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• 发布了文章 2026-04-23 13:34

  当版图成为器件物理：深纳米时代，应力相关LLE如何重塑先进CMOS技术？

  

  在半导体行业的黄金年代，工艺缩放曾是行业的万能钥匙——晶体管尺寸缩小，性能、功耗、面积的增益便会随之而来。但当CMOS技术迈入深纳米节点，这一“免费”的红利逐渐消失。如今，设计-工艺协同优化（DTCO）成为技术演进的核心抓手，而一个曾被忽略的关键因素正站上舞台中央——应力相关局部版图效应（LLE）。一项基于商用7nmFinFET工艺的博士研究展开，该研究结合

  CMOS LLE 半导体

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• 发布了文章 2026-04-21 16:03

  AI 与大数据驱动的半导体制造时代：面向分析就绪的 FDC 技术

  

  大数据分析与人工智能已成半导体制造核心技术，行业核心挑战并非数据采集，而是获取可被大规模使用、分析并快速响应的就绪型数据。普迪飞JonHolt在2025年用户大会提出：“如何应对数据爆发式增长，整合数据孤岛信息，以所需规模与性能实现实际价值？”故障检测与分类（FDC）是晶圆厂制程控制和良率分析的关键数据源，其设备轨迹数据与良率、电性测试结果高度相关，但因高容

  AI FDC 半导体制造 大数据

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• 发布了文章 2026-04-16 09:04

  Sapience 供应链平台 | 以供应链协同与测试管控，破解半导体全球化制造难题

  

  在普迪飞用户大会上，MarcJacobs围绕测试与供应链协同（TestandSupplyChainOrchestration）主题发表分享，结合行业痛点、平台能力与真实演示，全面解读如何以一体化系统打通半导体全流程管理，助力企业实现良率提升、准时交付与库存优化。本次分享聚焦三大议程：供应链协同、慧荣科技（SiliconMotion）客户案例、意法半导体（ST

  半导体 普迪飞 测试

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• 发布了文章 2026-04-14 13:34

  演讲回顾 - 意法半导体 | 携手普迪飞，打造测试单元自动化：从存量产线到黑灯工厂，解锁半导体智造新高度

  

  在普迪飞用户大会上，意法半导体（STMicroelectronics）测试研发负责人MassimoLongaretti带来《TestCellAutomation:fromBrownFieldtoDarkFactory》主题分享，深度揭秘ST与普迪飞（PDFSolutions）携手推进测试单元自动化的战略布局、技术架构与落地实践，为全球半导体企业从传统存量产线

  半导体 意法半导件 测试

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• 发布了文章 2026-04-08 09:35

  大会回顾 - 安森美 | 从数据割裂到全域智能，携手普迪飞实现数据分析效率跃升

  

  点击蓝字，关注我们在普迪飞（PDFSolutions）年度用户大会上，安森美（onsemi）良率提升系统团队分享了其依托Exensio平台实现制造分析能力全面跃升的深度实践。作为全球领先的智能电源与传感解决方案提供商，安森美通过数据标准化、平台云化、模板自动化、用户体系化赋能四大核心策略，彻底打通全球多工厂数据壁垒，显著提升工程师分析效率，平台用户规模实现3

  安森美 数据分析 普迪飞

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• 发布了文章 2026-04-02 17:34

  实践案例｜功率半导体 AI 量产落地：良率与成本双突破

  

  在APEC2026《AI与数字孪生重塑功率器件创新》主题论坛上，普迪飞重磅展示了两项已成功落地量产的AI/ML应用案例。这些案例沉淀自我们与功率半导体制造商长达十余年的深度合作，本文将提炼其中的核心实践经验。本文及配套演讲，是普迪飞半导体与功率半导体制造AI/ML落地实用方法系列内容的重要组成部分，同系列还包括：解锁化合物半导体制造新范式：端到端良率管理的核

  AI 功率半导体 普迪飞

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• 发布了文章 2026-03-30 17:33

  AI 赋能芯生态！普迪飞亮相 SEMICON China 2026，引领数智转型，助力半导体迈向万亿规模

  

  2026年3月25-28日，全球规模最大、规格最高的半导体专业展会SEMICONChina在上海新国际博览中心盛大启幕。作为全球半导体制造业数字化转型领军者，普迪飞（PDFSolutions）携覆盖“设计验证-制造管控-供应链协同-安全保障”的端到端创新方案重磅参展，以AI驱动的技术实力与全生态服务能力，与行业伙伴共话产业升级新机遇。精彩时刻聚焦产业痛点，全

  AI 半导体 普迪飞

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• 发布了文章 2026-03-26 13:03

  精彩演讲·不容错过 | 智能规模化：平台驱动，赋能半导体全生态AI分析规模化落地

  

  精彩演讲不容错过演讲信息论坛：设计创新论坛：AI智能应用和汽车芯片时间：2026年3月26日1645地点：上海浦东嘉里大酒店，三楼，上海厅3演讲主题：智能规模化：平台驱动，赋能半导体全生态AI分析规模化落地（ScalingIntelligence:aplatformledapproachtoscaleAI-Drivenanalyticsacrossthese

  AI 半导体 嵌入系统

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• 发布了文章 2026-03-24 09:05

  DirectScan 技术解析：下一代半导体电子束检测的创新路径与应用

  

  随着半导体制程向先进节点演进，3D晶体管架构与多层互连堆叠技术的规模化应用，使得器件缺陷的隐蔽性与检测难度显著提升。传统光学检测技术已难以满足电学相关缺陷的识别需求，而电子束检测的效率瓶颈又制约了量产应用。DirectScan检测通过核心技术创新破解了这一行业痛点，为下一代半导体制造提供了高效、精准的检测解决方案。本文将从技术原理、核心优势、应用场景及落地实

  半导体 检测 电子束

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• 发布了文章 2026-03-19 11:13

  智能规模化：普迪飞 - AI驱动的半导体制造分析愿景

  

  半导体行业的“数据焦虑”，终于有解了！当一颗芯片的测试数据达到千兆字节，当一座晶圆厂的累计数据突破600PB，当行业数据量3年增长6倍——半导体制造正被海量数据“包围”。但尴尬的是，行业内仅有不到5%的数据被有效分析，传统工具早已不堪重负。如今，普迪飞带着30多年半导体行业沉淀，推出全新智能规模化分析方案，用AI打破数据孤岛，让PB级数据真正成为良率提升、质

  AI驱动 半导体制造 普迪飞

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