onsemi FDD18N20LZ N沟道MOSFET:高效开关的理想之选
在电子工程师的日常设计工作中,MOSFET是不可或缺的关键元件。今天,我们来深入探讨onsemi公司的FDD18N20LZ N沟道MOSFET,看看它有哪些独特的特性和优势,以及适用于哪些应用场景。
文件下载:FDD18N20LZ-D.PDF
产品概述
FDD18N20LZ属于onsemi的UniFET MOSFET家族,该家族基于平面条纹和DMOS技术,专为降低导通电阻、提供更好的开关性能和更高的雪崩能量强度而设计。这款MOSFET适用于多种开关电源转换器应用,如功率因数校正(PFC)、平板显示(FPD)电视电源、ATX电源和电子灯镇流器等。
产品特性
低导通电阻
在(V{GS}=10V)、(I{D}=8A)的典型条件下,(R_{DS(on)} = 125mOmega),低导通电阻有助于降低功率损耗,提高电源效率。
低栅极电荷和电容
典型栅极电荷为30nC,(C_{RSS})典型值为25pF,这使得MOSFET在开关过程中能够更快地响应,减少开关时间和损耗。
雪崩测试和增强能力
经过100%雪崩测试,具有改进的(dv/dt)能力和ESD改进能力,能够在恶劣环境下稳定工作,提高系统的可靠性。
环保合规
该器件为无铅产品,符合RoHS标准,满足环保要求。
应用领域
FDD18N20LZ适用于多种应用场景,包括:
关键参数
最大额定值
| 参数 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|
| 漏源电压(V_{DSS}) | 200 | V |
| 栅源电压(V_{GSS}) | ±20 | V |
| 连续漏极电流(I{D})((T{C}=25^{circ}C)) | 16 | A |
| 连续漏极电流(I{D})((T{C}=100^{circ}C)) | 9.6 | A |
| 脉冲漏极电流(I_{DM}) | 64 | A |
| 单脉冲雪崩能量(E_{AS}) | 320 | mJ |
| 雪崩电流(I_{AR}) | 16 | A |
| 重复雪崩能量(E_{AR}) | 8.9 | mJ |
| 峰值二极管恢复(dv/dt) | 10 | V/ns |
| 功率耗散(P{D})((T{C}=25^{circ}C)) | 89 | W |
| 25°C以上降额 | 0.7 | W/°C |
| 工作和存储温度范围(T{J},T{STG}) | -55 to +150 | °C |
| 焊接最大引线温度(距外壳1/8”,5秒)(T_{L}) | 300 | °C |
电气特性
- 关断特性:漏源击穿电压(B{V DSS})为200V,击穿电压温度系数为0.2V/°C,零栅压漏极电流(I{DSS})在不同条件下有不同值。
- 导通特性:跨导(g_{FS})等参数体现了MOSFET在导通状态下的性能。
- 动态特性:输入电容(C{iss})、输出电容(C{oss})、反向传输电容(C{rss})以及总栅极电荷(Q{g(tot)})等参数影响着开关速度和效率。
- 开关特性:包括导通上升时间(t{r})、关断下降时间(t{f})等,这些参数对于高速开关应用至关重要。
- 漏源二极管特性:最大脉冲漏源二极管正向电流(I{S})和正向电压(V{SD}),以及反向恢复时间和电荷等参数。
典型性能曲线
文档中提供了多个典型性能曲线,直观地展示了MOSFET在不同条件下的性能表现,如导通区域特性、传输特性、导通电阻变化、体二极管正向电压变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压变化、导通电阻随温度变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度关系以及瞬态热响应曲线等。这些曲线有助于工程师在设计过程中更好地了解器件的性能,优化电路设计。
封装和订购信息
FDD18N20LZ采用DPAK3(TO - 252 3 LD)封装,为无铅封装。其卷盘尺寸为330mm,胶带宽度为16mm,每盘2500个。具体的订购和运输信息可参考数据手册第6页。
总结
onsemi的FDD18N20LZ N沟道MOSFET凭借其低导通电阻、低栅极电荷和电容、良好的雪崩性能以及环保合规等特性,成为开关电源转换器应用的理想选择。在实际设计中,工程师可以根据具体的应用需求,结合器件的参数和性能曲线,合理选择和使用该MOSFET,以实现高效、可靠的电路设计。你在使用MOSFET的过程中遇到过哪些挑战呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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