薄膜表面瑕疵缺陷检测系统的相关原理介绍

精谱测控精谱测控薄膜缺陷检测系统强大的表面缺陷模式识别功能，根据表面缺陷的特征，在报警的同时，会指出导致该表面缺陷的设备、工艺问题所在，指导工人及时处理，从而有效的节约了生产成本、提高了产品质量。因此薄膜瑕疵在线检测系统成为高速薄膜生产线中不可或缺的检测设备。

精谱测控薄膜表面瑕疵缺陷检测系统的原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

系统规格及功能：

主要配置：高性能工业计算机、完全自主知识产权专用图像处理软件、高分辨率线扫描摄像机（2k-16k）、 led长寿命光源、专用工装及夹具；

主要性能：可以任意配置摄像机数量，以达到所需分辨率，最高检测速度可达500m/分钟；

主要功能：成品前、成品后的各种表面缺陷检测；自动记录位置（卷长方向和宽度方向）；自动判别疵点类型；自动保存疵点图片信息；系统自动生成卷材质量报表和疵点分布图表。

主要技术指标包括以下几点：

1、测量精度：0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵

2、适用宽度：按要求定制

3、CCD数量：依被测物宽度及检测精度决定

4、检测常见的瑕疵，对瑕疵缺陷信息进行处理，实时提供瑕疵的位置、大小，以及记录供用户参考核对

5、系统可设置瑕疵报警的参数，用户可根据生产要求设置报警线，实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

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