解析FCH077N65F-F085:高性能N沟道MOSFET的卓越之选
在电子工程领域,MOSFET作为关键的功率器件,其性能的优劣直接影响着电子设备的效率和稳定性。今天,我们就来深入剖析一款备受关注的N沟道MOSFET——FCH077N65F-F085,看看它在实际应用中究竟有何独特之处。
产品概述
FCH077N65F-F085属于SuperFET II系列MOSFET,这是安森美(onsemi)全新的高压超结(SJ)MOSFET家族。该家族采用电荷平衡技术,具备出色的低导通电阻和低栅极电荷性能,能够有效降低传导损耗,并提供卓越的开关性能、dv/dt速率和更高的雪崩能量。此外,其优化的体二极管反向恢复性能,还能减少额外元件的使用,提高系统可靠性。
关键特性
电气性能
- 导通电阻:在$V{GS}=10V$、$I{D}=27A$的典型条件下,$R_{DS(on)}$为68mΩ,这意味着在导通状态下,器件的功率损耗较低,能够有效提高系统效率。
- 栅极电荷:同样在$V{GS}=10V$、$I{D}=27A$时,$Q_{g(tot)}$为126nC,低栅极电荷有助于降低开关损耗,提高开关速度。
- 雪崩能力:具备UIS(非钳位电感开关)能力,能够承受单次脉冲雪崩能量,在复杂的电路环境中提供可靠的保护。
- 温度特性:工作和存储温度范围为 -55°C至 +150°C,能够适应各种恶劣的工作环境。
封装与标识
该器件采用TO-247-3LD封装,具有良好的散热性能。其标识包含了装配工厂代码、日期代码、批次代码和特定器件代码等信息,方便生产管理和追溯。
技术参数
绝对最大额定值
| 参数 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|
| 漏源电压$V_{DSS}$ | 650 | V |
| 栅源电压$V_{GS}$ | ±20 | V |
| 连续漏极电流$I{D}$($V{GS}=10V$) | 54 | A |
| 单次脉冲雪崩额定值$E_{AS}$ | 1128 | mJ |
| MOSFET dv/dt | 100 | V/ns |
| 峰值二极管恢复dv/dt | 50 | |
| 功率耗散$P_{D}$ | 481 | W |
| 25°C以上降额 | 3.85 | W/°C |
| 工作和存储温度范围$T{J}$、$T{STG}$ | -55 至 +150 | °C |
电气特性
- 关断特性:漏源击穿电压$B{VDS}$为650V,漏源泄漏电流$I{DSS}$在$T{J}=25°C$时为10μA,$T{J}=150°C$时为1mA。
- 导通特性:栅源阈值电压$V{GS(th)}$在$V{GS}=V{DS}$、$I{D}=250μA$时为3 - 5V;漏源导通电阻$R{DS(on)}$在$V{GS}=10V$、$I_{D}=27A$时为77 - 184mΩ。
- 动态特性:输入电容$C{iss}$为5385 - 7162pF,输出电容$C{oss}$为5629 - 7486pF,反向传输电容$C{rss}$为194pF,有效输出电容$C{oss(eff.)}$为693pF,栅极电阻$R_{g}$为0.5Ω。
- 开关特性:开通时间$t{on}$为64 - 148ns,关断时间$t{off}$为108.3 - 237ns。
- 漏源二极管特性:源漏二极管电压$V{SD}$在$V{GS}=0V$、$I{SD}=27A$时为1.2V,反向恢复时间$t{rr}$为190ns,反向恢复电荷$Q_{rr}$为1.5μC。
典型特性曲线
通过一系列典型特性曲线,我们可以更直观地了解该器件在不同条件下的性能表现。例如,功率耗散与壳温的关系曲线、最大连续漏极电流与壳温的关系曲线等,这些曲线为工程师在实际设计中提供了重要的参考依据。
应用领域
由于其出色的性能,FCH077N65F-F085适用于多种应用场景,特别是在汽车领域,如汽车车载充电器和混合动力汽车(HEV)的DC/DC转换器等。在这些应用中,该器件能够有效提高系统效率,降低功耗,为汽车电子系统的稳定运行提供保障。
总结
FCH077N65F-F085作为一款高性能的N沟道MOSFET,凭借其先进的技术和卓越的性能,在电子工程领域具有广泛的应用前景。无论是在降低功耗、提高效率还是增强系统可靠性方面,都表现出色。对于电子工程师来说,深入了解该器件的特性和参数,能够更好地将其应用于实际设计中,为产品的性能提升提供有力支持。
你在实际设计中是否使用过类似的MOSFET器件?在使用过程中遇到过哪些问题?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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