电子发烧友App

硬声App

扫码添加小助手

加入工程师交流群

0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

电子发烧友网>今日头条>疑是有害硫氯溴化物确诊失效分析

疑是有害硫氯溴化物确诊失效分析

收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

评论

查看更多

相关推荐
热点推荐

LED应用产品SMT生产排

LED应用产品SMT生产流程在LED应用产品SMT生产流程中,硫化最可能出现在回流焊接环节,因为金鉴从发生的各种不良案例来看,支架银层硫化的强烈、快慢程度与含量、以及温度、时间具有直接关系。而回
2026-01-04 16:44:2251

拉力测试过关,产品仍会失效?揭秘不可替代的半导体焊球-剪切测试

质量的可靠性。这些领域往往要求界面结合强度达到特定标准,而拉力测试无法提供这样的准确评估。 失效分析与故障诊断 当产品出现键合相关的质量问题时,剪切测试能够帮助工程师准确定位失效原因。通过分析剪切
2025-12-31 09:09:40

SD卡读写均衡失效问题分析

一、读写均衡失效引发的核心问题 读写均衡(磨损均衡,Wear Leveling)是SD卡固件通过算法将数据均匀分配到闪存芯片各单元,避免局部单元过度擦写的关键机制。瀚海微SD卡出现读写均衡失效后,会
2025-12-29 15:08:0798

LED失效分析方法与应用实践

发光二极管(LED)作为现代照明和显示技术的核心元件,其可靠性直接关系到最终产品的性能与寿命。与所有半导体器件相似,LED在早期使用阶段可能出现失效现象,对这些失效案例进行科学分析,不仅能够定位
2025-12-24 11:59:35172

电解电容的失效模式有哪些?

电解电容的失效模式多样,主要涵盖漏液、爆裂、容量衰减、等效串联电阻(ESR)增大、电压击穿及寿命终止等类型,以下为具体分析: 漏液 原因 :电解电容的密封结构若存在缺陷,或长期在高温、高湿度环境下工
2025-12-23 16:17:49134

BOURNS CR - A - AS系列抗贴片电阻:性能与应用解析

BOURNS CR - A - AS系列抗贴片电阻:性能与应用解析 在电子电路设计中,电阻作为最基础却又至关重要的元件,其性能的优劣直接影响着整个电路的稳定性和可靠性。BOURNS推出的CR
2025-12-22 15:05:09184

LED灯具排鉴定报告

LED光源怕,这是因为含的气体会通过其多孔性结构的硅胶或支架缝隙,与光源镀银层发生硫化反应。LED光源出现硫化反应后,产品功能区会黑化,光通量会逐渐下降,色温出现明显漂移;硫化后的硫化银随温度
2025-12-16 10:48:37139

CW32时钟运行中失效检测的流程是什么?CW32时钟运行中失效检测注意事项有哪些呢?

CW32时钟运行中失效检测的流程是什么?CW32时钟运行中失效检测注意事项有哪些?
2025-12-10 07:22:58

如何判断MDDESD二极管的热失效与修复

MDD辰达半导体ESD二极管的热失效通常与其长时间在过电流和高温环境中工作相关。在过电压、过电流的脉冲作用下,二极管的温度可能迅速升高,超过其最大工作温度,从而导致热失效。这不仅会导致二极管的性能
2025-12-09 10:13:45285

聚焦离子束(FIB)技术在芯片失效分析中的应用详解

聚焦离子束技术聚焦离子束(FocusedIonBeam,FIB)技术作为现代半导体失效分析的核心手段之一,通常与扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)集成
2025-12-04 14:09:25368

半导体“基础FMEA和家族​FMEA”分析的详解;

【博主简介】本人“ 爱在七夕时 ”,系一名半导体行业质量管理从业者,旨在业余时间不定期的分享半导体行业中的:产品质量、失效分析、可靠性分析和产品基础应用等相关知识。常言:真知不问出处,所分享的内容
2025-12-03 08:35:54482

如何判断二极管的热失效情况

在电子产品的设计和应用中,二极管作为关键的辰达半导体元件,广泛应用于整流、保护、开关等各种电路中。然而,由于二极管的工作条件(如电流、温度和功率)可能超过其额定值,容易导致热失效。二极管的热失效是指
2025-12-02 10:16:19348

ASP3605同步降压芯片多场景失效机理与防护策略研究

于新能源汽车、工业控制及商业航天等高端领域。本文针对该芯片在实际应用中出现的三类典型失效案例,采用"外观检查-电性能测试-无损检测-物理开封-材料分析"的阶梯式失效分析流程,结合SEM、XRD及温度场仿真等技术手段,系统揭示了过电应力导致VDMOS键合丝熔断、温度梯度引发焊盘
2025-11-30 09:33:111389

水晶光电失效分析与材料研究实验室斩获CMAS认可证书

2025年11月,水晶光电失效分析与材料研究实验室凭硬核实力,顺利通过中国合格评定国家认可委员会(CNAS)严苛审核,正式获颁CNAS认可证书。这标志着实验室检测能力与服务质量已接轨国际标准,彰显了企业核心技术创新力与综合竞争力,为深耕国际市场筑牢品质根基”。
2025-11-28 15:18:30591

CW32x030时钟运行的失效检测

CW32x030 支持外部时钟(HSE 和LSE)运行中失效检测功能。在外部时钟稳定运行过程中,时钟检测逻辑持续 以一定的检测周期对HSE 和LSE 时钟信号进行计数:在检测周期内检测到设定个数
2025-11-27 06:37:44

合科泰SOT-23封装MOS管AO3400的失效原因

工程师在设计电源转换、电机驱动或负载开关电路时,最常遇到的突发故障可能是MOS管的突然失效。没有明显的前期征兆,却让整个电路停摆,甚至影响产品批量良率。近期,我们的FAE团队协助客户解决了一起
2025-11-26 09:47:34615

半导体“金(Au)丝引线键合”失效机理分析、预防及改善的详解;

【博主简介】本人“ 爱在七夕时 ”,系一名半导体行业质量管理从业者,旨在业余时间不定期的分享半导体行业中的:产品质量、失效分析、可靠性分析和产品基础应用等相关知识。常言:真知不问出处,所分享的内容
2025-11-14 21:52:26858

亿纬锂能获评第九批国家级制造业单项冠军企业

近日,广东省工业和信息化厅发布第九批制造业单项冠军企业公示名单,亿纬锂能锂锰原电池(组)成功获评国家级制造业单项冠军。这是继锂亚电池、电池电容器(SPC)之后,亿纬锂能第三次斩获单项冠军殊荣,彰显了企业在锂电池细分领域的持续领跑实力。
2025-11-06 09:28:43593

晶背暴露的MOS管漏电怎么查?热红外显微镜Thermal EMMI 热点分析案例

失效机理。 #芯片分析 #热成像 #失效分析 #漏电测试 #红外显微镜 #MOS管#iv曲线 致晟光电每一次定位、每一张热像, 都在推动失效分析往更精准、更科学的方向迈进
2025-10-31 16:08:331256

电子元器件典型失效模式与机理全解析

在现代电子设备中,元器件的可靠性直接影响着整个系统的稳定运行。本文将深入探讨各类电子元器件的典型失效模式及其背后的机理,为电子设备的设计、制造和应用提供参考。典型元件一:机电元件机电元件包括电连接器
2025-10-27 16:22:56374

电子元器件失效分析之金铝键合

电子元器件封装中的引线键合工艺,是实现芯片与外部世界连接的关键技术。其中,金铝键合因其应用广泛、工艺简单和成本低廉等优势,成为集成电路产品中常见的键合形式。金铝键合失效这种现象虽不为人所熟知,却是
2025-10-24 12:20:57444

探秘键合点失效:推拉力测试机在半导体失效分析中的核心应用

个微小的键合点失效,就可能导致整个模块功能异常甚至彻底报废。因此,对键合点进行精准的强度测试,是半导体封装与失效分析领域中不可或缺的一环。 本文科准测控小编将围绕Alpha W260推拉力测试机这一核心设备,深入浅出地
2025-10-21 17:52:43701

MSD失效的“爆米花”效应

在电子制造领域,潮湿敏感器件(MSD)的失效已成为影响产品最终质量与长期可靠性的关键挑战之一。随着电子产品不断向轻薄化、高密度化方向发展,MSD在使用与存储过程中因吸湿导致的界面剥离、裂纹扩展乃至
2025-10-20 15:29:39415

常见的电子元器件失效分析汇总

电子元器件失效可能导致电路功能异常,甚至整机损毁,耗费大量调试时间。部分半导体器件存在外表完好但性能劣化的“软失效”,进一步增加了问题定位的难度。电阻器失效1.开路失效:最常见故障。由过电流冲击导致
2025-10-17 17:38:52900

深度解析LED芯片与封装失效机理

失效和封装失效的原因,并分析其背后的物理机制。金鉴实验室作为一家专注于LED产业的科研检测机构,致力于改善LED品质,服务LED产业链中各个环节,使LED产业健康
2025-10-14 12:09:44242

集成电路制造中封装失效的机理和分类

随着封装技术向小型化、薄型化、轻量化演进,封装缺陷对可靠性的影响愈发凸显,为提升封装质量需深入探究失效机理与分析方法。
2025-09-22 10:52:43807

热发射显微镜下芯片失效分析案例:IGBT 模组在 55V 就暴露的问题!

分享一个在热发射显微镜下(Thermal EMMI) 芯片失效分析案例,展示我们如何通过 IV测试 与 红外热点成像,快速锁定 IGBT 模组的失效点。
2025-09-19 14:33:022288

LED驱动电路失效分析及解决方案

近年来,随着LED照明市场的快速扩张,越来越多的企业加入LED研发制造行列。然而行业繁荣的背后,却隐藏着一个令人担忧的现象:由于从业企业技术实力参差不齐,LED驱动电路质量差异巨大,导致灯具失效事故
2025-09-16 16:14:52836

LED失效原因分析与改进建议

LED寿命虽被标称5万小时,但那只是25℃下的理论值。高温、高湿、粉尘、电流冲击等现场条件会迅速放大缺陷,使产品提前失效。统计表明,现场失效多集中在投运前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常见
2025-09-12 14:36:55641

自恢复保险丝 PPTC 有哪些可能失效的情况?

自恢复保险丝 PPTC 有哪些可能失效的情况?
2025-09-08 06:27:58

边聊安全 | 安全通讯中的失效率量化评估

安全通讯中的失效率量化评估写在前面:在评估硬件随机失效对安全目标的违反分析过程中,功能安全的分析通常集中于各个ECU子系统的PMHF(安全目标违反的潜在失效概率)计算。通过对ECU所有子系统
2025-09-05 16:19:135719

有害气体监测IOT平台方案

在石油化工、冶金冶炼、矿山开采等高危行业生产场景中,有害气体(如硫化氢、一氧化碳、氨气、氯气等)的泄漏与超标会直接威胁作业人员生命安全、损坏生产设备,甚至引发爆炸、环境污染等重大事故。 目前,多数
2025-09-02 10:34:25445

有害气体监测与风机控制一体化物联网解决方案

在某大型钢铁冶炼厂区,高温冶炼过程中会产生大量一氧化碳(CO)、二氧化硫(SO₂)等有害气体,若未能及时监测与处理,不仅威胁作业人员生命安全,还可能引发爆炸等严重事故,对企业经营带来极大威胁。 但
2025-09-02 10:28:43603

五大常见电子元器件的失效全解析

电子设备中绝大部分故障最终都可溯源至元器件失效。熟悉各类元器件的失效模式,往往仅凭直觉就能锁定故障点,或仅凭一次简单的电阻、电压测量即可定位问题。电阻器类电阻器家族包括固定电阻与可变电阻(电位器
2025-08-28 10:37:15783

MDD稳压二极管开路失效问题解析

现开路、短路或参数漂移等问题。其中,开路失效是一种较为典型的失效模式,对电路功能影响很大。作为FAE,在现场支持客户时,常常需要针对这种现象进行分析和解答。一、什么是
2025-08-28 09:39:37555

风华贴片电感的失效模式有哪些?如何预防?

,系统分析风华贴片电感的典型失效模式,并提出针对性预防措施。 ​一、典型失效模式分析 1.  磁路破损类失效 磁路破损是贴片电感的核心失效模式之一,具体表现为磁芯裂纹、磁导率偏差及结构断裂。此类失效通常源于以下原
2025-08-27 16:38:26658

IGBT 芯片表面平整度差与 IGBT 的短路失效机理相关性

一、引言 IGBT(绝缘栅双极型晶体管)作为电力电子领域的核心器件,广泛应用于新能源汽车、智能电网等关键领域。短路失效是 IGBT 最严重的失效模式之一,会导致系统瘫痪甚至安全事故。研究发现
2025-08-25 11:13:121348

电子元器件为什么会失效

电子元器件失效是指其在规定工作条件下,丧失预期功能或性能参数超出允许范围的现象。失效可能发生于生命周期中的任一阶段,不仅影响设备正常运行,还可能引发系统级故障。导致失效的因素复杂多样,可系统性地归纳
2025-08-21 14:09:32983

IGBT短路失效分析

短路失效网上已经有很多很详细的解释和分类了,但就具体工作中而言,我经常遇到的失效情况主要还是发生在脉冲阶段和关断阶段以及关断完毕之后的,失效的模式主要为热失效和动态雪崩失效以及电场尖峰过高失效(电流分布不均匀)。理论上还有其他的一些失效情况,但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:544039

浅谈常见芯片失效原因

在半导体制造领域,电气过应力(EOS)和静电放电(ESD)是导致芯片失效的两大主要因素,约占现场失效器件总数的50%。它们不仅直接造成器件损坏,还会引发长期性能衰退和可靠性问题,对生产效率与产品质量构成严重威胁。
2025-08-21 09:23:051497

推拉力测试机在CBGA焊点强度失效分析中的标准化流程与实践

有限元仿真技术,建立了CBGA焊点失效分析的完整方法体系。通过系统的力学性能测试与多物理场耦合仿真,揭示了温度循环载荷下CBGA焊点的失效演化规律,为高可靠性电子封装设计与工艺优化提供了理论依据和技术支持。 一、CBGA焊点失效原理 1、 失效机理 CBGA焊
2025-08-15 15:14:14576

如何用FIB截面分析技术做失效分析

在半导体器件研发与制造领域,失效分析已成为不可或缺的环节,FIB(聚焦离子束)截面分析,作为失效分析的利器,在微观世界里大显身手。它运用离子束精准切割样品,巧妙结合电子束成像技术,实现对样品内部结构
2025-08-15 14:03:37865

怎么找出PCB光电元器件失效问题

限制,PCB在生产和应用中常出现失效,引发质量纠纷。为查明原因、解决问题并明确责任,失效分析成为必不可少的环节。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任务是基于失效
2025-08-15 13:59:15630

降低失效成本,高精度CT检测新能源汽车功率模块

降低失效成本,高精度CT检测新能源汽车功率模块
2025-08-08 15:56:09608

金相技术在PCB失效分析中应用

使用PCB印刷电路板。其质量的好坏和可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。PCB金相切片分析是通过切割取样、镶嵌、磨抛、蚀刻、观察等一系列制样步骤获得PCB截面结构切
2025-08-06 13:02:33430

机械设备中轴承磨损失效模式剖析与测量

的正常运行和使用寿命有着重要影响。美能超景深显微镜可对轴承磨损的进行亚微米级的测量与分析,为轴承磨损的研究提供了精准的数据支持。#轴承磨损失效的主要模式.01磨粒磨损
2025-08-05 17:52:39995

RoHS电子电器有害物质介绍

一、什么是RoHS?RoHS是“RestrictionofHazardousSubstances”的缩写,中文译为“有害物质限制指令”,是欧盟为保护环境和人体健康而制定的环保法规,主要限制电子电器
2025-07-25 17:59:472203

《电器电子产品有害物质限制使用要求》资讯

2025年4月21日,工业和信息化部完成对《电器电子产品有害物质限制使用要求》等3项强制性国家标准(报批稿)的意见征集。该标准是我国RoHS管控体系中首次以“强制性国家标准”形式发布的顶层文件
2025-07-25 13:26:032233

芯片失效步骤及其失效难题分析

芯片失效分析的主要步骤芯片开封:去除IC封胶,同时保持芯片功能的完整无损,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受损伤,为下一步芯片失效分析实验做准备。SEM
2025-07-11 10:01:152706

针对芯片失效的专利技术与解决方法

,为了弄清楚各类异常所导致的失效根本原因,IC失效分析也同样在行业内扮演着越来越重要的角色。一块芯片上集成的器件可达几千万,因此进行集成电路失效分析必须具备先进、准确的技术和设备,并由具有相关专业知识的半导体分析人员开展分析工作。
2025-07-10 11:14:34591

浅谈封装材料失效分析

在电子封装领域,各类材料因特性与应用场景不同,失效模式和分析检测方法也各有差异。
2025-07-09 09:40:52999

芯片封装失效的典型现象

本文介绍了芯片封装失效的典型现象:金线偏移、芯片开裂、界面开裂、基板裂纹和再流焊缺陷。
2025-07-09 09:31:361505

LED失效的典型机理分析

一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中,芯片缺陷是一个不容忽视的因素。失效的LED器件表现出正向压降(Vf)增大的现象,在电测过程中,随着正向电压的增加,样品仍能发光,这暗示着LED内部可能存在电连接
2025-07-08 15:29:13561

电解电容失效因素解析与预防策略

电解电容作为电子电路中关键的储能与滤波元件,其可靠性直接影响设备性能与寿命。然而,受材料、工艺、环境等因素影响,电解电容易发生多种失效模式。本文将系统梳理其失效因素,并提出针对性预防措施。 一、核心
2025-07-08 15:17:38783

带单点失效保护的15W电源管理方案

芯片单点失效保护是一种关键的安全设计机制,旨在确保当芯片的某一组件发生故障时,系统不会完全崩溃或引发连锁性失效,而是进入预设的安全状态。今天推荐的15W电源管理方案,主控芯片就自带单点失效保护功能。接下来,一起走进U6218C+U7712电源方案组合!
2025-07-08 13:44:17766

LED芯片失效和封装失效的原因分析

芯片失效和封装失效的原因,并分析其背后的物理机制。金鉴实验室是一家专注于LED产业的科研检测机构,致力于改善LED品质,服务LED产业链中各个环节,使LED产业健康
2025-07-07 15:53:25765

连接器会失效情况分析

连接器失效可能由电气、机械、环境、材料、设计、使用不当或寿命到期等多种原因引起。通过电气、机械、外观和功能测试,可以判断连接器是否失效。如遇到失效的情况需要及时更新,保证工序的正常进行。
2025-06-27 17:00:56654

聚徽——电容失效模式全解:鼓包、漏液、击穿的「诱因与预防」

电容作为电子电路中的核心元件,其可靠性直接影响系统性能。然而,鼓包、漏液、击穿等失效模式却成为制约电容寿命的「隐形杀手」。本文将从失效机理、诱因分析及预防策略三个维度,深度解析这些故障的根源与应对
2025-06-19 10:21:153123

LED无鉴定能彻底规避硫化问题

在LED行业风光无限的背后,隐藏着巨大的品质风险。当前,无论是外资LED厂商,还是本土LED企业,都遇到了相同的困扰——LED硫化问题。而在硫化发生后,LED厂家所能获取到的硫化线索,基本来自应用端在硫化异常发生后的反馈,其时间跨度长,产品金额巨大却又无法挽回损失,由此引发的客诉案例颇为棘手。硫化的LED灯珠可鉴定的产品LED工厂所需的各种辅料、LED各项原
2025-06-17 15:34:18600

SEM扫描电镜断裂失效分析

中图仪器SEM扫描电镜断裂失效分析采用钨灯丝电子枪,其电子枪发射电流大、稳定性好,以及对真空度要求不高,使得钨灯丝台式扫描电镜能够在较短的时间内达到稳定的工作状态并获得清晰的图像,从而提高了检测效率
2025-06-17 15:02:09

LED芯片电极中的铝反射层被含胶水腐蚀现象触目惊心!

降低成本。但铝是一种比较活泼的金属,一旦封装厂来料管控不严,使用含超标的胶水,金电极中的铝反射层就会与胶水中的发生反应,从而发生腐蚀现象。近期类似案例数目有急剧增多的
2025-06-16 15:08:481210

ATS失效请求报文问题的故障排除步骤

本篇文章提供了解决 ATS 失效请求报文问题的故障排除步骤,主要聚焦在 CQ 接口上未显示主机发送的报文的情况。
2025-06-09 15:17:441304

新能源汽车焊接材料五大失效风险与应对指南——从焊点看整车可靠性

本文从厂家视角解析新能源汽车焊接封装材料四大失效模式:机械失效(热循环与振动导致焊点疲劳)、热失效(高温下焊点软化与散热不足)、电气失效(电迁移与接触电阻增大)、环境失效(腐蚀与吸湿膨胀)。结合行业
2025-06-09 10:36:492097

浅谈射频同轴连接器的失效原因

同轴产品在使用中总会碰到问题,可能涉及到连接器也可能涉及到安装的电缆,本期将围绕总结3个大点8种同轴连接的失效原因,并对不同问题分别进行解析。
2025-06-04 10:00:551607

四川成都某小区:凯米斯科技余氯总分析仪为居民用水安全保驾护航

在成都这座现代都市的一个小区中,凯米斯科技余氯总分析仪正默默地守护着居民的饮用水安全,构筑起一道坚不可摧的保护屏障。凯米斯科技余氯总分析仪凭借其精确而高效的监测技术,严格监控小区的水质,确保居民
2025-05-28 18:05:17335

部分外资厂商IGBT模块失效报告作假对中国功率模块市场的深远影响

部分IGBT模块厂商失效报告作假的根本原因及其对中国功率模块市场的深远影响,可以从技术、商业、行业竞争等多维度分析,并结合中国功率模块市场的动态变化进行综合评估: 一、失效报告作假的根本原因 技术
2025-05-23 08:37:56801

电源致LED灯珠发黑硫化案例

LED电源里原物料当LED硫化现象发生后,照明厂首先排查的是灯具的生产、储存、通电老化环境,却忽视了灯具的内置电源。LED电源里面有三四十种原物料,这些物料里面也可能含有和溴元素。在密闭、高温
2025-05-22 17:29:45601

MDD稳压二极管失效模式分析:开路、热击穿与漏电问题排查

在电子系统中,MDD稳压二极管(ZenerDiode)凭借其在反向击穿区域的稳定电压特性,被广泛应用于电压参考、过压保护和稳压电路中。然而在实际应用中,稳压管并非“永不失手”。其失效往往会直接影响
2025-05-16 09:56:081095

LED产品SMT生产流程防注意事项

,也有可能遇到大量含的材料。LED应用产品SMT生产流程图MCPCB板材进行的成分分析鉴于在高温环境下比较活跃,金鉴实验室建议在SMT作业时,可在表面贴装前预先将
2025-05-15 16:07:34706

离子研磨在芯片失效分析中的应用

芯片失效分析中对芯片的截面进行观察,需要对样品进行截面研磨达到要观察的位置,而后再采用光学显微镜(OM Optical Microscopy)或者扫描电子显微(SEM Scanning Electron Microscopy)进行形貌观察。
2025-05-15 13:59:001657

HDMI接口芯片失效原因分析和HDMI接口芯片改善措施与选型

HDMI接口芯片 失效原因分析和改善措施     HDMI,全称 High Definition Multimedia Interface, 即高清多媒体接口。自问世以来,HDMI 历经了多次版本
2025-05-09 11:16:1330892

元器件失效分析有哪些方法?

失效分析的定义与目标失效分析是对失效电子元器件进行诊断的过程。其核心目标是确定失效模式和失效机理。失效模式指的是我们观察到的失效现象和形式,例如开路、短路、参数漂移、功能失效等;而失效机理则是指导
2025-05-08 14:30:23910

如何找出国巨贴片电容引脚断裂失效的原因?

国巨贴片电容作为电子电路中的关键元件,其引脚断裂失效会直接影响电路性能。要找出此类失效原因,需从机械应力、焊接工艺、材料特性及电路设计等多维度展开系统性分析。 一、机械应力损伤的排查 在电路板组装
2025-05-06 14:23:30641

元器件失效之推拉力测试

元器件失效之推拉力测试在当代电子设备的生产与使用过程中,组件的故障不仅可能降低产品的性能,还可能导致产品彻底失效,给用户带来麻烦和经济损失,同时对制造商的声誉和成本也会造成负面影响。为什么要做推拉
2025-04-29 17:26:44679

MDDTVS管失效模式大起底:热击穿、漏电流升高与反向击穿问题解析

在电子设计中,MDD-TVS管是保护电路免受瞬态电压冲击的重要器件。然而,TVS管本身在恶劣环境或选型、应用不当时,也可能出现失效问题。作为FAE,本文将系统梳理TVS管常见的三大失效模式——热击穿
2025-04-28 13:37:05954

向电源行业的功率器件专家致敬:拆穿海外IGBT模块厂商失效报告造假!

模块失效分析中的不当行为,维护了行业信誉与国家尊严,这一过程不仅涉及精密的技术验证,更体现了国产供应链从被动依赖到主动主导的转变。以下从技术对抗、商业博弈、产业升级角度展开分析: 一、事件本质:中国电力电子行业功率器
2025-04-27 16:21:50564

破局SiC封装瓶颈 | 攻克模组失效分析全流程问题

分析方面面临诸多挑战,尤其是在化学开封、X-Ray和声扫等测试环节,国内技术尚不成熟。基于此,广电计量集成电路测试与分析研究所推出了先进封装SiC功率模组失效分析
2025-04-25 13:41:41747

MDD超快恢复二极管的典型失效模式分析:如何避免过热与短路?

使用环境导致失效,常见的失效模式主要包括过热失效和短路失效。1.过热失效及其规避措施过热失效通常是由于功率损耗过大、散热不良或工作环境温度过高导致的。主要成因包括:正向
2025-04-11 09:52:17685

电子元器件失效分析与典型案例(全彩版)

本资料共分两篇,第一篇为基础篇,主要介绍了电子元器件失效分析基本概念、程序、技术及仪器设备;第二篇为案例篇,主要介绍了九类元器件的失效特点、失效模式和失效机理以及有效的预防和控制措施,并给出九类
2025-04-10 17:43:54

详解半导体集成电路的失效机理

半导体集成电路失效机理中除了与封装有关的失效机理以外,还有与应用有关的失效机理。
2025-03-25 15:41:371791

HDI板激光盲孔底部开路失效原因分析

高密度互联(HDI)板的激光盲孔技术是5G、AI芯片的关键工艺,但孔底开路失效却让无数工程师头疼!SGS微电子实验室凭借在失效分析领域的丰富经验,总结了一些失效分析经典案例,旨在为工程师提供更优
2025-03-24 10:45:391271

PCB失效分析技术:保障电子信息产品可靠性

问题。为了确保PCB的质量和可靠性,失效分析技术显得尤为重要。外观检查外观检查是失效分析的第一步,通过目测或借助简单仪器(如立体显微镜、金相显微镜或放大镜)对PC
2025-03-17 16:30:54935

栅极驱动芯片LM5112失效问题

请大佬看一下我这个LM5112驱动碳化硅MOS GC3M0065090D电路。负载电压60V,电路4A以下时开关没有问题,电流升至5A时芯片失效,驱动输出电压为0。 有点无法理解,如果电流过大为什么会影响驱动芯片的性能呢? 请多指教,谢谢!
2025-03-17 09:33:06

封装失效分析的流程、方法及设备

本文首先介绍了器件失效的定义、分类和失效机理的统计,然后详细介绍了封装失效分析的流程、方法及设备。
2025-03-13 14:45:411819

太诱电容的失效分析:裂纹与短路问题

太诱电容的失效分析,特别是针对裂纹与短路问题,需要从多个角度进行深入探讨。以下是对这两个问题的详细分析: 一、裂纹问题 裂纹成因 : 热膨胀系数差异 :电容器的各个组成部分(如陶瓷介质、端电极
2025-03-12 15:40:021222

stm32h750vbt6设置了LSE后,装载后RESET失效了怎么解决?

stm32h750vbt6设置了LSE后,装载后RESET失效
2025-03-07 15:16:06

高密度封装失效分析关键技术和方法

高密度封装技术在近些年迅猛发展,同时也给失效分析过程带来新的挑战。常规的失效分析手段难以满足结构复杂、线宽微小的高密度封装分析需求,需要针对具体分析对象对分析手法进行调整和改进。
2025-03-05 11:07:531289

DLPC3433部分DSI失效的原因?如何解决?

部分板子,在无法实现第4步,始终无法显示系统输出的DSI,接入后,仍然是马赛克图案。 我们可以确保我们输出的DSI没有问题,因为正常板子是可以输出完整的DSI视频信息,同时我们是同一批生产的板子,目前出现不一致的情况。 请求帮助: 分析DLPC3433部分DSI失效的原因,以及改进的措施
2025-02-21 07:24:24

芯片失效分析的方法和流程

  本文介绍了芯片失效分析的方法和流程,举例了典型失效案例流程,总结了芯片失效分析关键技术面临的挑战和对策,并总结了芯片失效分析的注意事项。     芯片失效分析是一个系统性工程,需要结合电学测试
2025-02-19 09:44:162908

ER34615 14.4V 57000mAh 一次性锂亚锂离子电池 物联网用

,不妨考虑 ER34615 14.4V 57000mAh 一次性锂亚锂离子电池,它可能会成为你项目成功的关键助力。
2025-02-13 15:46:55800

EvE锂亚电池ER17505 焊脚3600mAh 3.6V智能水表

EvE 锂亚电池 ER17505 凭借其高容量、稳定电压和便捷的焊脚设计,成为智能水表的理想电源选择。它不仅保障了我们日常生活中用水数据的准确计量,也推动了智能水表行业的发展。下次当你看到
2025-02-13 14:49:33904

雪崩失效和过压击穿哪个先发生

在电子与电气工程领域,雪崩失效与过压击穿是两种常见的器件失效模式,它们对电路的稳定性和可靠性构成了严重威胁。尽管这两种失效模式在本质上是不同的,但它们之间存在一定的联系和相互影响。本文将深入探讨雪崩失效与过压击穿的发生顺序、机制、影响因素及预防措施,为技术人员提供全面、准确的技术指导。
2025-01-30 15:53:001271

PCB及PCBA失效分析的流程与方法

PCB失效分析:步骤与技术作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽PCB(PrintedCircuitBoard,印刷电路板)已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分,其质量的好坏与可靠性水平决定
2025-01-20 17:47:011696

有卤锡膏和无卤锡膏的区别?

最多的是、溴、铵类等卤素,常见的有卤锡膏包括氯化物、溴化物等。在锡膏助焊剂中添加少量的卤素盐,可以明显提高锡膏的焊接活性。无卤锡膏:指不含卤素的锡膏,通常使用碳
2025-01-20 15:41:101526

整流二极管失效分析方法

整流二极管失效分析方法主要包括对失效原因的分析以及具体的检测方法。 一、失效原因分析 防雷、过电压保护措施不力 : 整流装置未设置防雷、过电压保护装置,或保护装置工作不可靠,可能因雷击或过电压而损坏
2025-01-15 09:16:581589

LED失效分析重要手段——光热分布检测

光热分布检测意义在LED失效分析领域,光热分布检测技术扮演着至关重要的角色。LED作为一种高效的照明技术,其性能和寿命受到多种因素的影响,其中光和热的分布情况尤为关键。光热分布不均可能导致芯片界面
2025-01-14 12:01:24738

如何有效地开展EBSD失效分析

失效分析的重要性失效分析其核心任务是探究产品或构件在服役过程中出现的各种失效形式。这些失效形式涵盖了疲劳断裂、应力腐蚀开裂、环境应力开裂引发的脆性断裂等诸多类型。深入剖析失效机理,有助于工程师
2025-01-09 11:01:46996

王东海最新Nature Materials:全固态锂电池新突破

研究背景 全固态锂(Li-S)电池因其高的能量密度、优异的安全性和长的循环寿命在下一代电池技术中展现出巨大潜力。然而,全固态Li-S电池中的转化反应受到界面三相接触限制的影响,导致其活性
2025-01-09 09:28:171974

PCBA三防漆工艺腐蚀失效分析

的使用寿命。狭义的三防通常是指防湿热、防腐蚀(包括盐雾、酸碱腐蚀性液体、腐蚀性气体、防电化学迁移)、防霉菌,事实上三防还包括各种环境应力保护,如防震、防尘、防辐射、防静电、防鼠伤等,以确保PCBA不会因保护不当而失效,从而延长产品的使用寿命。
2025-01-06 18:12:041060

已全部加载完成