安森美NVMFS6H858N MOSFET:高效与紧凑的完美结合
在电子设计领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)作为关键的功率开关器件,其性能直接影响着整个系统的效率和稳定性。今天,我们就来深入了解一下安森美(onsemi)推出的NVMFS6H858N单通道N沟道功率MOSFET。
文件下载:NVMFS6H858N-D.PDF
产品概述
NVMFS6H858N是一款耐压80V、最大电流32A的MOSFET,具有低导通电阻($R{DS(on)}$)和低栅极电荷($Q{G}$)的特点。其采用5x6mm的小尺寸封装,非常适合对空间要求较高的紧凑型设计。同时,该器件符合AEC - Q101标准,具备PPAP能力,并且是无铅产品,符合RoHS标准,可广泛应用于汽车、工业等领域。
关键特性
低损耗设计
- 低导通电阻:$R_{DS(on)}$最低可达20.7mΩ,能够有效降低导通损耗,提高系统效率。这对于需要长时间工作的功率电路来说,能够显著减少能量损耗,降低发热,提高系统的可靠性。
- 低栅极电荷和电容:低$Q_{G}$和电容特性可以减少驱动损耗,降低驱动电路的功耗,提高开关速度,使MOSFET能够更快速地响应控制信号,减少开关过程中的能量损失。
封装优势
- 小尺寸封装:5x6mm的封装尺寸为设计人员提供了更大的布局灵活性,尤其适用于对空间要求苛刻的应用场景,如便携式设备、汽车电子等。
- 可焊侧翼选项:NVMFS6H858NWF型号具有可焊侧翼设计,能够增强光学检测效果,提高焊接质量和生产效率。
可靠性保障
- AEC - Q101认证:经过AEC - Q101认证,确保了该器件在汽车等对可靠性要求极高的应用环境中的稳定性和可靠性。
- PPAP能力:具备生产件批准程序(PPAP)能力,能够满足汽车行业严格的质量和生产要求。
电气特性
最大额定值
| 在$T_{J}=25^{circ}C$的条件下,该MOSFET的主要最大额定值如下: | 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 漏源击穿电压 | $V_{DSS}$ | 80 | V | |
| 栅源电压 | $V_{GS}$ | ±20 | V | |
| 连续漏极电流($T_{C}=25^{circ}C$) | $I_{D}$ | 32 | A | |
| 连续漏极电流($T_{A}=25^{circ}C$) | $I_{D}$ | 8.4 | A | |
| 功率耗散($T_{A}=25^{circ}C$) | $P_{D}$ | 2.1 | W | |
| 工作结温和存储温度范围 | $T{J},T{stg}$ | -55 to +175 | °C |
电气参数
- 关断特性:漏源击穿电压$V{(BR)DSS}$为80V,零栅压漏电流$I{DSS}$在$T{J}=25^{circ}C$时为10μA,在$T{J}=125^{circ}C$时为250μA。
- 导通特性:栅极阈值电压$V{GS(TH)}$为4.0V,漏源导通电阻$R{DS(on)}$在$I_{D}=5A$时为20.7mΩ。
- 电容和电荷特性:输入电容$C{ISS}$为510pF,输出电容$C{OSS}$为80pF,反向传输电容$C{RSS}$为4.7pF,总栅极电荷$Q{G(TOT)}$为8.9nC。
- 开关特性:开通延迟时间$t{d(on)}$、上升时间$t{r}$、关断延迟时间$t{d(off)}$和下降时间$t{f}$等参数,确保了MOSFET在开关过程中的快速响应和低损耗。
典型特性曲线
文档中提供了一系列典型特性曲线,直观地展示了该MOSFET在不同条件下的性能表现。例如,在导通区域特性曲线中,可以看到不同栅源电压下漏极电流与漏源电压的关系;在转移特性曲线中,能够清晰地观察到漏极电流随栅源电压的变化情况。这些曲线对于设计人员进行电路设计和性能评估具有重要的参考价值。
封装尺寸和订购信息
NVMFS6H858N提供了DFN5和DFNW5两种封装形式,文档中详细给出了这两种封装的尺寸规格和引脚定义。同时,还提供了具体的订购信息,包括不同型号的标记和包装方式,方便设计人员进行选型和采购。
总结
安森美NVMFS6H858N MOSFET以其低损耗、小尺寸和高可靠性的特点,为电子工程师在功率电路设计中提供了一个优秀的选择。无论是在汽车电子、工业控制还是便携式设备等领域,该器件都能够发挥出其优势,帮助设计人员实现高效、紧凑的电路设计。在实际应用中,设计人员可以根据具体的需求和电路要求,合理选择该MOSFET,并结合文档中的电气参数和典型特性曲线,进行优化设计,以达到最佳的性能表现。
你在使用MOSFET进行设计时,是否遇到过类似的选型难题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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