薄膜瑕疵检测系统的原理、参数及功能

由于生产工艺及现场环境等影响，容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、麻点、破洞、线条、褶皱、蚊虫、划伤等瑕疵，不仅影响严重薄膜产品的外观，更是给企业带来经济损失。只有在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷，从生产的根源来消除瑕疵，控制和提高薄膜的表面质量，才是最行之有效的办法。

传统的检测方法如人工目视抽检速度慢、精度低、易疲劳已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求。基于CCD的精谱测控薄膜瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠、准确的优点，实时在线检测，自动报警并显示当前瑕疵的具体信息，以便及时进行处理。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统检测原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统技术参数：

检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度：Max：800m/min

检测幅宽：任意（根据生产线定制）

检测精度：0.1mm~1mm（取决于相机数量、产线幅宽及车速）

瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

精谱测控薄膜瑕疵检测系统功能：

（1）精确的瑕疵地图（X、Y坐标）定位显示模块；

（2）自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵的瑕疵图像；

（3）实时瑕疵信息展示，记录当前瑕疵的类型、面积（直径）、横纵向位置等信息；

（4）产品基本信息模块，记录产品批次号、型号、规格、班号、操作员等信息（用户可根据生产情况进行修改）；

（5）实时的检测米数检测米数、报警信息显示；

（6）根据瑕疵面积大小、形状、灰阶差异等特征实现瑕疵的自动分类；

（7）周期性、连续性瑕疵的自动报警；

（8）自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；

（9）自动换卷，并自动打印每一卷产品信息的质量报表；

（10）检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能；

（11）长时间、大容量的历史记录存储；

（12）产线的自动化联动、远程技术服务等；

注：软件功能可根据用户的不同要求进行特殊功能的定制开发。

责任编辑：tzh