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ATE是Automatic Test Equipment的缩写，于半导体产业意指集成电路（IC）自动测试机，用于检测集成电路功能之完整性，为集成电路生产制造之最后流程，以确保集成电路生产制造之品质。

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ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍

本文首先介绍了ATE自动化测试系统发展线路，其次阐述了ATE自动化测试系统的作用及原理、特点、优势，最后介绍了ATE自动化测试系统的功能、功能平台及使用领域。

2018-05-23 标签：ate 自动化测试系统 3.3万 0

深度解读基于ATE的IC测试技术

在IC的测试中，电压的测试是所有测试参数中最为常见的一种参数，尤其是模拟芯片的测试，电压测试更显常见及重要，如：LDO、LED驱动、音频功放、运放、马达...

2017-10-27 标签：继电器 ate ic测试技术 1.9万 0

对于ATE测试仪器仪表，典型测试设备系统设计

由于待测器件（DUT）的复杂性提高，通道/引脚数量和功能增加，因而测试类型和所需测试数量也随之增加。并且每个器件评估需要进行数百项测试，特别是在自动测试...

2018-07-16 标签：测试测量 adi MEMS 1.6万 0

聊聊IC测试机（1）ATE/ATS内部结构简介

ATE(Auto Test Equipment) 在测试工厂完成. 大致是给芯片的输入管道施加所需的激励信号，同时监测芯片的输出管脚，看其输出信号是否是...

2023-11-01 标签：控制器适配器 DSP芯片 7.1k 0

如何获取除了数据手册以外的ADC芯片数据

设计中选择高分辨率ADC时，经常需要了解一些数据手册中通常可能不会公布的特性数据，例如，全部代码范围内的转换器噪声性能。在数据手册中，您不一定能找到这一...

2018-11-25 标签：MSPS ADC ATE 6.9k 0

基于Microchip的53100A相位噪声分析仪

Microchip的53100A相位噪声分析仪是一种非常高质量和高性能的工具（图1），可以测量射频源的幅度，相位和频率稳定性。它的测量范围很宽，介于1 ...

2021-05-07 标签：dsp 振荡器 cpu 6.7k 0

半导体测试行业的相关术语

ATE = Automatic Test Equipment. 是自动化测试设的缩写，于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机，用于检测集成电路功能...

2022-11-01 标签：半导体 ATE 测试设备 6.2k 0

面向老化测试系统的高压继电器有哪些要求？

老化与寿命测试系统是半导体和电子产品可靠性测试中的关键工具。被测器件（DUT）如存储芯片（DRAM、闪存）、处理器（CPU、GPU）、分立功率半导体（M...

2025-11-07 标签：测试测量 ATE 老化测试 5.9k 0

自动测试设备(ATE)系统中选择器件电源(DPS)IC的指南

器件电源(DPS) IC具有灵活的电压驱动和电流驱动容量，能够为自动测试设备(ATE)提供动态测试能力。当负载电流介于两个设定限流值之间时，DPS IC...

2022-09-07 标签：散热器 DPS ATE 5.6k 0

测试向量是什么意思

测试向量及其生成测试向量（Test Vector）的一个基本定义是：测试向量是每个时钟周期应用于器件管脚的用于测试或者操作的逻辑1和逻辑0数据。这一...

2023-10-30 标签：测试 IC 测量 5.5k 0

自动测试设备，高压继电器怎么选？

在自动测试设备（ATE）与精密仪器测试里，“高密度、低漏流”和“高耐压、小尺寸”往往是相互矛盾的两个维度。一些测试测量应用需要在极小封装内集成可承受5k...

2025-07-31 标签：ATE 线缆测试仪线束检测仪 4.8k 0

聊聊IC测试机（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自动测试设备 (ATE)对PLL（锁相环）进行测试时，我们首先要明白PLL在系统级芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 标签：锁相环 DFT ATE 4.5k 0

线缆测试效率如何一步到位？

高压继电器是线缆测试仪的核心部件，在高压安全与测量精度间取得平衡，其设计必须解决绝缘、耐压和寿命三大难题，是普通继电器无法替代的关键环节。高压干簧继电器...

2025-07-23 标签：ATE 测试设备线缆测试仪 4k 0

老化测试效率提升，高压干簧继电器究竟做对了什么？

在老化机测试中，“精密、耐用、高密度”这三项指标缺一不可，传统机械继电器体积大、寿命短；半导体开关又难扛高压。高压干簧继电器体积紧凑、隔离高，非常适合密...

2025-07-18 标签：ATE 老化测试自动测试设备 3.6k 0

ATE测试机是什么

半导体测试设备主要包括三类：ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现，而探针台和分选机实现的则是机械功能，将被测晶圆/芯片拣选至测试机进行检测。

2023-12-04 标签：芯片测试 ATE 测试机 3.6k 0

IC测试基本原理与ATE测试向量生成

IC测试主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高...

2024-10-12 标签：芯片 IC测试功能测试 3.5k 0

聊聊IC测试机（3）基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

本文以ATE为基础，讨论了集成电路测试的基本原理和测试方法，并进行了故障分析.

2023-11-01 标签：滤波电容输出电压 PSRR 3.5k 0

自动测试设备(ATE)系统中的示波器需求

在测试电子器件时，很难不提到示波器所具有的通用性。为了对电子电路进行验证，工程师需要能够查看和测量其设计中的信号。自动测试设备（ATE）通常不提供大量可...

2017-03-27 标签：示波器 pxie ate 3.4k 0

ATE/ATS内部结构简介

ATE/ATS：自动测试设备/自动测试系统，也称测试机是测试工程师在IC测试中必须使用的工具，本文主要从技术层面对ATE/ATS的组成及软硬件及其接口要...

2023-10-30 标签：测试 IC 仪器 2.9k 0

ATEstar通用测试平台管理系统

采用通用性和多线程的设计思想，研制一种通用测试平台管理系统，具体实现分为配置和运行两大部分。配置包括数据输入定义和显示存储定义等功能。运行根据配置参数按...

2018-05-23 标签：ate 2.9k 0

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