光学薄膜瑕疵检测系统的原理、参数及功能

精谱测控光学薄膜瑕疵检测系统原理

随着人们对产品质量要求越来越高，产品表面质量检测变得日益重要，过去很多表面缺质量测是依靠人工检测，这种检测方法效率低，受到人的情绪影响比较大，因此，采用机器视觉的方法来检测表面质量是一个比较好的方法。

传统的检测方法如人工目视抽检速度慢、精度低、易疲劳已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求。在薄膜的生产过程中，由于生产工艺及现场环境等影响，容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷。这些缺陷不仅影响薄膜产品的外观，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生产的根源，实现控制和提高薄膜的表面质量，一直是薄膜企业追求的目标。基于CCD的薄膜表面瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠、准确的优点，实时在线检测，自动报警并显示当前瑕疵的具体信息，以便及时进行处理。

精谱测控光学薄膜瑕疵检测系统原理：

视觉系统的输出并非图像视频信号，而是经过运算处理之后的检测结果（如缺陷、尺寸等数据）。通常，机器视觉检测就是用机器代替肉眼来做测量和判断。首先采用CCD照相机将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号。

图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如：面积、长度、数量、位置等。最后，根据预设的容许度和其他条件输出结果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、个数、合格/不合格、有/无等。上位机（如PC和PLC）实时获得检测结果后，指挥运动系统或I/O系统执行相应的控制动作（如定位和分类）。

精谱测控光学薄膜瑕疵检测系统技术参数：

检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度：Max：800m/min

检测幅宽：任意（根据生产线定制）

检测精度：0.1mm~1mm（取决于相机数量、产线幅宽及车速）

瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

精谱测控光学薄膜瑕疵检测系统功能：

精确的瑕疵坐标（X，Y坐标）定位及显示；

自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵图像；

实时瑕疵标定，记录瑕疵直径、坐标、类型等信息；

实时监测米数，报警信息显示；

产品基本信息模块，记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息；

根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类；

自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；

自动换卷，自动打印每一卷产品信息的质量报表；

检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能

责任编辑：tzh