AFE58JD32 器件是一种高度集成的模拟前端解决方案,专为需要高性能、低功耗和小尺寸的超声系统而设计。
该AFE58JD32是一款集成模拟前端 (AFE),针对医疗超声应用进行了优化。该器件通过具有三个芯片的多芯片模块 (MCM) 实现:两个压控放大器 (VCA) 芯片和一个模数转换器 (ADC) 芯片。每个VCA芯片有16个通道,ADC芯片转换所有32个通道。
*附件:afe58jd32.pdf
VCA芯片中的每个通道都配置为两种模式之一:时间增益补偿(TGC)模式或连续波(CW)模式。在TGC模式下,每个通道都包括一个输入衰减器(ATTEN)、一个具有可变增益的低噪声放大器(LNA)和一个三阶低通滤波器(LPF)。衰减器支持8 dB至0 dB的衰减范围,LNA支持20 dB至51 dB的增益范围。LPF 截止频率可配置为 5 MHz、7.5 MHz、10 MHz 或 12.5 MHz,以支持不同频率的超声应用。在CW模式下,每个通道包括一个固定增益为18 dB的LNA,以及一个具有16个可选相位延迟的低功耗无源混频器。可以对每个模拟输入信号施加不同的相位延迟,以执行片内波束成形作。CW 混频器中的谐波滤波器抑制三次和五次谐波,以提高 CW 多普勒测量的灵敏度。
ADC芯片有16个物理ADC。每个ADC转换两组输出,每个VCA芯片各一组。ADC配置为以12位或10位的分辨率工作。ADC分辨率可以与转换速率进行权衡,在12位和10位分辨率下分别以80 MSPS和100 MSPS的最大速度运行。ADC设计用于随采样率缩放其功率。ADC的输出接口通过低压差分信号(LVDS)输出,该信号可以轻松与低成本的现场可编程门阵列(FPGA)连接。
该AFE58JD32包括一个可选的数字解调器和JESD204B数据打包模块。数字同相和正交 (I/Q) 解调器具有可编程抽取滤波器,可在低功耗下加速计算密集型算法。该器件还支持可选的JESD204B接口,运行速度高达 5 Gbps,进一步降低了高通道数系统中的电路板布线挑战。
该AFE58JD32还允许选择各种功率和噪声组合来优化系统性能。因此,该器件是适合具有严格电池寿命要求的系统的超声AFE解决方案。
特性
- 用于超声应用的 32 通道 AFE:
- 输入衰减器、LNA、LPF、ADC、
数字 I/Q 解调器和 CW 混频器 - 数字时间增益补偿 (DTGC)
- 总增益范围:12 dB至51 dB
- 线性输入范围:800 mV
聚丙烯
- 输入衰减器、LNA、LPF、ADC、
- 带 DTGC 的输入衰减器:
- 衰减为8 dB至0 dB,步长为0.125 dB
- 支持匹配阻抗:
- 50 Ω至800 Ω源阻抗
- 带 DTGC 的低噪声放大器 (LNA):
- 20 dB至51 dB增益,步进0.125 dB
- 低输入电流噪声:1.2 pA/√Hz
- 三阶线性相位低通滤波器(LPF):
- 5 MHz、7.5 MHz、10 MHz 和 12.5 MHz
- 16 个 ADC,以 12 位、80 MSPS 或 10 位、100 MSPS 进行转换:
- 每个ADC以半速率转换两组输入
- 12位ADC:72dBFS SNR
- 10位ADC:61dBFS SNR
- 针对噪音和功率进行了优化:
- 35 mW/Ch,2.1 nV/√Hz,40 MSPS
- 42 mW/Ch,1.4 nV/√Hz,40 MSPS
- 52 mW/Ch,1.3 nV/√Hz,40 MSPS
- CW 模式下为 60 mW/Ch
- 出色的器件间增益匹配:
- ±0.5 dB(典型值)
- 低谐波失真:–55 dBc
- 快速一致的过载恢复
- 连续波 (CW) 路径具有:
- 接近相位噪声低,为–151 dBc/Hz
,频率偏移关闭2.5 MHz载波 - 相位分辨率:λ / 16
- 支持 16 倍连续时钟
- 12 dB三次和五次谐波抑制
- 接近相位噪声低,为–151 dBc/Hz
- ADC后的数字I/Q解调器:
- 抽取滤波器 M = 1 至 63
- 抽取后数据吞吐量降低
- 片上 RAM,具有 32 个预设配置文件
- 速度高达 1 Gbps 的 LVDS 接口
- 5 Gbps JESD 接口:
- JESD204B 0、1 和 2 子类
- 每个 JESD 通道 2、4 或 8 个通道
- 小封装:15 mm × 15 mm NFBGA-289
参数
方框图
AFE58JD32 是一款高度集成的 32 通道超声模拟前端(AFE),在 AFE5832 基础上新增数字 I/Q 解调器与 JESD204B 接口,集成衰减器、低噪声放大器、低通滤波器、ADC 及 CW 混频器,支持数字时间增益补偿(DTGC),专为医疗超声成像、无损检测等对低功耗、高动态范围和接口灵活性要求严苛的多通道高速数据采集应用设计。
核心参数与特性
- 性能规格 :总增益范围 12-51 dB,线性输入范围 800 mVPP;低谐波失真 -55 dBc,器件间增益匹配 ±0.5 dB(典型值);12 位 ADC 信噪比 72 dBFS,10 位 ADC 信噪比 61 dBFS。
- 信号链配置 :输入衰减器支持 0-8 dB 调节(步长 0.125 dB),适配 50-800 Ω 源阻抗;低噪声放大器(LNA)增益 20-51 dB 可调(步长 0.125 dB),输入电流噪声 1.2 pA/√Hz;三阶线性相位低通滤波器(LPF)提供 5/7.5/10/12.5 MHz 可选截止频率。
- ADC 与信号处理 :16 个 ADC 芯片分时处理 32 通道信号,12 位模式最高采样率 80 MSPS,10 位模式最高 100 MSPS;集成数字 I/Q 解调器,抽取滤波器倍数 1-63 可编程,片上 RAM 含 32 个预设配置文件,可降低数据吞吐量。
- 接口配置 :支持 LVDS 与 JESD204B 双接口,LVDS 速率可达 1 Gbps,JESD204B 速率最高 5 Gbps,支持子类 0/1/2,每通道可配置 2/4/8 个 JESD 通道;适配不同控制器对接需求,简化高通道数系统布线。
- 功耗与 CW 模式 :单通道功耗 35-60 mW(依噪声模式与采样率),CW 模式功耗 60 mW / 通道;CW 路径相位噪声低至 -151 dBc/Hz(2.5 MHz 载波,1 kHz 偏移),相位分辨率 λ/16,支持 16 倍 CW 时钟,三次 / 五次谐波抑制 12 dB。
- 封装与环境 :15mm×15mm 289 引脚 NFBGA 封装,工作温度范围 -40-85°C,符合 RoHS 标准,MSL 等级 3(260°C 峰值回流焊)。
关键功能说明
- 双工作模式 :TGC 模式下,每个通道完整集成衰减器、LNA、LPF 与 ADC,支持动态增益调节适配超声信号衰减补偿;CW 模式下,LNA 固定 18 dB 增益,通过 16 相位选择混频器实现片上波束成形,适配多普勒测量。
- 灵活功耗控制 :提供多档噪声 - 功耗组合选项,35 mW / 通道(2.1 nV/√Hz,40 MSPS)至 52 mW / 通道(1.3 nV/√Hz,40 MSPS),满足电池供电设备需求。
- 数字解调与数据压缩 :数字 I/Q 解调器可加速计算密集型算法,可编程抽取滤波器减少数据量,降低后端处理压力;片上 RAM 存储预设配置,便于快速切换应用场景。
- 双高速接口 :LVDS 接口适配低成本 FPGA,JESD204B 接口减少布线复杂度,两种接口可灵活选择,适配不同系统设计需求。
- 快速过载恢复 :具备快速且稳定的过载恢复能力,保障信号采集的连续性与可靠性。
典型应用场景
主要用于医疗超声成像设备、无损检测设备、声纳成像系统及多通道高速数据采集系统,尤其适配对接口灵活性、数据处理效率有较高要求的高端超声设备。
应用设计要点
- 电源与接地 :需为模拟部分与数字部分提供独立供电,降低串扰;关键电源引脚就近配置去耦电容,模拟地与数字地单点连接,优化接地布局。
- 阻抗匹配 :输入衰减器需根据源阻抗(50-800 Ω)配置合适衰减值,确保信号完整性;LVDS 与 JESD204B 接口信号线需分别控制阻抗匹配(LVDS 差分 100 Ω,JESD204B 差分 100 Ω),减少传输损耗。
- 滤波与解调配置 :根据超声应用频率选择 LPF 截止频率;数字解调器需按需求配置抽取倍数,平衡数据吞吐量与处理精度。
- 接口选择与同步 :根据控制器类型选择 LVDS 或 JESD204B 接口,JESD204B 模式需配置子类与通道数,确保多器件同步时序一致性。
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