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ATE是Automatic Test Equipment的缩写,于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机,用于检测集成电路功能之完整性, 为集成电路生产制造之最后流程, 以确保集成电路生产制造之品质。
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DFT全称为Design for Test,可测性设计。就是说我们设计好一个芯片后,在仿真时可能99%的用例都通过了,怎么保证流片出来的实际芯片也能正常工作呢?
半导体测试设备主要包括三类:ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现,而探针台和分选机实现的则是机械功能,将被测晶圆/芯片拣选至测试机进行检测。
在改进功能的同时提供高质量标准的需求促使制造商转向可靠且保证可重复性的自动测试设备(ATE)。ATE可帮助制造商执行多项准确的测试并减少故障和错误的发生...
在这种环境下,ATE设计人员努力增加每一代通道的数量并不少见。提高测试能力意味着主板(具有大量引脚驱动器电子元件的驱动板)将需要大量功率才能运行。当然,...
基于特征点法的视觉SLAM系统很难应用于稠密建图,且容易丢失动态对象。而基于直接法的SLAM系统会跟踪图像帧之间的所有像素,因此在动态稠密建图方面可以取...
为数据处理、网络、便携式、可穿戴和其他计算应用设计并优化电源解决方案,需要对电压和电流进行精确、宽带、高动态范围的测量。
ATE = Automatic Test Equipment. 是自动化测试设的缩写,于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机, 用于检测集成电路功能...
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