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测量仪表

提供权威的仪器、测量仪表、传感器测量资讯和测量技术方案,包括集成电路测试、电路板测试、工控仪表、通信测试、传感器等专业领域,是最专业的仪器信息网。
如何解决测试待机功耗电流过大?六级能耗功率计

如何解决测试待机功耗电流过大?六级能耗功率计

功率计测试时电流数据波动大,可能是由高频干扰、负载波动等多种因素导致的。横河WT310E功率计的功能特性和操作指南,针对待机功耗电流波动大的问题。...

2025-07-05 标签:待机功耗电流过大 2046

二次元测量仪‌、‌影像测量仪‌和‌一键闪测仪‌到底选哪个?

二次元测量仪‌、‌影像测量仪‌和‌一键闪测仪‌到底选哪个?

精密制造领域三大主流测量仪器——二次元测量仪、影像测量仪和一键闪测仪,它究竟有什么区别,又是哪种更适合您的产线?一文为您深度解析!...

2025-07-05 标签:影像测量仪影像测量仪 2941

简仪科技PXI CONNECT 2025圆满收官

由简仪科技主办的业内瞩目的国内PXI模块仪器领域年度技术盛会——PXI CONNECT 2025,于6月27日在西安圆满收官。本次活动汇聚了众多技术专家、工程师与生态合作伙伴,围绕丰富的技术议题与应...

2025-07-05 标签:测试测量AIAIPXI测试测量 2466

‌武汉昊衡科技OLI系列白光干涉仪——赋能CPO时代光互联高可靠检测‌

‌武汉昊衡科技OLI系列白光干涉仪——赋能CPO时代光互联高可靠检测‌

在高速光通信向CPO(共封装光学)技术跃迁的进程中,光模块与器件内部光纤链路的微米级缺陷已成为制约系统可靠性的核心痛点。传统检测手段受限于灵敏度不足、效率低下,难以应对高密度...

2025-07-04 标签:检测昊衡科技干涉仪昊衡科技检测 1967

半导体掺杂浓度及图形测量方法

半导体掺杂浓度及图形测量方法

热波系统通过激光诱导热效应与晶格缺陷的关联性实现掺杂浓度评估。其核心机制为:氩泵浦激光经双面镜聚焦于晶圆表面,通过光热效应产生周期性热波,导致局部晶格缺陷密度变化。...

2025-07-04 标签:半导体半导体芯片制造 3251

罗德与施瓦茨发布全新UDS系列数字万用表

罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)推出全新R&S UDS数字万用表系列。该紧凑型仪器系列可同步显示三项测量结果,配备多样化测量功能及多种远程控制接口。产品提供5½位和6½位两种分辨率...

2025-07-03 标签:数字万用表接口罗德与施瓦茨 1764

一文读懂CAN XL协议

一文读懂CAN XL协议

随着汽车和工业应用中数据通信量的增加,传统的CAN协议已无法满足更高的数据速率需求。传统CAN协议在数据速率和总线负载能力方面存在限制,难以满足高带宽和高实时性的应用场景。为此,...

2025-07-03 标签:示波器接口CAN鼎阳科技测量仪器 4828

汽车硬件在环(HIL)之车身电子测试解析

汽车硬件在环(HIL)之车身电子测试解析

车身电子 HIL 测试通过 “虚拟场景 + 硬件验证” 的模式,将传统需要实车投入的测试场景数字化,不仅大幅提升研发效率,更能覆盖物理测试难以触及的极端工况与故障场景。随着汽车电子化...

2025-07-03 标签:HIL测试设备汽车测试自动测试设备 2916

案例分享 | 前沿物理实验室突破全光学磁翻转研究瓶颈:德思特脉冲发生器赋能飞秒级磁矩操控

案例分享 | 前沿物理实验室突破全光学磁翻转研究瓶颈:德思特脉冲发生器赋能

德思特TS-PG1072以超快脉冲精控技术,助力前沿物理实验室攻克全光学磁翻转的飞秒级操控瓶颈,实现从机制解析到低能耗器件设计的全链条突破。...

2025-07-02 标签:光学光学光学测试脉冲发生器 1722

峰均比:你了解多少?

峰均比:你了解多少?

峰均比,或称峰值因数(crestfactor),简称PAR(peak-to-averageratio),或叫峰均功率比(简称PARR,peak-to-averagepowerratio)。先说定义:峰均比是一种对波形的测量参数,等于波形的振幅除以有效值(RMS)所得到...

2025-07-02 标签:测量峰均比测量 3574

Pico Technology推出新款高带宽采样示波器

Pico Technology推出新款高带宽采样示波器

作为基于PC测试和测量仪器市场领导者的 Pico Technology, 非常自豪地宣布推出其 PicoScope 9400A 系列高带宽采样示波器的扩展产品。该产品的设计是为了满足人们对高速电子、通信、半导体研究以及...

2025-07-02 标签:示波器测量仪器Pico 1741

高压测试新选择:斯丹麦德电子BH系列高压干簧继电器

高压测试新选择:斯丹麦德电子BH系列高压干簧继电器

精密测试仪器和自动测试设备对继电器的性能要求极高,不仅需要其具备高电压切换能力,还需具备出色的绝缘性能、低接触电阻以及长寿命等特性。斯丹德电子BH系列高压干簧继电器。该系列...

2025-07-02 标签:测试测量源表高压继电器测试测量源表矩阵开关高压继电器 3511

技术干货 | ATX7006线性计算与AD/DA动态分析解析

技术干货 | ATX7006线性计算与AD/DA动态分析解析

想知道如何在ATX7006上进行高精度线性度计算?如何通过傅里叶变换分析AD/DA转换器的动态性能?本文详细解析了线性计算的命令配置、结果获取方法,以及动态测试中的信噪比、谐波失真等关键...

2025-06-30 标签:半导体测试半导体测试 1339

基于机器视觉的碳化硅衬底切割自动对刀系统设计与厚度均匀性控制

基于机器视觉的碳化硅衬底切割自动对刀系统设计与厚度均匀性控制

一、引言 碳化硅(SiC)作为第三代半导体材料的代表,以其卓越的物理化学性能,在新能源汽车、轨道交通、5G 通信等关键领域展现出不可替代的作用。然而,SiC 材料硬度高、脆性大的特性,...

2025-06-30 标签:晶圆碳化硅晶圆机器视碳化硅 1001

一文了解电压谐波

一文了解电压谐波

我们经常会听到谐波,到底什么是谐波,怎么定义的?为什么要关注谐波?什么时候关注谐波?谐波如何计算或标准规定的谐波的算法是怎样的?GB关于电压谐波又是如何评估的?带着诸多的问...

2025-06-28 标签:福禄克电压谐波电能质量福禄克 5472

X-ray设备2D/3D检测金属材料及零部件裂纹异物的缺陷

X-ray设备2D/3D检测金属材料及零部件裂纹异物的缺陷

在高端制造领域,金属材料及零部件的内部质量直接关系到产品性能与安全性。X-ray设备凭借其独特的穿透成像能力,成为检测裂纹、异物等缺陷的关键工具,而2D/3D检测技术的结合,更将检测...

2025-06-27 标签:x-rayX射线机X射线检测 1469

如何利用示波器测量开关电源死区时间

如何利用示波器测量开关电源死区时间

在当今复杂而精密的电子技术领域,开关电源作为众多电子设备的核心供电组件,其性能与稳定性至关重要。然而,在实际的研发、生产及应用过程中,我们时常会面临一个棘手的问题——开关...

2025-06-27 标签:开关电源示波器晶体管开关电源晶体管死区时间示波器 4136

罗德与施瓦茨FSWX信号与频谱分析仪技术解析

罗德与施瓦茨FSWX信号与频谱分析仪技术解析

当前频谱分析仪面临多重挑战:现代射频应用要求更高的数据速率、更宽的调制带宽及更高阶的调制方式。尖端元器件需要更优的信噪比和接近物理极限的性能指标,但现有设备在宽频带、大功...

2025-06-27 标签:射频频谱分析仪罗德与施瓦茨宽带信号射频罗德与施瓦茨频谱分析仪 2747

无线通信中信号衰落的影响因素和测试解决方案

无线通信中信号衰落的影响因素和测试解决方案

你是否遇到过这样的场景:明明手机信号满格,视频却卡成PPT?Wi-Fi路由器近在只尺,网速却堪比蜗牛?...

2025-06-27 标签:无线通信路由器无线通信衰落路由器 3876

罗德与施瓦茨携手紫光展锐展示NR-NTN终端测试能力

罗德与施瓦茨携手紫光展锐展示NR-NTN终端测试能力

NTN通过空天地一体化网络实现了全域无缝覆盖。过去,卫星网络和地面网络是两张独立的网络,二者无法融合。而现在,这两种通信方式逐步进行融合协作,终端无需专用设备既可以连接地面网...

2025-06-27 标签:卫星通信罗德与施瓦茨紫光展锐 1892

罗德与施瓦茨全新FSWP相位噪声分析仪及VCO测试仪实现单表56 GHz测量能力并支持外接信号源

罗德与施瓦茨全新FSWP相位噪声分析仪及VCO测试仪实现单表56 GHz测量能力并支持

罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)针对未来应用需求升级R&S FSWP相位噪声分析仪。全新R&S FSWP-B56G选件将频率范围扩展至56 GHz,通过支持外接高端信号源作为本振,该设备兼具易用型信号...

2025-08-05 标签:测试仪信号源罗德与施瓦茨信号源测试仪相位噪声罗德与施瓦茨 7872

TC Wafer晶圆测温系统——半导体制造温度监控的核心技术

TC Wafer晶圆测温系统——半导体制造温度监控的核心技术

TCWafer晶圆测温系统是一种革命性的温度监测解决方案,专为半导体制造工艺中晶圆温度的精确测量而设计。该系统通过将微型热电偶传感器(Thermocouple)直接镶嵌于晶圆表面,实现了对晶圆温...

2025-06-27 标签:半导体晶圆半导体晶圆测温系统 2073

创新引领未来,是德科技年度技术盛会在上海圆满举行

创新引领未来,是德科技年度技术盛会在上海圆满举行

2025年6月26日,中国上海 —— 创新突破边界,技术重塑未来。今日,是德科技(NYSE: KEYS )在上海成功举办了年度技术交流盛会Keysight World Tech Day 2025。此次盛会汇集了来自通信、半导体、人工智...

2025-06-26 标签: 1845

应用分享 | 数字化仪功率测量全攻略:从单相到三相系统精准测试

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如何精准测量单相/三相电路的有功功率、视在功率和谐波?本文详解模块化数字化仪的选型要点、差分探头使用技巧,以及三瓦特表法与两瓦特计法的实战对比。...

2025-06-26 标签:数据采集卡功率测量数字化仪数据采集卡 1965

自动对刀技术对碳化硅衬底切割起始位置精度的提升及厚度均匀性优化

自动对刀技术对碳化硅衬底切割起始位置精度的提升及厚度均匀性优化

摘要:碳化硅衬底切割对起始位置精度与厚度均匀性要求极高,自动对刀技术作为关键技术手段,能够有效提升切割起始位置精度,进而优化厚度均匀性。本文深入探讨自动对刀技术的作用机制...

2025-06-26 标签:碳化硅碳化硅 923

FPC自动化测试设备的产品类型及应用领域分析

FPC自动化测试设备的产品类型及应用领域分析

随着电子产业的持续发展,电子产品的小型化、集成化趋势愈发明显,这将进一步推动 FPC 的广泛应用,从而带动 FPC 自动化测试设备市场需求的稳步增长。同时,技术创新也将为该领域注入源...

2025-06-26 标签:自动化测试试验机FPC自动化测试试验机 1451

一文解析射频信号功率测量方法

一文解析射频信号功率测量方法

在无线通信中,功率测量是一个关键环节。无论是日常使用的手机信号,还是复杂的雷达系统,都需要精确测量信号的功率。功率过大可能干扰其他设备,过小又会影响通信质量。本文将介绍几...

2025-06-26 标签:传感器无线通信射频信号功率测量传感器功率测量射频信号无线通信连续波 2580

泰克科技测试方案:借助WBG-DPT软件的新型软件消偏方法加速双脉冲测试

泰克科技测试方案:借助WBG-DPT软件的新型软件消偏方法加速双脉冲测试

双脉冲测试 精确的能量损耗测量是双脉冲测试的关键目标之一。消除电压探头和电流探头之间的时序偏差是在示波器上进行精确功率和能量测量的关键步骤。 适用于4B系列、5B系列和6B系列MSO(...

2025-06-25 标签:示波器脉冲测试混合信号示波器泰克科技 1933

碳化硅衬底切割进给量与磨粒磨损状态的协同调控模型

碳化硅衬底切割进给量与磨粒磨损状态的协同调控模型

摘要:碳化硅衬底切割过程中,进给量与磨粒磨损状态紧密关联,二者协同调控对提升切割质量与效率至关重要。本文深入剖析两者相互作用机制,探讨协同调控模型构建方法,旨在为优化碳化...

2025-06-25 标签:碳化硅碳化硅 895

汽车多模态交互测试:智能交互的深度验证

汽车多模态交互测试:智能交互的深度验证

在汽车智能座舱测试的关键进程中,北京沃华慧通测控技术有限公司展现出了独特的价值与优势。作为一家专注于测控技术领域的企业,沃华慧通在智能座舱测试方面积累了丰富的经验和专业的...

2025-06-25 标签:汽车测试交互汽车测试 1610

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