深入解析 onsemi NVH4L027N65S3F MOSFET:特性、参数与应用考量
在电子工程领域,MOSFET 作为关键的功率器件,广泛应用于各种电路设计中。今天,我们来深入了解 onsemi 推出的 NVH4L027N65S3F 单 N 沟道 MOSFET,它属于 SUPERFET III 和 FRFET 系列,具备诸多优异特性。
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产品概述
onsemi 是一家知名的半导体公司,NVH4L027N65S3F 是其旗下一款 650V、75A 的 MOSFET 产品。该产品具有超低的栅极电荷和低有效输出电容,这使得它在降低 FOM(品质因数,如 (R{DS(on) max } times Q{g typ }) 与 (R_{DS(on) max } times EOSS))方面表现出色。同时,它通过了 AEC - Q101 认证,具备 PPAP 能力,并且符合 Pb - Free 和 RoHS 标准,这意味着它在汽车等对可靠性和环保要求较高的领域也能得到应用。
技术参数
最大额定值
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | 650 | V |
| 栅源直流电压 | (V_{GSS}) | ±30 | V |
| 栅源交流电压(f > 1Hz) | (V_{GSS}) | ±30 | V |
| 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 75 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 60 | A |
| 脉冲漏极电流 | (I_{DM}) | 187.5 | A |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 595 | W |
| 25°C 以上的功率耗散降额 | (P_{D}) | 4.76 | W/°C |
| 工作结温和存储温度范围 | (T{J}, T{STG}) | -55 至 +150 | °C |
| 单脉冲雪崩能量 | (E_{AS}) | 1610 | mJ |
| 重复雪崩能量 | (E_{AR}) | 5.95 | mJ |
| MOSFET (dv/dt) | (dv/dt) | 100 | V/ns |
| 峰值二极管恢复 (dv/dt) | (dv/dt) | 50 | V/ns |
| 焊接用最大引脚温度(距外壳 1/8″,5s) | (T_{L}) | 300 | °C |
从这些参数中我们可以看出,该 MOSFET 能够承受较高的电压和电流,并且在不同温度下都有相应的性能表现。例如,在 (T{C}=25^{circ}C) 时,连续漏极电流可达 75A,而在 (T{C}=100^{circ}C) 时,连续漏极电流仍有 60A。这就要求我们在设计电路时,要充分考虑温度对器件性能的影响。
电气特性
关断特性
- 漏源击穿电压 (B{V D S S}):在 (V{GS}=0V),(I{D}=1mA),(T{J}=25^{circ}C) 时为 650V;在 (V{GS}=0V),(I{D}=10mA),(T_{J}=150^{circ}C) 时为 700V。这表明随着温度升高,击穿电压有所增加。
- 零栅压漏极电流 (I{DSS}):在 (V{GS}=0V),(V{DS}=650V) 时为 10μA;在 (V{DS}=520V),(T_{C}=125^{circ}C) 时为 590μA。温度升高会导致漏极电流增大。
- 栅体泄漏电流 (I{GSS}):在 (V{GS}=±30V),(V_{DS}=0V) 时为 ±100nA。
导通特性
- 栅极阈值电压 (V{GS(th)}):在 (V{GS}=V{DS}),(I{D}=3mA) 时,最小值为 3.0V,最大值为 5.0V。
- 导通电阻 (R_{DS(on)}):典型值为 21.5mΩ。
动态特性
- 输入电容 (C_{iss}):为 7780pF。
- 输出电容 (C{oss}):在 (V{GS}=0V),(V_{DS}=400V),(f = 1MHz) 时为 200pF。
- 反向传输电容 (C_{rss}):为 26pF。
- 有效输出电容 (C{oss(eff.)}):在 (V{DS}=0V) 至 400V,(V_{GS}=0V) 时为 1880pF。
- 能量相关输出电容 (C{oss(er.)}):在 (V{DS}=0V) 至 400V,(V_{GS}=0V) 时为 347pF。
- 总栅极电荷 (Q{G(TOT)}):在 (V{GS}=10V),(V{DS}=400V),(I{D}=37.5A) 时为 227nC。
开关特性
- 导通延迟时间 (t_{d(on)}):为 42ns。
- 导通上升时间 (t_{r}):为 34ns。
- 关断延迟时间 (t_{d(off)}):为 153ns。
- 关断下降时间 (t_{f}):为 18ns。
源 - 漏二极管特性
- 最大连续源 - 漏电流:为 75A。
- 最大脉冲源 - 漏电流 (I{SM}):在 (V{GS}=0V) 时为 187.5A。
- 源 - 漏电压 (V_{SD}):为 1.3V。
- 反向恢复时间:相关参数如 (t{a}) 为 141ns,反向恢复电荷 (Q{rr}) 为 973nC。
这些电气特性对于电路设计至关重要。例如,开关特性决定了 MOSFET 在开关过程中的速度和损耗,而电容特性则会影响到器件的动态响应。
典型特性
文档中给出了多个典型特性图,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性等。这些特性图可以帮助工程师更直观地了解器件在不同工作条件下的性能表现。例如,通过导通电阻随温度的变化曲线,工程师可以预测在不同温度环境下器件的导通损耗,从而优化电路设计。
封装尺寸
该 MOSFET 采用 TO - 247 - 4LD(CASE 340CJ)封装,文档详细给出了其封装尺寸的相关参数,包括最小、标称和最大值。在进行 PCB 设计时,这些封装尺寸信息是必不可少的,以确保器件能够正确安装和布局。
应用注意事项
onsemi 明确指出,其产品不设计、不打算也未授权用于生命支持系统、FDA Class 3 医疗设备或类似分类的医疗设备以及人体植入设备。同时,买家需要对使用 onsemi 产品的自身产品和应用负责,包括遵守所有法律法规和安全要求或标准。此外,“典型”参数在不同应用中可能会有所变化,实际性能也可能随时间变化,因此所有工作参数都需要由客户的技术专家针对每个客户应用进行验证。
那么,在实际的电路设计中,你会如何根据这些特性和参数来选择和使用 NVH4L027N65S3F MOSFET 呢?欢迎在评论区分享你的经验和想法。
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