光学薄膜瑕疵检测设备的原理及功能

精谱测控光学薄膜瑕疵检测设备高精度实时在线检测产品表面质量——精谱测控光学薄膜瑕疵检测设备可根据客户的具体需求搭建出符合要求的薄膜表面瑕疵缺陷检测系统，系统可以准确地识别薄膜生产中的瑕疵从而进行及时的反馈生产线表面的缺陷信息，并对这些瑕疵进行分类处理，比人工进行瑕疵检测大大提高了生产的效率，节省了成本，更好地保证了薄膜的质量。

精谱测控光学薄膜瑕疵检测设备原理：

视觉系统的输出并非图像视频信号，而是经过运算处理之后的检测结果（如缺陷、尺寸等数据）。通常，机器视觉检测就是用机器代替肉眼来做测量和判断。首先采用CCD照相机将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号。

图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如：面积、长度、数量、位置等。最后，根据预设的容许度和其他条件输出结果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、个数、合格/不合格、有/无等。上位机（如PC和PLC）实时获得检测结果后，指挥运动系统或I/O系统执行相应的控制动作（如定位和分类）。

精谱测控光学薄膜瑕疵检测设备技术参数：

检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度：Max：800m/min

检测幅宽：任意（根据生产线定制）

检测精度：0.1mm~1mm（取决于相机数量、产线幅宽及车速）

瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

精谱测控光学薄膜瑕疵检测设备功能：

1.操作便捷

操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。

2.稳定性高

可连续工作在极端温度和厂房环境中。

3.100%幅面表面检测

发现疵点时可根据设定发出报警，提示及时修复，避免大量缺陷产品的产生。

4.完整的表面质量信息

材料表面疵点图像由计算机进行保存，每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息，产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。

5.高精度检测

方案可100%检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷，满足客户的不断提升的产品品质要求。

6.软件数据库管理功能

可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计，详细的缺陷记录（大小和位置）和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便;离线分析，用于后续分切和质量管理，可有效保证产品质量。

7.定位标识功能

每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。

8.系统联动

当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。

9.一键导出

一键导出EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

注：软件功能可根据用户要求实现完全定制！

责任编辑：tzh