深入解析LM5051低侧OR-ing FET控制器:特性、应用与设计要点
在电子设计领域,电源系统的可靠性和效率至关重要。对于需要高可用性的系统,通常会采用多个并联的冗余电源来提高可靠性。而LM5051低侧OR-ing FET控制器在这方面发挥着重要作用。今天,我们就来深入了解一下这款控制器。
文件下载:lm5051.pdf
一、LM5051概述
LM5051是一款低侧OR-ing FET控制器,由德州仪器(Texas Instruments)推出。它与外部N沟道MOSFET配合使用,可作为理想的二极管整流器,串联在电源上。其主要作用是在电源分配网络中用MOSFET取代二极管整流器,从而降低功率损耗和电压降。
(一)特性亮点
- 宽输入电压范围:工作输入电压范围为 -6V 至 -100V,还具备 -100V 的瞬态承受能力,能适应多种电源环境。
- 强大的驱动能力:为外部N沟道MOSFET提供栅极驱动,拥有2A的峰值栅极关断电流,可快速响应电流反转,响应时间仅为50ns。
- 诊断测试功能:具备MOSFET诊断测试模式,方便系统控制器检测MOSFET是否短路。
- 封装形式:采用8引脚SOIC封装,便于在电路板上进行布局。
(二)应用场景
主要应用于冗余(N + 1)电源的有源OR-ing,确保电源系统的可靠性和稳定性。
二、引脚功能详解
(一)LINE引脚
为内部12V齐纳并联稳压器提供偏置,通过内部50kΩ(典型值)的串联电阻连接到VCC引脚。
(二)VCC引脚
连接到内部12V齐纳并联稳压器,需用至少0.1μF的电容旁路到VSS引脚。该引脚可通过外部电阻偏置,也可通过LINE引脚的内部电阻偏置。
(三)OFF引脚
用于控制FET测试模式。逻辑低或开路状态可使FET测试模式失效,允许正常操作;逻辑高状态会拉低GATE引脚,关闭外部MOSFET。
(四)nFGD引脚
FET测试电路的开漏输出。低电平表示外部MOSFET的正向电压(从源极到漏极)大于260mV(典型值),需要外部上拉电阻连接到不高于VSS + 5.5V的电压。
(五)INP/VSS引脚
内部连接到引脚7,是负电源电压连接和MOSFET电压检测引脚,连接到外部MOSFET的公共源极。
(六)INN引脚
用于检测外部MOSFET漏极的电压。
(七)GATE引脚
连接到外部MOSFET的栅极,控制MOSFET的开关状态。
三、电气特性分析
(一)LINE引脚电流
在VLINE = 48.0V且VCC引脚开路时,典型电流为690μA,最大值为780μA。
(二)VCC引脚特性
- 工作电压范围:LINE引脚开路时,工作电压范围为4.50V至VZ。
- 齐纳电压:在不同电流下,VCC齐纳电压有所不同,如IVCC = 2mA时,为11.9 - 14.3V;IVCC = 10mA时,为12.5 - 14.5V。
- 齐纳调节:IVCC从2mA变化到10mA时,齐纳调节范围为0.50 - 1.11V。
- 电源电流:VVCC = VZ - 100mV时,典型值为1.0mA,最大值为1.50mA。
(三)GATE引脚特性
- 充电电流:VGATE = 5.5V且VINN = -150mV时,典型值为0.66mA。
- 放电电流:VGATE = 5.5V,VINN从 -150mV变化到 +300mV且t ≤ 10ms时,典型值为3.5A。
- 高电压:在不同条件下,VGATE的高电压有所不同,如VLINE = 48.0V时,典型值为13.0V。
(四)反向阈值和迟滞
- 反向阈值:VINN变负直到栅极驱动开启时,典型值为 -45mV。
- 反向阈值迟滞:VINN从反向阈值变正直到栅极驱动关闭时,典型值为50mV。
(五)调节阈值
调节INP/VSS到INN的阈值,典型值为12mV。
(六)栅极电容放电时间
- 正向到反向转换时:不同栅极电容下,放电时间不同,如C GATE = 47nF时,典型值为90ns。
- OFF引脚从低到高转换时:C GATE = 47nF时,典型值为120ns。
四、典型应用电路
(一)基本应用
图34展示了基本应用电路,包括LM5051、MOSFET和相关电容。在这个电路中,LM5051通过检测MOSFET源极和漏极的电压,控制MOSFET的开关,实现理想的整流功能。
(二)-48V典型应用
图35为典型的 -48V应用电路,增加了输入和输出瞬态保护以及开路MOSFET保护。这种设计可以有效提高系统的稳定性和可靠性,防止电源系统受到瞬态电压的影响。
五、设计要点与注意事项
(一)MOSFET选择
- 电气参数:要考虑最大连续漏极电流ID、最大源极电流、最大漏源电压VDS(MAX)、栅源阈值电压VGS(TH)、漏源反向击穿电压V(BR)DSS和漏源导通电阻RDS(ON)等参数。
- RDS(ON)选择:建议选择RDS(ON)在标称负载电流下提供至少20mV且不超过100mV的MOSFET。虽然低RDS(ON)可以降低传导损耗,但过高的RDS(ON)会导致过多的功率耗散。同时,较高的RDS(ON)可以提供更多的电压信息给反向比较器,减少反向电流泄漏,但成本也会相应增加。
- 热阻考虑:要根据预期的MOSFET功耗选择合适的热阻,确保结温在合理范围内。例如,在最大环境温度为35°C、负载电流为10A、RDS(ON)为10mΩ的情况下,若要将结温控制在100°C以下,最大结到环境的热阻评级应不超过65°C/W。
(二)VCC引脚偏置
- 当LINE电压不低于36V时,VCC引脚通常通过内部50kΩ串联电阻从LINE引脚偏置。
- 当LINE电压低于36V时,可以使用外部电阻将VCC引脚偏置到合适的偏置电源。设计时需要计算外部电阻的值,确保VCC引脚电流在1 - 10mA的范围内。
(三)故障保护
- MOSFET故障:如果外部MOSFET发生灾难性故障,导致体二极管开路,INN引脚的电压可能会损坏LM5051。可以使用肖特基二极管和限流电阻来限制INN引脚的电压。
- 输入电源短路故障:输入电源突然短路会导致最大可能的反向电流流动,此时LM5051控制电路会迅速放电MOSFET的栅极。但在MOSFET关闭之前,反向电流仅受MOSFET的RDS(ON)、寄生布线电阻和电感的限制。
六、总结
LM5051低侧OR-ing FET控制器以其宽输入电压范围、快速响应和诊断测试功能等特性,为冗余电源系统提供了可靠的解决方案。在设计过程中,合理选择MOSFET、正确偏置VCC引脚以及做好故障保护措施,能够充分发挥LM5051的性能,提高电源系统的可靠性和效率。希望本文能为电子工程师在相关设计中提供有价值的参考。你在使用LM5051的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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