普迪飞携AI测试解决方案与爱德万测试V93000平台高效集成，加速提升测试效能

在半导体技术加速迭代的背景下，AI正成为重塑半导体测试领域标准的核心力量。爱德万测试（Advantest）2025年VOICE大会汇聚全球创新成果，全方位展示了AI如何突破传统测试瓶颈。作为行业先锋，普迪飞（PDF Solutions）携AI测试解决方案惊艳亮相，通过协作创新、技术赋能与生态构建，为半导体测试效率提升、成本优化与质量管控提供系统性突破，与行业伙伴共同推动半导体行业向智能化测试时代迈进。

协同创新：行业头部企业共建测试技术新范式

在爱德万测试2025年VOICE大会上，普迪飞与爱德万测试的深度合作成为焦点。双方联合展示AI测试解决方案与爱德万V93000测试平台的高效集成成果，通过智能流程优化实现测试效率显著提升。台积电（TSMC）副总监黄星熙（Sing Hee Wong）主持了这场演示，从专业角度深入解析了AI在半导体测试领域中的实际应用优势及具体场景。

这种硬件与软件领域头部企业的协作，不仅有效简化AI工具落地流程，更是在晶圆级测试与最终产品验证之间架起了衔接桥梁。

AI驱动，攻克行业四大核心挑战

随着半导体器件向3D芯片架构、全球化供应链及先进封装等方向不断演进，测试环节面临着前所未有的复杂挑战。在此背景下，AI凭借其强大的数据分析与预测能力，成为破局的关键利器。为何AI测试对半导体测试创新至关重要，其优势体现在：

测试效率升级：AI依托预测建模技术，能精准识别并剔除冗余测试，在保障测试质量的同时显著缩短测试周期；

成本显著降低：测试成本通常占产品总成本的5%-10%。AI可敏锐捕捉非必要的测试环节，有效降低企业运营成本；

质量保障强化：机器学习（ML）驱动的智能缺陷检测与质量控制系统，在性能上远超传统测试手段；

打通设计与制造链路：AI测试方案通过确保设计规格与制造实际紧密契合，有效强化了两大核心环节之间的协同连接。

技术赋能：打造智能测试新生态

普迪飞在大会上重点演示了AI 测试解决方案的实际应用。通过机器学习和预测分析，该方案解决了半导体测试工程师面临的核心挑战：

自适应测试：能够精准预测测试结果，对低风险产品 “少测”，对高风险产品 “多测”，实现测试资源的高效分配；

预测性老化测试：该技术可提前筛选出无需进行老化测试的器件，大幅削减成本；

预测性分级：面向小芯片和高成本先进封装场景，通过失效预测支持早期报废决策，有效规避潜在损失。

这些AI驱动技术的综合应用，切实为企业带来了质量提升、成本优化和流程精简的多重效益。

生态构建：应对行业挑战的技术基建

在半导体测试中部署 AI 并非毫无挑战，由于半导体测试数据的庞大规模与复杂性，加上对可扩展、自适应模型的需求，往往令人望而却步。为解决这些问题，普迪飞提供了强大企业完善的技术支撑体系，包括：

实时监控与模型再训练：通过检测数据漂移并随流程演进动态校准模型参数，确保测试系统持续保持精准性与适应性。

自带模型（BYOM）机制：企业可灵活选择集成自有机器学习模型，或使用普迪飞的预训练模型，均实现无缝对接，满足个性化需求。

携手共进，共启行业新征程

半导体测试的未来，在于AI创新与先进技术的深度融合。爱德万测试2025年VOICE大会的深入交流，让我们清晰看到AI测试解决方案蕴藏的巨大潜力。然而，要实现这一技术的广泛应用，仍需全行业的共同努力。普迪飞始终致力于为客户提供灵活且强大的解决方案，在坚守严苛质量标准的同时，精准适配每家制造商的独特需求。

在产业竞争白热化的当下，加速拥抱AI技术，是抢占半导体测试的创新制高点的重要途径。