薄膜污点检测设备的原理、功能及技术参数

由于生产工艺及现场环境等影响，容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、麻点、破洞、线条、褶皱、蚊虫、划伤等瑕疵，不仅影响严重薄膜产品的外观，更是给企业带来经济损失。只有在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷，从生产的根源来消除瑕疵，控制和提高薄膜的表面质量，才是最行之有效的办法。

传统的检测方法如人工目视抽检速度慢、精度低、易疲劳已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求。基于CCD的赛默斐视薄膜污点检测设备与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠、准确的优点，实时在线检测，自动报警并显示当前瑕疵的具体信息，以便及时进行处理。

赛默斐视薄膜污点检测设备主要用于检测薄膜在生产过程中表面出现的黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷，借助于由工业CCD相机、高亮LED线性聚光光源组成的薄膜表面缺陷检测的成像系统，及时准确的反应缺陷的的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息，在为质量控制、产品评级提供真是准确数据的同时，有效的节约了生产成本、提高了产品质量。

赛默斐视薄膜污点检测设备检测原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

赛默斐视薄膜污点检测设备技术参数：

检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度：Max：800m/min

检测幅宽：任意（根据生产线定制）

检测精度：0.1mm~1mm（取决于相机数量、产线幅宽及车速）

瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

赛默斐视薄膜污点检测设备功能：

（1）精确的瑕疵地图（X、Y坐标）定位显示模块；

（2）自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵的瑕疵图像；

（3）实时瑕疵信息展示，记录当前瑕疵的类型、面积（直径）、横纵向位置等信息；

（4）产品基本信息模块，记录产品批次号、型号、规格、班号、操作员等信息（用户可根据生产情况进行修改）；

（5）实时的检测米数、报警信息显示；

（6）根据瑕疵面积大小、形状、灰阶差异等特征实现瑕疵的自动分类；

（7）周期性、连续性瑕疵的自动报警；

（8）自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；

（9）自动换卷，并自动打印每一卷产品信息的质量报表；

（10）检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能；

（11）长时间、大容量的历史记录存储；

（12）产线的自动化联动、远程技术服务等；

注：软件功能可根据用户的不同要求进行特殊功能的定制开发。

责任编辑：tzh