本文介绍晶圆表面温度对干法刻蚀的影响
表面温度对干法刻蚀的影响主要包括:聚合物沉积,选择性,光刻胶流动、产物挥发性与刻蚀速率,表面形貌等。

聚合物沉积:工艺过程中产生的聚合物会在表面沉积,影响刻蚀速率和选择性。温度影响聚合物的沉积速率和稳定性,高温可使沉积层分解或减少,低温则会增加聚合物沉积。 选择性 :刻蚀材料和掩膜材料的选择性对温度非常敏感。温度过高会降低刻蚀选择性,因为刻蚀速率加速会同时刻蚀掩膜。 光刻胶:光刻胶流动在高温下,光刻胶会发生软化、流动甚至起泡,导致形貌失真。 产物挥发性与刻蚀速率 :温度影响化学反应的副产物挥发性,高温下副产物更易挥发,有助于提高刻蚀速率。而低温会导致副产物残留,降低刻蚀效率。 刻蚀形貌:刻蚀温度接近材料的玻璃化温度 (Tg),表面形貌均匀。刻蚀温度远低于玻璃化温度,表面刻蚀不均匀,且粗糙度较大。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
晶圆
+关注
关注
53文章
5449浏览量
132757 -
刻蚀
+关注
关注
2文章
223浏览量
13827
原文标题:晶圆表面温度对干法刻蚀的影响?
文章出处:【微信号:bdtdsj,微信公众号:中科院半导体所】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
汽车内外饰在阳光模拟下的表面温度试验
汽车领域阳光模拟老化测试多基于TNR法(温度校正太阳辐射法),传统以黑标温度替代样品表面温度,但不同颜色对辐射吸收差异显著,导致误差较大。白色饰板与黑标温度温差可达13.88℃,70W
晶圆刻蚀清洗过滤:原子级洁净的半导体工艺核心
:采用DHF(稀氢氟酸)同步完成氧化层刻蚀与颗粒剥离,利用HF与NH₄F缓冲液维持pH稳定,减少过腐蚀风险。例如,针对300mm晶圆,优化后的SC-1溶液(NH₄OH:H₂O₂:H₂O=1:1:5)可实现
晶圆湿法刻蚀技术有哪些优点
晶圆湿法刻蚀技术作为半导体制造中的重要工艺手段,具有以下显著优点:高选择性与精准保护通过选用特定的化学试剂和控制反应条件,湿法刻蚀能够实现对目标材料的高效去除,同时极大限度地减少对非目
干法刻蚀机在精密光栅加工中的应用优势
上海伯东 IBE 离子束刻蚀机, 离子束具有方向性强的特点, 刻蚀过程中对材料的侧向侵蚀 (钻蚀)少, 能形成陡峭的光栅槽壁, 适合加工高精度, 高分辨率的光栅 (如中高沟槽密度的光栅).
MEMS制造中玻璃的刻蚀方法
在MEMS中,玻璃因具有良好的绝缘性、透光性、化学稳定性及可键合性(如与硅阳极键合),常被用作衬底、封装结构或微流体通道基板。玻璃刻蚀是制备这些微结构的核心工艺,需根据精度要求、结构尺寸及玻璃类型选择合适的方法,玻璃刻蚀主要分为湿法腐蚀和
晶圆表面清洗静电力产生原因
晶圆表面清洗过程中产生静电力的原因主要与材料特性、工艺环境和设备操作等因素相关,以下是系统性分析: 1. 静电力产生的核心机制 摩擦起电(Triboelectric Effect) 接触分离:
晶圆表面温度对干法刻蚀的影响
评论