深入解析 onsemi NTS4101P P 沟道 MOSFET
在电子设计领域,MOSFET 作为关键的功率器件,广泛应用于各类电路中。今天我们来详细探讨 onsemi 的 NTS4101P P 沟道 MOSFET,了解它的特点、参数以及应用场景。
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产品概述
NTS4101P 是 onsemi 推出的一款 P 沟道功率 MOSFET,采用 SC - 70 表面贴装封装,具有小巧的尺寸(2x2 mm),适合对空间要求较高的应用。它具备 -20 V 的耐压能力和 -1.37 A 的连续漏极电流,能够满足多种低电压应用的需求。
产品特点
低导通电阻
采用领先的 -20 V 沟槽技术,实现了低导通电阻 (R{DS(on)}),可以有效降低功率损耗,提高电路效率。例如,在 (V{GS} = -4.5 V) 时,典型导通电阻仅为 83 mΩ。
低电压栅极驱动
额定电压为 -2.5 V,适用于低电压栅极驱动电路,能够与低电压系统兼容,为设计带来更多的灵活性。
小尺寸封装
SC - 70 表面贴装封装,占用空间小,适合用于对尺寸有严格要求的设备,如手机、数码相机和 PDA 等。
应用场景
高端负载开关
可用于控制负载的通断,实现对电路的有效管理,提高系统的稳定性和可靠性。
充电电路
在电池充电电路中,NTS4101P 可以精确控制充电电流和电压,保护电池免受过度充电的损害。
单电池应用
适用于单电池供电的设备,如手机、数码相机和 PDA 等,为这些设备提供稳定的电源管理。
关键参数
最大额定值
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | -20 | V |
| 栅源电压 | (V_{GS}) | ±8 | V |
| 连续漏极电流((T_{A}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | -1.37 | A |
| 连续漏极电流((T_{A}=70^{circ}C)) | (I_{D}) | -0.62 | A |
| 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 0.329 | W |
| 脉冲漏极电流 | (I_{DM}) | -4.0 | A |
| 工作结温和存储温度 | (T{J}, T{STG}) | -55 至 150 | °C |
| 引线焊接温度(1/8" 从外壳 10 s) | (T_{L}) | 260 | °C |
电气特性
关断特性
- 漏源击穿电压 (V{(BR)DSS}):在 (V{GS} = 0 V),(I_{D} = -250 μA) 时,最小值为 -20 V,典型值为 -24.5 V。
- 漏源击穿电压温度系数 (V{(BR)DSS}/T{J}):为 -13.7 mV/°C。
- 零栅压漏极电流 (I{DSS}):在 (V{GS} = 0 V),(T{J} = 25 °C),(V{DS} = -16 V) 时,最大值为 -1.0 μA;在 (T_{J} = 70 °C) 时,最大值为 -5.0 μA。
- 栅源泄漏电流 (I{GSS}):在 (V{DS} = 0 V),(V_{GS} = ±8 V) 时,最大值为 ±100 nA。
导通特性
- 栅极阈值电压 (V{GS(TH)}):在 (V{GS} = V{DS}),(I{D} = -250 μA) 时,最小值为 -0.45 V,典型值为 -0.64 V,最大值为 -1.5 V。
- 负阈值温度系数 (V{GS(TH)}/T{J}):为 2.7 mV/°C。
- 漏源导通电阻 (R{DS(on)}):在不同的 (V{GS}) 和 (I{D}) 条件下有不同的值,例如在 (V{GS} = -4.5 V),(I_{D} = -1.0 A) 时,典型值为 83 mΩ,最大值为 120 mΩ。
- 正向跨导 (G{FS}):在 (V{DS} = -5.0 V),(I_{D} = -1.3 A) 时,典型值为 5.2 S。
电荷和电容特性
- 输入电容 (C{ISS}):在 (V{GS} = 0 V),(f = 1.0 MHz),(V_{DS} = -20 V) 时,典型值为 840 pF。
- 输出电容 (C_{OSS}):典型值为 125 pF。
- 反向传输电容 (C_{RSS}):典型值为 85 pF。
- 总栅极电荷 (Q{G(TOT)}):在 (V{GS} = -4.5 V),(V{DS} = -4.5 V),(I{D} = -1.0 A) 时,典型值为 9.0 nC。
开关特性
- 导通延迟时间 (t{d(ON)}):在 (V{GS} = -4.5 V),(V_{DD} = -4.0 V) 时,典型值为 12 ns。
- 上升时间 (t{r}):在 (I{D} = -1.0 A),(R_{G} = 6.2 Ω) 时,典型值为 14.9 ns。
- 关断延迟时间 (t_{d(OFF)}):典型值为 26 ns。
- 下降时间 (t_{f}):典型值为 18 ns。
漏源二极管特性
- 正向二极管电压 (V{SD}):在 (V{GS} = 0 V),(I{S} = -0.3 A),(T{J} = 25 °C) 时,典型值为 -0.61 V;在 (T_{J} = 125 °C) 时,典型值为 -0.5 V。
- 反向恢复时间 (t{rr}):在 (V{GS} = 0 V),(dI{SD}/dt = 100 A/μs),(I{S} = -1.0 A) 时,典型值为 10.9 ns。
封装信息
| NTS4101P 采用 SC - 70(SOT - 323)封装,其引脚分配为:引脚 1 为栅极(GATE),引脚 2 为源极(SOURCE),引脚 3 为漏极(DRAIN)。封装尺寸如下: | 尺寸 | 毫米(最小值 - 标称值 - 最大值) | 英寸(最小值 - 标称值 - 最大值) |
|---|---|---|---|
| A | 0.80 - 0.90 - 1.00 | 0.032 - 0.035 - 0.040 | |
| A1 | 0.00 - 0.05 - 0.10 | 0 - 0.002 - 0.004 | |
| A2 | 0.70 REF | 0.028 BSC | |
| b | 0.30 - 0.35 - 0.40 | 0.012 - 0.014 - 0.016 | |
| C | 0.10 - 0.18 - 0.25 | 0.004 - 0.007 - 0.010 | |
| D | 1.80 - 2.00 - 2.20 | 0.071 - 0.080 - 0.087 | |
| E | 1.15 - 1.24 - 1.35 | 0.045 - 0.049 - 0.053 | |
| e | 1.20 - 1.30 - 1.40 | 0.047 - 0.051 - 0.055 | |
| el | 0.65 BSC | 0.026 BSC | |
| L | 0.20 - 0.38 - 0.56 | 0.008 - 0.015 - 0.022 |
注意事项
- 超过最大额定值表中列出的应力可能会损坏器件。如果超过这些限制,不能保证器件的功能,可能会导致损坏并影响可靠性。
- 该器件已停产,若有需求,请联系 onsemi 代表获取相关信息,最新信息可在 www.onsemi.com 上查询。
总结
NTS4101P P 沟道 MOSFET 凭借其低导通电阻、低电压栅极驱动和小尺寸封装等特点,在低电压应用中具有很大的优势。电子工程师在设计高端负载开关、充电电路和单电池应用等电路时,可以考虑使用该器件。但由于该器件已停产,在选择时需要谨慎评估供应链的稳定性。你在实际应用中是否使用过类似的 MOSFET 呢?遇到过哪些问题?欢迎在评论区分享你的经验。
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