该AFE1256是一款 256 通道模拟前端 (AFE),旨在满足以下要求: 基于数字 X 射线系统的平板探测器 (FPD)。该器件包括 256 个积分器、一个 可编程增益放大器 (PGA),用于满量程、电荷电平选择、相关双精度 具有双组、256:4模拟多路复用器和四个16位、 板载逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。串行数据 ADC的音频以SPI™格式提供。
*附件:afe1256.pdf
硬件可选的集成极性允许集成正极或 带负电荷,为系统设计提供更大的灵活性。Nap 功能可实现大量 省电。这种节能方式在电池供电系统中特别有用。
该器件有 22 毫米× 5 毫米镀金两种颜色 芯片和 38 mm × 28 mm COF-314 TDS 封装 单一形式。
特性
- 256 个通道
- 片内16位ADC
- 光电二极管短抗扰度
- 色谱柱短免疫度
- 高性能:
- 集成:
- 八个可选满量程范围:
0.15 pC(最小值)至 9.6 pC(最大值) - 内置相关双采样器
- 2 倍分档(两个相邻
通道的平均电荷)可实现更快的吞吐量 - 流水线集成和读取:允许在集成过程中读取数据
- 八个可选满量程范围:
- 灵活性:
- 电子和空穴积分
- 低功耗:
- 2.9 mW/通道,带ADC
- 2.3 mW/通道,不带ADC
- 0.1 mW/Ch(在 Nap 模式下)
- 全面掉电功能
- 22 mm × 5 mm 镀金芯片,
适用于 TCP 和 COF
参数
方框图
AFE1256 是德州仪器推出的 256 通道高集成度模拟前端(AFE),专为数字 X 射线平板探测器(FPD)设计,核心优势为多通道并行采集、低功耗及灵活的电荷处理能力,适配医疗影像等高精度信号采集场景。
一、核心产品参数
1. 基础规格
- 通道与分辨率:256 个独立采集通道,集成 4 个 16 位 SAR ADC,支持 256:4 模拟多路复用
- 采样与扫描性能:正常模式最小扫描时间 37.9 µs,2x 合并模式(Binning)下最小 20 µs,支持流水线式积分与读取(边积分边读数)
- 封装与温度:提供两种封装 —— 金凸点裸片(22mm×5mm)、COF-314 TDS 封装(38mm×28mm);工作温度 0°C 至 70°C
- 电源与功耗:差异化功耗设计,开启 ADC 时 2.9 mW / 通道,关闭 ADC 时 2.3 mW / 通道,休眠模式(Nap Mode)仅 0.1 mW / 通道,支持全局掉电
2. 性能特性
- 电荷处理:8 档可编程满量程电荷范围(0.15 pC-9.6 pC),支持电子 / 空穴双极性积分,适配不同类型探测器
- 噪声与线性度:28 pF 传感器电容、1.2 pC 量程下,输入参考噪声典型 758 e-RMS;积分非线性(INL)典型 ±2 LSB,无丢失码
- 抗干扰能力:内置相关双采样器(CDS),具备光电二极管短路免疫、列短路免疫特性,提升信号完整性
二、关键功能特性
1. 高灵活信号采集
- 合并模式(Binning):支持 2 邻接通道电荷平均合并,提升吞吐量的同时优化信噪比
- 双极性积分:硬件可选择积分极性,适配正负电荷输入场景,增强系统设计灵活性
- 并行处理:256 通道同步采集,通过多路复用器与 4 个 ADC 配合,平衡采集速度与硬件成本
2. 低功耗与可靠性设计
- 多功耗模式:支持正常工作、休眠、全局掉电三种模式,休眠模式功耗骤降,适配电池供电设备
- 抗干扰设计:相关双采样(CDS)抑制低频噪声与偏移,针对平板探测器场景优化短路免疫能力
- 封装适配:金凸点裸片支持 TCP/COF 封装工艺,COF 封装提供 314 引脚配置,适配不同板级集成需求
三、典型应用场景
- 医疗影像:数字 X 射线平板探测器信号采集
- 工业检测:高精度射线成像系统前端信号调理
四、设计与使用建议
1. 信号调理
- 电荷匹配:根据探测器输出电荷特性,选择合适的满量程电荷档位,避免信号饱和或噪声占比过高
- 采样时序:优先采用流水线式积分与读取模式,提升数据吞吐量;高速场景可启用 2x Binning 模式
2. 功耗优化
- 模式切换:非采集时段启用休眠模式,长时间停机时触发全局掉电,最大化节能
- 通道配置:无需全部通道工作时,可针对性关闭冗余通道,进一步降低功耗
3. 封装与布局
- 封装选择:空间受限场景选用金凸点裸片,需简化板级集成时选择 COF 封装
- ESD 防护:存储与操作时需注意静电防护,建议将引脚短接或放置在导电泡沫中,避免 MOS 栅极损坏。
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