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10位电流输出数模转换器DAC100技术解析

h1654155282.3538 2026-04-16 11:00 次阅读
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10位电流输出数模转换器DAC100技术解析

在电子设计领域,数模转换器(DAC)是模拟与数字世界之间的桥梁,起着至关重要的作用。今天我们就来深入了解一下Analog Devices公司的10位电流输出数模转换器DAC100。

文件下载:DAC100S.pdf

一、规格范围

DAC100的规格文档详细规定了其作为太空合格产品的要求,该产品在Analog Devices公司经QML认证的生产线上制造,遵循MIL - PRF - 38535 V级标准,但有部分内容在此处进行了修改。标准太空级产品计划手册中描述的制造流程也是本规格的一部分,该手册可在http://www.analog.com/aerospace 找到。此数据手册专门针对该产品的太空级版本,而商业产品级别的更详细操作说明和完整数据手册可在www.analog.com/DAC100获取。

二、产品型号与封装

2.1 产品型号

DAC100有两个具体型号:

  • DAC100 - 703Q:10位电流输出数模转换器。
  • DAC100 - 713Q:经过辐射测试的10位电流输出数模转换器。

2.2 封装形式

采用GDIP1 - T16封装,即16引脚陶瓷双列直插式封装(CERDIP)。其引脚连接如图1所示,清晰展示了各个引脚的功能,包括电源引脚(V +、V -)、输出引脚(OUTPUT)、全量程调整引脚(Full Scale Adjust)以及各位数据引脚(BIT 0 - BIT 9)等。同时,图1A给出了简化原理图,包含了关键电阻(RB = 6.12KΩ,RS = 4.88KΩ)等信息。

三、绝对最大额定值

3.1 电压与功率

  • V + 电源到V - 电源:0V至36V。
  • V + 电源到输出:0V至 + 18V。
  • V - 电源到输出:0V至 - 18V。
  • 功率耗散:最大500mW。

3.2 温度范围

  • 工作温度范围: - 55°C至 + 125°C。
  • 存储温度范围: - 65°C至 + 150°C。
  • 引脚焊接温度(60秒): + 300°C。
  • 芯片结温(TJ):最大 + 175°C。

3.3 热特性

不同封装的热阻有所不同:

  • CERDIP(Q)封装:结到壳热阻(ΘJC)最大29°C/W,结到环境热阻(ΘJA)最大91°C/W。
  • FLATPAK(N)封装:结到壳热阻(ΘJC)最大22°C/W,结到环境热阻(ΘJA)最大90°C/W。

四、电气参数

4.1 电气参数表

参数 符号 条件 子组 最小值 最大值 单位
电源电流 I +、I - V IH = 2.1V 1, 2, 3 8.33 mA
全量程输出电压 V FR V IL = 0.7V,全调整引脚连接到V - 1, 2, 3 10.0 11.1 V
零量程输出电压 V ZS V IH = 2.1V 1, 2, 3 ±0.013 %FS
积分非线性 NL ± ½ LSB – 9 Bits 1, 2, 3 ±0.1
全量程温度系数 TCV FR V IL = 0.7V,全量程调整引脚连接到V - 8 ±60 ppm/°C
逻辑输入高电平 V IH V IN = 2.1V至3V(所有输入),相对于输出引脚测量,允许∆V IN变化时≤ ±½ LSB变化 1, 2, 3 2.1 V
逻辑输入低电平 V IL V IN = 0.7V至0V(所有输入),相对于输出引脚测量,允许∆V IN变化时≤ ±½ LSB变化 1, 2, 3 0.7 V
逻辑输入高电平电流 I IH V IH = 6.0V,每个输入 1, 2, 3 5 µA
逻辑输入低电平电流 I IL V IL = 0V,每个输入 1, 2, 3 5
电源灵敏度 PSS V IL = 0.7V(所有输入),V S = ±6V至±18V 1, 2, 3 ±0.1 %/V
单调性 ∆I O 在每个主要进位码点测量 1 0 µA
建立时间 T SHL R L = 1KΩ,C L ≤ 10pF 9 375 nS

4.2 电气测试要求

MIL - STD - 883测试要求 子组(见表I)
临时电气参数(预老化) 1
最终电气测试参数 1, 2, 3, 8
A组测试要求 1, 2, 3, 8, 9
C组测试要求 1
D组测试要求 1

4.3 老化测试增量限制

测试标题 老化终点 终点 寿命测试 增量限制 单位
V FR 10.55 ± 0.55 10.55 ± 0.75 ±0.2 V
V ZS ±0.013 ±0.018 ±0.005 %FS
I + 8.33 8.33 ±10% mA
I - 8.33 8.33 ±10% mA

五、寿命测试与老化电路

5.1 高温反向偏置(HTRB)

HTRB不适用于此设计。

5.2 老化测试

老化测试按照MIL - STD - 883方法1015测试条件B进行。

5.3 稳态寿命测试

稳态寿命测试按照MIL - STD - 883方法1005进行。

六、版本变更记录

DAC100的版本经历了多次变更,每次变更都有其特定的内容,如更新网页地址、添加测试组信息、修改范围描述等。这反映了产品在不断优化和完善的过程。

在实际设计中,工程师们需要根据这些详细的规格参数和测试要求,合理选择和使用DAC100,以确保电路的性能和可靠性。大家在使用过程中有没有遇到过类似产品的一些特殊问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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