保护薄膜表面瑕疵检测系统的原理及特点

赛默斐视保护薄膜表面瑕疵检测系统-高品质在线检测——赛默斐视保护薄膜表面瑕疵检测系统可根据客户的具体需求搭建出符合要求的薄膜表面瑕疵缺陷检测系统，系统可以准确地识别薄膜生产中的瑕疵从而进行及时的反馈生产线表面的缺陷信息，并对这些瑕疵进行分类处理，比人工进行瑕疵检测大大提高了生产的效率，节省了成本，更好地保证了薄膜的质量。

赛默斐视保护薄膜表面瑕疵检测系统的原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

赛默斐视保护薄膜表面瑕疵检测系统主要技术指标：

1、测量精度：0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵；

2、适用宽度：按要求定制；

3、CCD数量：依被测物宽度及检测精度决定；

4、检测常见的瑕疵，对瑕疵缺陷信息进行处理，实时提供瑕疵的位置、大小，以及记录供用户参考核对；

5、系统可设置瑕疵报警的参数，用户可根据生产要求设置报警线，实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

赛默斐视保护薄膜表面瑕疵检测系统特点：

量身定制的专用系统：SIMV系统是充分对客户进行调研，根据车速、幅宽、塑料薄膜品种、最小检测要求为其量身定制的。也就是说，赛默斐视力求以专用的相机和专用的长效光源，并根据客户样品测试分析出最合理的解决方案以达到性价比的最优化。

实时检测：SIMV系统的安装位置一般在卷取部之前，可以实现24小时不间断进行检测、识别和分类显示各种薄膜表面缺陷，对任何高速和宽度的生产线都可以100%地实现实时在线检测。操作人员可以即时观测到缺陷的图象，并可根据系统准确提供的缺陷位置信息，在后续生产过程中实时进行剪切或修复缺陷等措施。

自动精准定位：系统具有标记打印器以用来指示缺陷的准确位置，操作人员可以根据需要对要处理的缺陷做标记，复卷操作人员可以手动地将复卷机停在缺陷处对缺陷处进行修复。另外，可以通过调用存储的塑料薄膜缺陷记录，反向复现并与传动实现联锁，从而使复卷机能够准确自动地停在塑料薄膜缺陷处，以便进行修复。

易于维护：基于以太网的构架和模块化的控制单元，实现远程系统更新维护，从而保证了整个系统工作的稳定性。另外，该系统人性化的外安装结构及合理布局，也使维护变得更方便。

操作方便：SIMV系统具有友好的中文界面，易操作，同时系统可以根据生产商的要求进行硬件和软件上的升级，从而帮助生产商提高产品质量，适应国际市场要求。

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