共模瞬态抗扰度(CMTI)是衡量半导体隔离器件在高压瞬变干扰下保持信号完整性的关键指标,尤其在SiC/GaN等宽禁带半导体应用中至关重要。以下是核心要点:
一. 定义与单位
CMTI指隔离器件对共模电压瞬变(如地线间电压突变)的耐受能力,量化单位为kV/µs或V/ns。例如,高性能隔离器CMTI可达±100kV/µs以上。
二. 重要性
高速开关需求:SiC/GaN器件开关速度更快,导致更高的dv/dt(电压变化率),需CMTI≥150kV/µs以避免信号失真或短路风险56。
系统稳定性:低CMTI可能导致脉冲丢失、传播延迟或逻辑错误,影响电机驱动、光伏逆变器等系统的安全。
三、CMTI(共模瞬态抗扰度)的产生原因
主要与电力电子系统中的高压瞬变干扰相关,其核心驱动因素包括:
1. 功率器件开关动作
SiC/GaN器件的高速开关:宽禁带半导体(如SiC、GaN)的快速开关特性(纳秒级)导致高压侧(如MOSFET漏极)产生极高的电压变化率(dv/dt),典型值可达100V/ns以上。
寄生参数耦合:开关节点的高频振荡通过米勒电容、寄生电容等路径耦合至隔离层,形成共模噪声。
2. 系统拓扑结构
悬浮地设计:隔离驱动器的副边地(如MOSFET源极)随开关管动作浮动,与主控地之间形成瞬态电压差,引发共模瞬变。
多电平电路:如光伏逆变器、电机驱动中的多相桥臂结构,开关动作叠加导致共模电压瞬变加剧。
3. 电磁环境干扰
外部噪声源:电网波动、雷击或邻近设备的高频干扰通过电源或地线耦合至隔离电路。
长线传输效应:PCB走线或电缆的寄生电感在高频下放大瞬态电压,进一步恶化CMTI性能。
4. 隔离技术限制
隔离层寄生电容:光耦、电容或磁隔离器件的内部寄生电容在高dv/dt下形成位移电流,导致信号失真。
CMTI阈值不足:若隔离器件的CMTI低于系统瞬变速率(如<50kV/µs),输出信号易受干扰。

审核编辑 黄宇
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