普迪飞 Exensio®数据分析平台 | Test Operations解锁半导体测试新纪元

Test Operations是Exensio数据分析平台的四个主要模块之一。T-Ops模块旨在帮助集成器件制造商（IDM）、无晶圆厂半导体公司（Fabless）和外包半导体（产品）封测厂（OSAT）提供全面的数据分析，帮助企业保障产品质量，提高生产效率。

三位一体：测试数据链接、控制 与分析

Exensio Test Operations旨在捕获测试数据、实施测试过程控制和测试质量规则、存储测试数据以进行分析和后处理、支持边缘计算、自动化数据传输，并提供广泛的数据分析功能。这一功能确保了数据的完整性和即时性，让企业能够第一时间掌握测试情况，进而提高产品良率、提高出厂质量、实施数据前馈、在边缘有效部署ML、更好利用测试时间和关键设备，并对跨地域制造供应链近乎实时收集的测试数据进行交互分析。

Test Operations产品功能

全球化部署方案，4K+测试设备数据自动化采集

在全球OSATs和IDMs覆盖4000+ 台新式/旧式的测试设备，可直接实时且自动收集测试过程中产生的所有数据，如测试插入、复测操作以及测试设备操作活动的数据，最后通过数据交换网络（DEX）随时用于交互式分析或基于规则的分析，从而为客户提供丰富的时序数据。

TO模块系统架构

部分合作伙伴

定制化灵活配置：规范流程管控，管理质量规则

支持客户针对特定产品、测试操作和测试程序灵活配置规则。

流程管控规则：可从良率、bin、site-to-site、统计值表现、参数测量统计值和 WECO SPC limits 等各方面，持续实时地监控量产的健康状况。

质量规则管理：帮助客户捕获由于不完整测试、不合逻辑的 bin 分配、测量异常、无效 ECID、连续失效 bin、 stuck unit 情况而导致的测试逃逸。

支持在线/离线，提升质量与可靠性

T-Ops模块通过对于Wafer Sort 和FT的Outlier Detection来实现更高的产品质量， 支持多种包括典型的统计算法、空间算法（如，DPAT、ZPAT、GDBN、NNR ...），以及更先进的基于机器学习的单变量和多变量算法。

T-Ops模块支持在线和离线两种方式，可直接在测试机台上实时执行 (Online)，也可以在服务器端在多笔数据集合上执行 (Offline)，以便对企业对产品良率进行最大程度的管控和监控

优化测试效率，降低测试成本

客户可结合分析、自适应测试以及先进的探针控制来提升测试效率。Exensio数据分析平台能让客户了解失效模式、优化复测计划、提高设备利用率（OEE），同时定义自适应测试计划，依据实际测试结果和/或预测的芯片质量动态调整测试流程，实现更合理的测试。

此外，测试操作（T-Ops）模块通过深入洞察测试设备及测试程序的效率，助力提高测试产量。其全年无休（7 * 24 *365）地监控内部或外部测试操作，可确保实现合格芯片的最大产量。

与MA模块并驾齐驱，支持各种规模企业需求

T-Ops模块与M-A模块均是Exensio数据分析平台重要模块，拥有强大的后端数据存储库和用户界面，基于标准化的测试和运营分析，客户自定义操作灵活。

T-Ops模块（作为Exensio fabless或Exensio IDM方案的一部分）具有高度的可扩展性，无论是小型初创企业还是《财富》500 强企业都能适用。同时，普迪飞拥有一支经验极为丰富的全球集成团队，能够在极短时间内将T-Ops模块快速部署并集成到您的测试环境（IDM或OSAT）中。

聚焦客户视角：成本、质量与交付

T-Ops模块功能价值亮点

半导体测试领域-新质生产分析工具

Exensio Test Operations在半导体制造行业发挥着重要作用，助力企业提升产品良率、优化测试流程并保障产品质量。于电子设备制造行业，可协助企业进行供应链质量管控以及产品性能优化。在汽车电子行业，一方面保障汽车芯片的可靠性，另一方面进行智能汽车系统集成测试。通过在不同行业的应用，Exensio Test Operations 显著提升了各行业的产品质量与性能。