0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

探索 onsemi NVMFS5113PL P 沟道 MOSFET:高性能与可靠性的完美结合

lhl545545 2026-04-09 15:45 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

探索 onsemi NVMFS5113PL P 沟道 MOSFET:高性能与可靠性的完美结合

在电子设计领域,MOSFET 作为关键元件,其性能直接影响着整个电路的表现。今天,我们将深入探讨 onsemi 推出的 NVMFS5113PL 单 P 沟道功率 MOSFET,这款器件在诸多方面展现出卓越的特性,为电子工程师提供了可靠的选择。

文件下载:NVMFS5113PL-D.PDF

1. 关键参数与特性

1.1 基本参数

NVMFS5113PL 具有 -60 V 的漏源电压((V{DSS}))和 -64 A 的连续漏极电流((I{D}),(T{C}=25^{circ}C)),这使其能够在高电压和大电流的环境下稳定工作。同时,其低导通电阻((R{DS(on)}))特性尤为突出,在 (V{GS}=-10 V),(I{D}=-17 A) 时,(R{DS(on)}) 低至 10.5 - 14 mΩ;在 (V{GS}=-4.5 V),(I{D}=-5 A) 时,(R{DS(on)}) 为 16 - 22 mΩ。低 (R_{DS(on)}) 有助于减少导通损耗,提高电路效率。

1.2 其他特性

  • 高电流能力:该器件具备出色的电流处理能力,能够满足高功率应用的需求。
  • 雪崩能量指定:单脉冲漏源雪崩能量((E{AS}))在 (T{J}=25^{circ}C),(V{DD}=50 V),(V{GS}=10 V),(I{L(pk)}=46 A),(L = 0.3 mH),(R{G}=25 Omega) 条件下可达 315 mJ,保证了器件在雪崩情况下的可靠性。
  • 汽车级应用:产品带有 NVM 前缀,适用于汽车及其他有独特场地和控制变更要求的应用,并且通过了 AEC - Q101 认证,具备 PPAP 能力。
  • 环保特性:这些器件为无铅、无卤素/BFR 且符合 RoHS 标准,符合环保要求。

2. 电气特性

2.1 关断特性

  • 漏源击穿电压((V_{(BR)DSS})):在 (V{GS}=0 V),(I{D}=-250 mu A) 时,(V_{(BR)DSS}) 为 -60 V,这是器件能够承受的最大漏源电压。
  • 零栅压漏极电流((I_{DSS})):在 (V{GS}=0 V),(T{J}=25^{circ}C),(V{DS}=-60 V) 时,(I{DSS}) 为 -1.0 (mu A);在 (T{J}=125^{circ}C) 时,(I{DSS}) 为 -100 (mu A)。较低的 (I_{DSS}) 有助于降低静态功耗。
  • 栅源泄漏电流((I_{GSS})):在 (V{DS}=0 V),(V{GS}=20 V) 时,(I_{GSS}) 为 100 nA,表明栅极的绝缘性能良好。

2.2 导通特性

  • 栅极阈值电压((V_{GS(TH)})):在 (V{GS}=V{DS}),(I{D}=-250 mu A) 时,(V{GS(TH)}) 为 -1.5 - -2.5 V,这是器件开始导通的栅源电压范围。
  • 正向跨导((g_{FS})):在 (V{DS}=-15 V),(I{D}=-15 A) 时,(g_{FS}) 为 43 S,反映了栅极电压对漏极电流的控制能力。

2.3 电荷与电容特性

  • 输入电容((C_{iss})):在 (V{GS}=0 V),(f = 1.0 MHz),(V{DS}=-25 V) 时,(C{iss}) 为 4400 pF,较大的 (C{iss}) 会影响器件的开关速度。
  • 输出电容((C_{oss})):为 505 pF,反向传输电容((C_{rss}))为 319 pF,这些电容参数对器件的开关特性有重要影响。
  • 总栅极电荷((Q_{G(TOT)})):在 (V{DS}=-48 V),(I{D}=-17 A) 时,(V{GS}=-4.5 V) 时 (Q{G(TOT)}) 为 45 nC,(V_{GS}=-10 V) 时为 83 nC,栅极电荷的大小影响着器件的开关时间。

2.4 开关特性

在 (V{GS}=-10 V),(V{DS}=-48 V),(I{D}=-17 A),(R{G}=2.5 Omega) 条件下,开启延迟时间((t{d(on)}))为 15 ns,上升时间((t{r}))为 37 ns,关断延迟时间((t{d(off)}))为 54 ns,下降时间((t{f}))为 77 ns。这些开关时间参数决定了器件在高频应用中的性能。

2.5 漏源二极管特性

  • 正向二极管电压((V_{SD})):在 (V{GS}=0 V),(I{S}=-17 A),(T{J}=25^{circ}C) 时,(V{SD}) 为 -0.79 - -1.0 V;在 (T{J}=125^{circ}C) 时,(V{SD}) 为 -0.65 V。
  • 反向恢复时间((t_{RR})):为 41 ns,反向恢复电荷((Q_{RR}))为 50 nC,这些参数影响着二极管在开关过程中的性能。

3. 典型特性曲线分析

3.1 导通区域特性

从导通区域特性曲线(Figure 1)可以看出,不同栅源电压下,漏极电流随漏源电压的变化情况。随着栅源电压的增加,漏极电流也相应增加,这符合 MOSFET 的导通特性。

3.2 传输特性

传输特性曲线(Figure 2)展示了漏极电流与栅源电压之间的关系。在不同温度下,曲线的斜率和截距有所变化,这反映了温度对器件性能的影响。

3.3 导通电阻特性

导通电阻与栅源电压(Figure 3)和漏极电流(Figure 4)的关系曲线表明,导通电阻随着栅源电压的增加而减小,随着漏极电流的增加而略有增加。同时,温度对导通电阻也有显著影响(Figure 5),随着温度的升高,导通电阻增大。

3.4 电容特性

电容随漏源电压的变化曲线(Figure 7)显示,输入电容、输出电容和反向传输电容都随着漏源电压的变化而变化。这对器件的开关速度和高频性能有重要影响。

3.5 栅极电荷特性

栅源电压与总栅极电荷的关系曲线(Figure 8)反映了栅极电荷的积累和释放过程,对理解器件的开关过程至关重要。

3.6 开关时间特性

开关时间随栅极电阻的变化曲线(Figure 9)表明,栅极电阻越大,开关时间越长。在设计电路时,需要合理选择栅极电阻以优化开关性能。

3.7 二极管特性

二极管正向电压与电流的关系曲线(Figure 10)展示了二极管的正向导通特性,有助于了解二极管在电路中的工作情况。

3.8 安全工作区特性

最大额定正向偏置安全工作区曲线(Figure 11)和雪崩特性曲线(Figure 12)分别给出了器件在不同条件下的安全工作范围,工程师在设计时需要确保器件工作在安全区内。

3.9 热响应特性

有效瞬态热阻随脉冲时间的变化曲线(Figure 13)反映了器件的热特性,对于散热设计具有重要参考价值。

4. 封装与订购信息

4.1 封装尺寸

该器件提供 DFN5 和 DFNW5 两种封装形式。DFN5 封装尺寸为 5x6,引脚间距 1.27 mm;DFNW5 封装尺寸为 4.90x5.90x1.00,引脚间距 1.27 mm。详细的封装尺寸和机械图在文档中有明确说明,工程师在进行 PCB 设计时需要参考这些尺寸。

4.2 订购信息

提供了两种具体型号的订购信息:NVMFS5113PLT1G 和 NVMFS5113PLWFT1G,分别采用 DFN5 和 DFNW5 封装,均为无铅封装,每盘 1500 个,采用卷带包装。

5. 总结与思考

onsemi 的 NVMFS5113PL P 沟道 MOSFET 以其低导通电阻、高电流能力、良好的开关特性和环保特性,为电子工程师在电源管理汽车电子等领域的设计提供了可靠的解决方案。在实际应用中,工程师需要根据具体的电路需求,合理选择器件的工作参数,并注意散热设计和电磁兼容性等问题。同时,对于器件的典型特性曲线,需要深入理解其含义,以便更好地优化电路性能。你在使用 MOSFET 时,是否也遇到过类似的参数选择和性能优化问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电子设计
    +关注

    关注

    42

    文章

    2870

    浏览量

    49916
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    探索 onsemi NTP125N60S5FZ MOSFET高性能与可靠性完美结合

    探索 onsemi NTP125N60S5FZ MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 03-31 09:55 336次阅读

    探索 onsemi NVHL050N65S3HF MOSFET高性能与可靠性完美结合

    探索 onsemi NVHL050N65S3HF MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 03-31 15:20 152次阅读

    Onsemi NVMFS021N10MCL单通道N沟道功率MOSFET高性能与紧凑设计的完美结合

    Onsemi NVMFS021N10MCL单通道N沟道功率MOSFET高性能与紧凑设计的完美
    的头像 发表于 04-07 14:10 100次阅读

    探索 onsemi NVMFWS0D45N04XM MOSFET高性能与可靠性完美结合

    探索 onsemi NVMFWS0D45N04XM MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-09 10:10 167次阅读

    Onsemi NTTFS007P02P8 P沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    Onsemi NTTFS007P02P8 P沟道MOSFET高性能与
    的头像 发表于 04-10 11:25 152次阅读

    onsemi FDP2614 N-Channel MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDP2614 N-Channel MOSFET高性能与可靠性完美结合 在电子
    的头像 发表于 04-15 10:55 119次阅读

    onsemi FDMS8D8N15C N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMS8D8N15C N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-15 15:20 67次阅读

    onsemi FDMS86263P P沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMS86263P P沟道MOSFET高性能与
    的头像 发表于 04-15 15:50 85次阅读

    onsemi FDMS86182 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMS86182 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-15 16:35 123次阅读

    onsemi FDMS4D5N08LC N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMS4D5N08LC N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-16 10:40 68次阅读

    onsemi FDMC86340 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMC86340 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-16 15:35 110次阅读

    onsemi FDMC86260 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMC86260 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-16 16:00 104次阅读

    onsemi FDMC86102 N-Channel MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDMC86102 N-Channel MOSFET高性能与可靠性完美结合
    的头像 发表于 04-16 16:45 51次阅读

    Onsemi FDBL86561-F085 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    Onsemi FDBL86561-F085 N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-17 17:25 540次阅读

    onsemi FDT86106LZ N沟道MOSFET高性能与可靠性完美结合

    onsemi FDT86106LZ N沟道MOSFET高性能与可靠性完美
    的头像 发表于 04-20 15:00 74次阅读