ATE如何测试PLL

两种方法： 时域和频域测试，如下：

•方法1. ATE time measurement unit （ TMU）测试。（时域，需要额外的TMU license，因此常不采用。）

实施步骤：ATE 构造TMU TASK。TMU可以非常高精度地根据task设置trigger到上升沿的时刻，因此可以通过两个上升沿的差值计算出频率，支持多次采样，如下图所示：

•方法2. 构造采样向量，离散傅里叶公式计算频谱，频谱的最大和第2大频率转换即为待测信号频率。（频域）

•a）预先构造一条全L的向量，假设叫做PLL_sample.

•b） 运行DFT PLL向量的测试项。运行后， 不复位的情况下DUT此时稳定输出时钟信号。

•c） 运行预先构造好的向量PLL_sample，收集fail cycle，也就是ATE的error
map。获得一串0/1组成的一维序列，如下图（点击可放大）：

•d）。对获得一维序列进行汉明窗口卷积后，使用快速离散傅立叶变换获得频谱。通过频谱可以相当高精度的获得输出的频率，通过spec进行分bin。

实际步骤：首先应用DSP_FFT与汉明窗口。然后搜索频谱第一大主频kmax 和第二大频，（kmax-1 或者kmax+1）。如图所示，第1大和第2大频率成为关键参数。

核心为两个公式：