光学薄膜污点检测系统系统的原理、参数及功能

精谱测控光学薄膜污点检测系统主要用于各类薄膜产品的检测工作，可针对生产过程中的薄膜表面出现的断经、断纬、破洞、油污、经纬污、双纬、稀弄、粗节纱、空织、松紧经、圈纬、小散丝、松纬、经起毛、开口不清等瑕疵进行检测，同时系统会把检测出来的问题，提供生产统计质检报告，统计和分析各类疵点，完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。大大的节省了生产成本，为生产提质增效。那么薄膜瑕疵检测系统的检测方法及特点是什么呢？

精谱测控光学薄膜污点检测系统系统原理：

视觉系统的输出并非图像视频信号，而是经过运算处理之后的检测结果（如缺陷、尺寸等数据）。通常，机器视觉检测就是用机器代替肉眼来做测量和判断。首先采用CCD照相机将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号。

图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如：面积、长度、数量、位置等。最后，根据预设的容许度和其他条件输出结果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、个数、合格/不合格、有/无等。上位机（如PC和PLC）实时获得检测结果后，指挥运动系统或I/O系统执行相应的控制动作（如定位和分类）。

精谱测控光学薄膜污点检测系统技术参数：

检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度：Max：800m/min

检测幅宽：任意（根据生产线定制）

检测精度：0.1mm~1mm（取决于相机数量、产线幅宽及车速）

瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

精谱测控光学薄膜污点检测系统功能：

精确的瑕疵坐标（X，Y坐标）定位及显示；

自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵图像；

实时瑕疵标定，记录瑕疵直径、坐标、类型等信息；

实时监测米数，报警信息显示；

产品基本信息模块，记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息；

根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类；

自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；

自动换卷，自动打印每一卷产品信息的质量报表；

检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能

责任编辑：tzh