薄膜缺陷检测系统的原理、功能及技术指标

基于CCD的精谱测控薄膜缺陷检测系统与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠、准确的优点，实时在线检测，自动报警并显示当前瑕疵的具体信息，以便及时进行处理。同时系统根据产品批次号对每一卷产品的检测报表自动保存，方便后期的查询、调用。从而实现了产品质量的评级分类、客诉有据追溯，大大节约了生产成本，提高了成品质量。薄膜瑕疵在线检测系统成为自动化薄膜生产线中不可或缺的一部分。

精谱测控薄膜缺陷检测系统原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

精谱测控薄膜缺陷检测系统主要技术指标：

1、测量精度：0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵；

2、适用宽度：按要求定制；

3、CCD数量：依被测物宽度及检测精度决定；

4、检测常见的瑕疵，对瑕疵缺陷信息进行处理，实时提供瑕疵的位置、大小，以及记录供用户参考核对；

5、系统可设置瑕疵报警的参数，用户可根据生产要求设置报警线，实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

精谱测控薄膜缺陷检测系统功能：

1.操作便捷

操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。

2.稳定性高

可连续工作在极端温度和厂房环境中。

3.100%幅面表面检测

发现疵点时可根据设定发出报警，提示及时修复，避免大量缺陷产品的产生。

4.完整的表面质量信息

材料表面疵点图像由计算机进行保存，每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息，产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。

5.高精度检测

方案可100%检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷，满足客户的不断提升的产品品质要求。

6.软件数据库管理功能

可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计，详细的缺陷记录（大小和位置）和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便;离线分析，用于后续分切和质量管理，可有效保证产品质量。

7.定位标识功能

每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。

8.系统联动

当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。

9.一键导出

一键导出EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

注：软件功能可根据用户要求实现完全定制！

责任编辑：tzh