蚀研究

我们华林科纳研究TMAH溶液中摩擦诱导选择性蚀刻的性能受蚀刻温度、刻蚀时间和刮刻载荷的影响,通过对比试验,评价了硅摩擦诱导的选择性蚀刻的机理,各种表面图案的制造被证明与控制尖端痕迹划伤。 蚀刻时间
2022-05-20 16:37:451683

M111N蚀刻速率,在碱性溶液蚀刻

本文讲述了我们华林科纳研究了M111N蚀刻速率最小值的高度,以及决定它的蚀刻机制,在涉及掩模的情况下,M111N最小值的高度可以受到硅/掩模结处的成核的影响,以这种方式影响蚀刻或生长速率的结可以
2022-05-20 17:12:59853

超深熔融石英玻璃蚀刻研究

摘要 微流体和光学传感平台通常由玻璃和熔融石英(石英)制成,因为它们具有光学透明性和化学惰性。氢氟酸(HF)溶液是用于深度蚀刻二氧化硅衬底的选择的蚀刻介质,但是由于HF迁移穿过大多数掩模材料的侵蚀性
2022-05-23 17:22:141229

混合酸溶液和熔融KOH蚀刻的GaN薄膜

本文介绍了我们华林科纳采用混合酸溶液(H3PO4 : H2SO4 = 1 : 3)和熔融KOH作为湿法腐蚀介质,盐酸作为阳极腐蚀介质,用扫描电镜和透射电镜分别观察了蚀坑和T-Ds。
2022-05-27 16:56:03537

KOH蚀刻凸角蚀刻特性研究

引用 本文介绍了我们华林科纳半导体研究了取向硅在氢氧化钾水溶液中的各向异性腐蚀特性凸角底切机理。首先,确定控制底切的蚀刻前沿的晶面,并测量它们的蚀刻速率。然后,基于测量数据,检验了凸角补偿技术
2022-06-10 17:03:481113

使用清洗溶液实现蚀刻后残留物的完全去除

我们华林科纳半导体开发了一种新的湿法清洗配方方法,其锡蚀刻速率在室温下超过30/min,在50°c下超过100/min。该化学品与铜和低k材料兼容,适用于铜双镶嵌互连28 nm和更小的技术节点
2022-06-14 10:06:242210

ITO薄膜的蚀刻速率研究

在本研究中,我们华林科纳研究了在液晶显示(LCD)技术中常用的蚀刻剂中相同的ITO薄膜的蚀刻速率,保持浴液温度恒定,并比较了含有相同浓度的酸的溶液,对ITO在最有趣的解决方案中的行为进行了更详细的研究,试图阐明这些浴液中的溶解机制。
2022-07-04 15:59:581434

什么是金属蚀刻蚀刻工艺?

金属蚀刻是一种通过化学反应或物理冲击去除金属材料的技术。金属蚀刻技术可分为湿蚀刻和干蚀刻。金属蚀刻由一系列化学过程组成。不同的蚀刻剂对不同的金属材料具有不同的腐蚀特性和强度。
2023-03-20 12:23:433172

硅在氢氧化钠和四甲基氢氧化铵中的温度依赖性蚀刻

过去利用碱氢氧化物水溶液研究了硅的取向依赖蚀刻,这是制造硅中微结构的一种非常有用的技术。以10M氢氧化钾(KOH)为蚀刻剂,研究了单晶硅球和晶片的各向异性蚀刻过程,测量了沿多个矢量方向的蚀刻速率,用单晶球发现了最慢的蚀刻面。英思特利用这些数据,提出了一种预测不同方向表面的倾角的方法
2023-05-29 09:42:40618

氮化镓的晶体学湿式化学蚀刻

,虽然已经发现KOH溶液可以蚀刻AlN和InAlN,但是之前还没有发现能够蚀刻高质量GaN的酸或碱溶液。在本文中,英思特通过使用乙二醇而不是水作为KOH和NaOH的溶剂,开发了一种将晶体表面蚀刻为III族氮化物的两步法。
2023-11-24 14:10:30241

在氮化镓和AlGaN上的湿式数字蚀刻

由于其独特的材料特性,III族氮化物半导体广泛应用于电力、高频电子和固态照明等领域。加热的四甲基氢氧化铵(TMAH)和KOH3处理的取向相关蚀刻已经被用于去除III族氮化物材料中干法蚀刻引起的损伤,并缩小垂直结构。
2023-11-30 09:01:58166

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