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ATE是Automatic Test Equipment的缩写，于半导体产业意指集成电路（IC）自动测试机，用于检测集成电路功能之完整性，为集成电路生产制造之最后流程，以确保集成电路生产制造之品质。

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聊聊IC测试机（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自动测试设备 (ATE)对PLL（锁相环）进行测试时，我们首先要明白PLL在系统级芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 标签：锁相环 DFT ATE 4.5k 0

聊聊IC测试机（3）基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

本文以ATE为基础，讨论了集成电路测试的基本原理和测试方法，并进行了故障分析.

2023-11-01 标签：滤波电容输出电压 PSRR 3.4k 0

聊聊IC测试机（1）ATE/ATS内部结构简介

ATE(Auto Test Equipment) 在测试工厂完成. 大致是给芯片的输入管道施加所需的激励信号，同时监测芯片的输出管脚，看其输出信号是否是...

2023-11-01 标签：控制器适配器 DSP芯片 7k 0

ATE如何测试PLL

两种方法：时域和频域测试，如下： •方法1. ATE time measurement unit （ TMU）测试。（时域，需要额外的TMU lice...

2023-10-30 标签：测试 IC pll 2.3k 0

测试向量是什么意思

测试向量及其生成测试向量（Test Vector）的一个基本定义是：测试向量是每个时钟周期应用于器件管脚的用于测试或者操作的逻辑1和逻辑0数据。这一...

2023-10-30 标签：测试 IC 测量 5.4k 0

ATE/ATS内部结构简介

ATE/ATS：自动测试设备/自动测试系统，也称测试机是测试工程师在IC测试中必须使用的工具，本文主要从技术层面对ATE/ATS的组成及软硬件及其接口要...

2023-10-30 标签：测试 IC 仪器 2.9k 0

IT8500G+升级版可编程直流电子负载解决方案

传统电源测试，需要工程师手动设置直流电子负载的参数进行拉载测试，人工记录电源在不同负载状态下的输出参数，再由操作者根据标准判断电源是否合格，测试效率极其...

2023-08-23 标签：示波器电子负载电源测试 1.6k 0

基于新型MEMS开关提高SoC测试能力及系统产出

本文将介绍ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次性通过单插入测试，以帮助进行DC参数测试和高速数字测试，从而降低测试成本，简化数字/RF片...

2023-07-10 标签：ATE MEMS开关宽带宽 1k 0

ATE引脚电子器件的电平设置DAC校准

本文提供一种校准数模转换器(DAC)的方法，专用于引脚电子器件驱动器、比较器、负载、PMU和DPS。

2023-07-11 标签：dac 电子器件 ATE 1.5k 0

一种创建双输出电压轨的方法

本文详细介绍一种创建双输出电压轨的方法，该方法能为设备电源(DPS)提供正负电压轨，并且只需要一个双向电源。传统的设备电源供电方法使用两个双向（拉电流和...

2023-07-14 标签：输出电压 ATE 机械设备 1.5k 0

什么是自动测试设备？是如何工作的？

在改进功能的同时提供高质量标准的需求促使制造商转向可靠且保证可重复性的自动测试设备（ATE）。ATE可帮助制造商执行多项准确的测试并减少故障和错误的发生...

2023-06-29 标签：ATE 自动测试设备 2.2k 0

以更低的成本实现更高的半导体测试吞吐量

在这种环境下，ATE设计人员努力增加每一代通道的数量并不少见。提高测试能力意味着主板（具有大量引脚驱动器电子元件的驱动板）将需要大量功率才能运行。当然，...

2023-06-28 标签：驱动器 ATE DUT 831 0

预算有限的自动测试设备

电子设备测试的复杂性差异很大，从最简单的类型（手动测试）到最复杂的大型自动测试设备（ATE）。在简单的手动测试和大规模ATE之间，是低预算和中等规模的测...

2023-03-28 标签：电源隔离器 ATE 2k 0

一种基于直接法的动态稠密SLAM方案

基于特征点法的视觉SLAM系统很难应用于稠密建图，且容易丢失动态对象。而基于直接法的SLAM系统会跟踪图像帧之间的所有像素，因此在动态稠密建图方面可以取...

2023-03-13 标签：RGB SLAM ATE 1.9k 0

半导体测试行业的相关术语

ATE = Automatic Test Equipment. 是自动化测试设的缩写，于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机，用于检测集成电路功能...

2022-11-01 标签：半导体 ATE 测试设备 6.2k 0

一种动态环境下的直接视觉里程计

其一是实际环境中的动态物体不一定被预训练，另一是算法无法区分"动态物体"和"静止但可能移动的物体"。

2022-10-12 标签：SLAM ATE 1.8k 0

自动测试设备(ATE)系统中选择器件电源(DPS)IC的指南

器件电源(DPS) IC具有灵活的电压驱动和电流驱动容量，能够为自动测试设备(ATE)提供动态测试能力。当负载电流介于两个设定限流值之间时，DPS IC...

2022-09-07 标签：散热器 DPS ATE 5.6k 0

如何校准ATE引脚电子设备的电平设置DAC

以下是如何通过增益和偏移调整了解其功能、误差和校准来校准 ATE 引脚电子器件的电平设置 DAC。

2022-08-10 标签：dac 数模转换器 ATE 2.1k 0

ATE系统助力多维度打造稳定高效的自动测试设备

多维度入手打造稳定高效的自动测试设备，迎接集成电路融合时代的机遇与挑战 5G、人工智能、新能源等新技术的成熟驱动各行业加速数字化转型落地，从而持续推动全...

2022-07-04 标签：集成电路自动测试 ATE 2.7k 1

基于Microchip的53100A相位噪声分析仪

Microchip的53100A相位噪声分析仪是一种非常高质量和高性能的工具（图1），可以测量射频源的幅度，相位和频率稳定性。它的测量范围很宽，介于1 ...

2021-05-07 标签：dsp 振荡器 cpu 6.7k 0

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