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1分钟快速了解什么是芯片的引线键合

科准测控 来源:科准测控 作者:科准测控 2026-03-27 09:52 次阅读
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一、什么是引线键合

半导体封装领域,引线键合是实现芯片与外部电路电气连接最核心的技术之一。简单来说,它就是通过极细的金属引线,将芯片上的焊盘与封装基板或引线框架连接起来的过程。

二、两种主流键合方式

引线键合主要分为楔形键合和球形键合两种方式:

球形键合:速度快,效率高。在第一键合点成球后,瓷嘴可沿任意方向移动完成第二键合点,因此被广泛应用于高速自动键合机中。
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楔形键合:对方向性要求较高。第一键合点键合前,键合装置需在两键合点之间大致对准直线方向,否则第一键合点跟部容易发生侧弯,导致虚焊或裂纹。
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近年来,线弧成形技术的进步使得楔形键合也能实现平滑弧线弯曲,键合速率有所提升。

三、主流键合工艺

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图上分别展示了超声楔形键合与球形键合的局部结构,箭头方向为超声振动方向。当超声键合辅以加热时,即为热超声键合,通常在不低于150℃下进行。

若温度升至300℃左右且不施加超声,则称为热压键合。热压键合虽工艺步骤与热超声相似,但因高温易损伤塑封材料、抗污染能力差,目前已较少使用。现代高速自动键合机普遍采用热超声键合,键合时间可短至10~15ms,对键合强度的在线检测提出了更高要求。

四、键合质量验证

无论是楔形键合还是球形键合,键合点的剪切力、拉力等机械强度指标,都是评估工艺可靠性的核心参数。需要借助专业的推拉力测试设备完成以下测试:

金球推力测试:评估球形键合第一键合点的附着力

引线拉力测试:检测线弧及第二键合点的强度

楔形键合剪切测试:验证楔形键合点的抗侧弯能力
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以上就是科准测控小编为您介绍的芯片引线键合相关知识,希望能帮助您快速了解这一半导体封装核心工艺。如果您对半导体引线键合还有其它疑问,或者对引线键合的推拉力测试有任何需求或疑问,欢迎随时联系我们,科准测控技术团队将为您提供专业的测试解决方案与技术支持。

审核编辑 黄宇

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