关于显微红外热点定位测试系统

广州市工业和信息化局发布了《关于广州市首台（套）重点技术装备推广应用指导目录（2020年版）的公示》的通知，金鉴实验室自主研发的显微红外热点定位测试系统成功入选广州市首台（套）重点技术装备推广应用指导目录（2020年版）。

首台（套）重大技术装备（以下简称“首台套”）是指：国内实现重大技术突破、拥有知识产权、尚未取得市场业绩的装备产品，包括前三台（套）或批（次）成套设备、整机设备及核心部件、控制系统、基础材料、软件系统等。

金鉴实验室自主研发的“显微红外热点定位测试系统”被认定为广州市首台（套）重点技术装备，是对金鉴在高端、精密仪器装备研发创新成果的肯定。金鉴显微红外热点定位测试系统是专为电子产品FA设计的高精智能化的测试系统，可应用于PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、热梯度。

金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过强化系统软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清金道与缺陷；热点锁定lock in功能，能够精准定位芯片微区缺陷；系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。

1.金鉴显微红外热点定位测试系统优点：

①　高灵敏度的锁相热成像缺陷定位；

②　配合电测，XRAY等对样品作无损分析；

③　选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片；

④　对短路及漏电流等分析效果佳；

⑤　5、0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗；

⑥　其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算；

⑦　相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受。

2.与国外同类设备相比，金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著：

3. 金鉴显微红外热点定位测试系统特色功能详细介绍、应用案例分析。

金鉴显微红外热点定位测试系统价格远低于国外同类产品，同样的功能，却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，并为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，是关注微观热分布的科研和生产必不可少工具。未来，金鉴实验室将继续发扬创新精神，加强重大技术装备研发能力，开发出更多具有自主知识产权、适合产业发展需求的仪器装备，为振兴我国高端科学仪器产业贡献力量。

金鉴显微红外热点定位测试系统已获得中科院、士兰明芯、瑞丰光电、聚飞光电等科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。产品性能卓著，值得信赖，欢迎采购！
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