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电子发烧友网>今日头条>针对射频模块类产品,ESD抗扰度该如何考虑和设计

针对射频模块类产品,ESD抗扰度该如何考虑和设计

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射频前端模块中使用的集成无源元件技术

本文介绍了在射频前端模块(RF-FEM)中使用的集成无源元件(IPD)技术。
2025-06-03 18:26:511267

手机电磁兼容测试常见问题

分享针对性的优化方案。   测试场景与核心故障 静电放电抗试验 静电放电(ESD)是日常生活中最常见的电磁干扰源之一,测试中常出现以下典型问题: 通话中断:当静电脉冲耦合到射频电路时,会导致通信信噪比骤降。例如某机型在
2025-05-20 14:27:46795

时源芯微 EMC措施

降共模电流 :电机引线加共模滤波器;减小电机引线与设备框架间接地环路面积。 降辐射与传导噪声 :电机端子间加100pF - 100nF陶瓷去耦电容;PWM控制选电容考虑谐振频率远离PWM频率;用时源
2025-05-19 17:02:53412

UCC21737-Q1 用于 SiC/IGBT 的汽车级 10A 隔离式单通道栅极驱动器数据手册

±10A 的峰值拉电流和灌电流。 输入侧采用 SiO2 电容隔离技术与输出侧隔离,支持高达 1.5kVRMS 的工作电压、12.8kVPK 浪涌,隔离栅寿命超过 40 年,并提供低器件间偏移和 >150V/ns 共模瞬态 (CMTI)。
2025-05-16 14:34:01780

UCC21738-Q1 用于 SiC/IGBT、有源短路保护的汽车类 10A 单通道隔离式栅极驱动器数据手册

±10A 的峰值拉电流和灌电流。 输入侧采用 SiO 2 电容隔离技术与输出侧隔离,支持高达 1.5 kV RMS 的工作电压、12.8 kV PK 浪涌,隔离栅寿命超过 40 年,并提供低器件间偏移和 >150 V/ns 共模瞬态 (CMTI)。
2025-05-16 10:12:06615

IEC 61000-4-2:2025版静电放电(ESD)标准解读

,国际电工委员会(IEC)制定了IEC 61000-4-2标准,用于规范电子设备在静电放电环境中的性。 IEC 61000-4-2 是关于静电放电抗性(ESD)的测试和要求的国际标准,是IEC 61000系列中的一个重要部分。标准规定了电子设备在受到静电放电(如操作员触摸设备时产生的静电)时的
2025-05-16 09:59:005852

用静电电流校准靶检验静电放电发生器电流波形

在做ESD测试前,通常我们都会检验ESD模拟器生成的电流脉冲是否拥有正确的波形和上升时间。可以使用校准后的ESD靶和高带宽示波器配合,检验ESD模拟器的性能。人体接触电源端或信号线缆时,会产生
2025-05-13 10:59:361149

无线射频模块如何通过CE RED认证?关键规范与准备策略详解

随着无线通信设备在欧洲市场的广泛应用,CE RED认证已成为模块类产品进入欧盟的强制通行证。作为专注于LoRa模块、对讲模块与FSK射频模块研发的技术企业,我们深知从设计、测试到量产,每一个环节都需
2025-05-09 10:28:191317

如何布线才能降低MDDESD风险?PCB布局的抗干扰设计技巧

在现代电子产品日益集成化、小型化的趋势下,MDDESD(静电二极管)防护设计变得至关重要。除了元器件选型,PCB的布线与布局也是影响ESD性能的关键因素。作为FAE,本文将结合实战经验,分享一些
2025-04-25 09:43:13631

HMC8073 0.6GHz到3.0GHz、0.5 dB LSB、6位硅数字步进衰减器技术手册

,具有很短的建立时间、低功耗以及高静电放电 (ESD) 性。器件具有安全状态转换功能,从而能够在不发生过冲的情况下发生衰减状态变化,器件还进行了优化,可以在工作频率和温度范围内实现出色的步进
2025-04-23 14:44:34796

移动设备中的MDDESD防护挑战:微型化封装下的可靠性保障

。如何在有限空间内实现有效的ESD防护,已成为FAE(现场应用工程师)在设计阶段必须重点考虑的问题。一、微型化趋势带来的挑战在移动设备中,主控芯片、触控IC、射频模块
2025-04-22 09:33:30577

半导体电磁兼容测试的必备装备---TEM小室

GB/T42968.2-2024《集成电路电磁测量第2部分:辐射测量TEM小室和宽带TEM小室法》国家标准于2024年10月26日发布,并自同日起实施。标准旨在为集成电路的电磁兼容
2025-04-10 09:48:191111

射频天线ESD防护多方案设计

EMC小哥针对射频天线ESD防护方案从两个角度分析:1、根据频率高低不同,在保证信号完整性的情况下,选择小于此结电容的ESD二极管。2、根据信号工作峰值电压不同,选择对应Vrwm(反向工作电压)或稍高Vrwm的ESD静电元件。在这个"万
2025-04-03 09:02:36805

ADL5350低频至4GHz高线性Y型混频器技术手册

ADL5350是一款高线性、上/下变频混频器,能够在较宽的输入频率范围内工作,非常适合要求高灵敏和高效的蜂窝基站混频器设计。这款器件基于GaAs pHEMT、单端混频器架构,能提供出色的输入线性和低噪声系数,而无需高功耗本机振荡器(LO)驱动。
2025-03-31 10:15:171010

EMI(干扰)和EMS()基础知识与整改流程

,要求具备“即使受到EMI,也不会引起误动作等问题”的耐受能力,多与Immunity(耐受性、、排除能力)成对使用。EMI和EMS这两大项中又包括许多小项目,EMI主要测试项:RE(产品辐射,发射
2025-03-28 13:28:19

2025年射频模块厂家市场分析与方案应用指南

根据市场调研机构IHS Markit发布的报告,全球射频(RF)模块市场在2025年预计将达到约429亿元,年均增长率保持在32.67%左右。这一增长主要得益于物联网(IoT)、智能家居、工业自动化
2025-03-27 14:24:31846

无线射频通信模块RFM300H/RFM300的技术参数与应用指南

内容概要:本文档详细介绍了基于高集成CMOSTEK CMT2300芯片的RFM300H/RFM300系列ISM收发器模块的硬件特性和射频参数信息。该系列产品支持433/868/915MHz ISM
2025-03-07 11:30:491

【电磁兼容技术案例分享】某工业控制器产品振铃波整改案例

【电磁兼容技术案例分享】某工业控制器产品振铃波整改案例
2025-03-05 18:04:27961

JCMsuite应用:太阳能电池的反射惠更斯超表面模拟

折射率介质亚微米量级的二氧化钛(TiO2)圆盘作为标准异质结硅太阳能电池的反射惠更斯超表面在试验中进行开发。无序阵列使用基于胶体自组装的可伸缩自下而上的技术制造,技术几乎不考虑设备的材料或表面形态
2025-03-05 08:57:32

射频产品测试基础

射频芯片有哪些测试项一、射频芯片测试的方法射频芯片测试主要包括两种方法:实验室测试和生产线测试。实验室测试主要用于评估射频芯片在不同环境下的性能,包括发射功率、接收灵敏、频率偏差等指标的测量。而生
2025-02-28 10:03:571255

比创达电子科技-EMC干货之防静电技术

采取缩短引线长度,加大信号线宽度的方法加以抑制,以提高系统的ESD.案例去耦电容尽可能的靠近IC电源脚减少环路面积,让所包含的场流量减小,其感应电流减小,对ESD和EMI都非常有效。 6
2025-02-27 15:50:01

PCB设计距离一样时,你们知道电路板两对过孔怎么摆串最小吗?

来了。 对于28G的高速信号来说,串仿真下来的结果不好不坏,在36dB上下,正常这个串的量级也基本上没太大的问题。之前的很多项目的过孔设计也差不多是这样处理的,最终产品功能也还好。 项目感觉也差不多
2025-02-26 09:40:23

CMT8120N0双向数字隔离器的技术特性及应用解析

级别的ESD、EFT和浪涌性,工作温度范围(-40°C至125°C)及多种安全认证(如VDE,UL1577)。此外,文档提供了典型应用示例和PCB布局建议。针对不同的封装形式(SOIC-8窄体、SOI
2025-02-21 09:34:430

浅谈数字失真测量仪

失真测量仪,作为一种专业工具,其核心功能是评估信号在传输过程中的失真情况,尤其针对音频与视频信号。仪器通过对比输入与输出信号间的差异,精确量化失真程度,进而助力用户优化信号质量。其工作原理
2025-01-21 18:01:041156

开关电源芯片U8623产品介绍

超结硅功率MOS在开关电源芯片U8623中对降低EMI(电磁干扰)干扰、增强EMS(电磁)抗干扰能力起到了重要作用。
2025-01-17 15:53:491325

用ADS7830做一个按键检测,做3KV ESD测试时,ESD信号打到外壳的地时,ADS7830会锁死,怎么解决?

在Vref对地和VDD对地间分别加了5V TVS管,也没有效果。 请问还有什么办法能改善ESD干扰?以下是原理图供参考。--谢谢。
2025-01-16 07:55:36

AN-793: iCoupler隔离产品ESD/闩锁考虑因素

电子发烧友网站提供《AN-793: iCoupler隔离产品ESD/闩锁考虑因素.pdf》资料免费下载
2025-01-13 15:09:510

ADC电路的串怎么解决?

,ADC是SAR型 18位单通道全差分输入的ADC。ADC的后端是MCU,MCU将数字信号处理之后再画到显示屏上显示实时波形。 调试发现显示的信号有串,表现为某一路信号悬空之后,相邻的那一路信号上就会出现噪声。将采样的时间延长也无法消除串。 想请教一下各路专家,造成串的原因和如何消除串,谢谢。
2025-01-07 06:15:34

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