0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

铝丝键合的具体步骤

中科院半导体所 来源:学习那些事 2025-07-16 16:58 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

文章来源:学习那些事

原文作者:前路漫漫

本文主要讲述铝丝键合的步骤。

铝丝键合常借助超声楔焊技术,通过超声能量实现铝丝与焊盘的直接键合。由于键合所用劈刀工具头为楔形,使得键合点两端同样呈楔形,因而该技术也被叫做楔形压焊。超声焊工艺较为复杂,键合劈刀的运动、线夹动作,以及工艺参数的施加时序,需相互协同配合,才能完成单根铝丝的键合过程。在此过程中,劈刀作为传递超声波功率、压力等关键工艺参数的媒介,其运动轨迹还对线弧的形状起着决定性作用。

具体步骤

1.穿丝与定位:将铝丝穿过超声换能器上的小孔,接着从劈刀尖端穿出,并让铝丝伸出劈刀一定长度作为尾丝。随后,把劈刀调整到第一键合点的正上方。

2.形成第一键合点:劈刀向下移动,以特定压力将铝丝压在焊盘表面,同时施加一定时长的超声波功率,由此形成第一个键合点。

3.线夹打开与劈刀上升:线夹打开,劈刀上升至预先设定的弧线高度。

4.移动至第二键合点:劈刀移动到第二键合点的上方。

5.送线准备:送线电磁螺线管启动,线夹向后移动,为压完第二键合点后送出铝丝,开展下一个键合循环做准备。

6.形成第二键合点:劈刀再次向下移动,将铝丝压在焊盘表面,同时施加超声能量与压力,完成第二个键合点的制作。

7.扯断引线:劈刀压住已形成的第二个键合点,随后扯线电磁阀启动,线夹向后移动,在第二键合点的根部扯断引线。

8.复位与循环准备:劈刀提升,线夹移至复位高度,扯线及送线电磁阀断电,复位弹簧使线夹回到初始位置,并将线尾送进劈刀内。重复上述循环步骤,进行下一根引线的键合。

总体来看,在超声楔焊过程中,铝丝与焊盘的键合界面吸收了由劈刀传递的充足超声能量,进而实现界面间的固态焊接。首先,楔形劈刀将铝丝按压在焊盘上,使铝丝和焊盘产生初始形变。接着,开启超声波能量,产生超声波振动。

经过特定时间,铝丝与焊盘之间形成高强度焊接,随后关闭超声波能量。之后,劈刀牵引键合丝形成线弧,并靠近第二键合点,重复上述键合过程,形成第二键合点。最后,扯断铝丝尾线(若是粗铝丝,则使用切刀切断尾线)。通常,铝丝形成一个键合点仅需10到100ms。

关键参数

铝丝超声键合的质量与键合压力、键合表面温度、超声功率及超声时间息息相关。这些关键工艺参数之间相互关联、相互影响,呈现出复杂的非线性关系。

键合压力主要发挥两方面作用:一是确保引线与焊区紧密接触,增大两者接触面积;二是促使引线发生塑性变形,破坏表面氧化层以暴露新鲜金属表面,为形成可靠键合点创造条件。在超声功率恒定的情况下,增大键合压力可提升键合质量;但压力过大会导致引线严重变形,反而降低键合强度。

不同的超声功率,意味着向界面输入能量的速率有所不同。而改变键合时间,本质上也是在改变输入的能量。当施加超声载荷时,从宏观层面来看,会导致材料软化以及金属变形;从微观层面来讲,则会产生位错网络,这些都使得界面扩散变得更加容易。互扩散的原子或原子团在材料中会产生固溶强化效应,进而促使键合强度得以生成。具体而言,在超声功率较小的情况下,键合强度对键合时间的变化较为敏感;而当超声功率较大时,键合强度对键合时间的敏感性则会降低。倘若键合参数设置不当,常常会引发诸如铝丝键合焊点跟部断裂、焊盘坑陷、起皮以及键合脱键等不良现象。

超声时间指在劈刀上施加键合压力与超声功率的持续时长,用于控制超声作用产生的能量。适宜的超声时间有助于清除铝丝表面氧化层,增强键合效果;时间过短会导致键合点狭窄或铝丝剥离,过长则可能造成根部断裂。

研究发现,键合强度与超声功率的关系大致呈开口向下的抛物线:当超声功率较小时,适当增大功率有助于提升键合强度,这是因为此时的功率条件利于铝丝软化、变形,进而形成微焊点和键合区;但当超声功率超过一定阈值后,继续增大功率反而会导致键合强度下降,且同一功率条件下不同样品的键合强度离散度也会增加。其原因在于,过大的超声功率会对键合点跟部产生切跟现象,且过量的超声能量会破坏键合界面,最终造成键合强度降低。

键合顺序通常为首次键合至芯片、二次键合至基板,即正向键合,因其不易受焊线与芯片间边缘短路的影响。特殊情况下,为降低封装厚度(需减小线弧高度),可采用反向键合。键合顺序同样会对封装性能产生影响。

超声键合界面

有研究借助透射电子显微(TEM)技术,对超声作用前后铝表面位错的生长情况展开了细致观察。发现超声作用促使铝表面产生了大量的新生位错,进而形成了位错簇。

依据扩散理论,在较低温度条件下,固体材料沿着位错的扩散系数要大于沿晶格的扩散系数(即体扩散)。位错扩散属于短路扩散的范畴,其扩散速度远比体扩散快得多。因此,在铝丝超声键合的过程中,短路扩散起到了主导作用。

在硅基芯片中,焊盘通常采用铝焊盘。铝作为一种化学性质较为活泼的金属,一旦与空气中的氧气接触,便会迅速发生氧化反应,在其表面形成一层氧化膜。最初生成的氧化膜会在一定程度上阻碍铝的进一步氧化。倘若铝层质地致密,当氧化膜达到一定厚度后,氧化过程就会停止。然而,过厚的Al₂O₃氧化膜会对金丝与铝焊盘之间的键合造成严重阻碍,甚至导致无法实现键合。所以,在芯片的制作、切片、清洗以及运输等一系列过程中,应尽可能减少其与空气的接触,尤其要避免人为因素导致的额外接触,因为这些都可能加剧铝焊盘表面的氧化程度。

针对键合界面的结合机制,众多学者进行了大量的研究,并由此提出了多种不同的假说。但无论如何,超声能量的运用,显著降低了键合界面原子扩散的难度,使得原子扩散更易于实现。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 芯片
    +关注

    关注

    463

    文章

    54433

    浏览量

    469395
  • 焊盘
    +关注

    关注

    6

    文章

    605

    浏览量

    39892
  • 键合
    +关注

    关注

    0

    文章

    107

    浏览量

    8305

原文标题:铝丝键合

文章出处:【微信号:bdtdsj,微信公众号:中科院半导体所】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    半导体引线键合熔断电流全解析:推拉力测试机如何提升器件可靠性?

    一、什么是引线熔断? 引线熔断是指半导体器件中互连引线在过大电流作用下发生过热、熔化甚至断开的现象。这一现象与引线的冶金性能、长度、环境气氛有关,还与类型(球形或楔形)、封装形
    的头像 发表于 04-20 10:50 145次阅读
    半导体引线<b class='flag-5'>键合</b>熔断电流全解析:推拉力测试机如何提升器件可靠性?

    高频超声键合技术:引线键合工艺优化与质量检测方法

    一、 什么是 高频超声键合 ? 高频超声键合是指将超声频率提升至100kHz~250kHz范围内进行的引线键合工艺,相较于传统60kHz超声键合技术而言,该技术通过在更高频率下施加超声
    的头像 发表于 04-01 10:19 139次阅读
    高频超声<b class='flag-5'>键合</b>技术:引线<b class='flag-5'>键合</b>工艺优化与质量检测方法

    半导体封装引线键合技术:超声键合步骤、优势与推拉力测试标准

    就为您详细拆解超声键合步骤、优势,并明确推拉力测试标准,为行业从业者提供实操性参考,助力优化超声键合工艺、提升质量管控水平。 一、什么是
    的头像 发表于 04-01 10:18 235次阅读
    半导体封装引线<b class='flag-5'>键合</b>技术:超声<b class='flag-5'>键合</b><b class='flag-5'>步骤</b>、优势与推拉力测试标准

    一文掌握超声键合系统核心—— 超声换能器

    、120kHz 甚至更高频率的微小振动,依靠这种高频振动实现金属引线与芯片、基板的可靠连接,是金丝、铝丝、铜丝工艺中不可或缺的 “动力核心”。 二、 工作原理 超声换能器的核心工作原理,依托压电效应实现能量转换,全程无需高温
    的头像 发表于 03-30 11:31 120次阅读
    一文掌握超声<b class='flag-5'>键合</b>系统核心—— 超声换能器

    详解引线的疲劳性能

    目前,行业内已针对温度循环和功率循环导致的引线键合可靠性问题开展了大量探讨,后续还将对金属疲劳进行明确定义,并列出部分典型的应力-失效循环次数(S-N)失效曲线,但暂未提供应力与失效循环次数相关
    的头像 发表于 03-17 09:33 522次阅读
    详解<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>引线的疲劳性能

    引线的存储寿命老化研究

    引线超过半年就必须丢弃吗?本文深度解析ASTM针对金丝与铝丝长达两年的老化研究,揭示退火态引线在恒温存储下的“硬核”稳定性。从细线延伸率波动到粗铝丝的再结晶机理,为您拆解引线长期贮
    的头像 发表于 03-16 16:57 529次阅读
    <b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>引线的存储寿命老化研究

    NTC热敏芯片工艺介绍

    随着半导体技术的持续创新及进步,NTC热敏芯片工艺也不断发展。目前,芯片工艺为顺应行业发展需求,正逐步往高度集成、低功耗、高可靠的方向前进。为了让大家更充分地了解NTC芯片
    的头像 发表于 02-24 15:42 427次阅读

    半导体芯片技术概述

    是芯片贴装后,将半导体芯片与其封装外壳、基板或中介层进行电气连接的工艺。它实现了芯片与外部世界之间的信号、电源和接地连接。是后端制造中最关键的
    的头像 发表于 01-20 15:36 918次阅读
    半导体芯片<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>技术概述

    详解芯片制造中的中间层技术

    依据中间层所采用的材料不同,中间层可划分为黏合剂与金属中间层两大类,下文将分别对其进
    的头像 发表于 01-16 12:54 1535次阅读
    详解芯片制造中的中间层<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>技术

    电子元器件失效分析之金铝

    电子元器件封装中的引线键合工艺,是实现芯片与外部世界连接的关键技术。其中,金铝因其应用广泛、工艺简单和成本低廉等优势,成为集成电路产品中常见的
    的头像 发表于 10-24 12:20 878次阅读
    电子元器件失效分析之金铝<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>

    芯片工艺技术介绍

    在半导体封装工艺中,芯片(Die Bonding)是指将晶圆芯片固定到封装基板上的关键步骤工艺可分为传统方法和先进方法:传统方法包
    的头像 发表于 10-21 17:36 3067次阅读
    芯片<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>工艺技术介绍

    IGBT 芯片平整度差,引发线与芯片连接部位应力集中,失效

    一、引言 在 IGBT 模块的可靠性研究中,线失效是导致器件性能退化的重要因素。研究发现,芯片表面平整度与线连接可靠性存在紧密关联。当芯片表面平整度不佳时,
    的头像 发表于 09-02 10:37 2180次阅读
    IGBT 芯片平整度差,引发<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>线与芯片连接部位应力集中,<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>失效

    混合(Hybrid Bonding)工艺介绍

    所谓混合(hybrid bonding),指的是将两片以上不相同的Wafer或Die通过金属互连的混合工艺,来实现三维集成,在Hybrid Bonding前,2D,2.5D及3
    的头像 发表于 07-10 11:12 4072次阅读
    混合<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>(Hybrid Bonding)工艺介绍

    混合工艺介绍

    所谓混合(hybrid bonding),指的是将两片以上不相同的Wafer或Die通过金属互连的混合工艺,来实现三维集成,在Hybrid Bonding前,2D,2.5D及3
    的头像 发表于 06-03 11:35 2884次阅读
    混合<b class='flag-5'>键</b><b class='flag-5'>合</b>工艺介绍

    打开FSP配置器界面的具体步骤

    如果目标工程项目是新建的项目,可以直接编译并通过。但是若是新导入的项目,需要先打开FSP配置界面重新生成FSP库相关代码,然后再进行编译,否则会提示编译错误。具体步骤如下。
    的头像 发表于 05-06 15:58 2176次阅读
    打开FSP配置器界面的<b class='flag-5'>具体步骤</b>