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SN54ABT8646 具有八路总线收发器和寄存器的扫描测试设备

数据:

描述

 

具有八进制总线收发器和寄存器的?? ABT8646和扫描测试设备是德州仪器SCOPE的成员?可测试性集成电路系列。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描,便于测试复杂的电路板组件。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下,这些器件在功能上等同于?? F646和?? ABT646八路总线收发器并注册。测试电路可以由TAP激活,以获取出现在器件引脚上的数据的快照样本,或者对边界测试单元执行自测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE的功能操作?八进制总线收发器和寄存器。

收发器功能由输出使能(OE)\和方向(DIR)输入控制。当OE \为低电平时,收发器处于活动状态,当DIR为高电平时工作在A到B方向,或者当DIR为低电平时工作在B到A方向。当OE \为高电平时,A和B输出都处于高阻态,有效隔离两个总线。

数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)控制并选择(SAB和SBA)投入。 A总线上的数据在CLKAB的低到高转换时被输入相关的寄存器。当SAB为低时,选择实时A数据以呈现给B总线(透明模式)。当SAB为高时,选择存储的A数据以呈现给B总线(注册模式)。 CLKBA和SBA输入的功能分别反映CLKAB和SAB的功能。图1显示了可以用?? ABT8646执行的四种基本总线管理功能。

在测试模式下,SCOPE的正常运行?禁止总线收发器和寄存器,并且使测试电路能够观察和控制器件的I /O边界。启用后,测试电路执行边界扫描测试操作,如IEEE标准1149.1-1990所述。

四个专用测试引脚控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI),测试数据输出(TDO),测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。另外,测试电路执行其他测试功能,例如数据输入上的并行签名分析(PSA)和来自数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。

SN54ABT8646的特点是可在55°C至125°C的整个军用温度范围内工作。 SN74ABT8646的工作温度范围为-40°C至85°C。

特性

 

  • 德州仪器SCOPE成员?可测性产品系列
  • 兼容IEEE标准1149.1 ?? 1990(JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
  • 功能上等同于F646和?? ABT646中的正常功能模式
  • SCOPE ??指令集
    • IEEE标准1149.1-1990必需指令,可选INTEST,CLAMP和HIGHZ
    • 带屏蔽选项的输入的并行签名分析
    • 伪随机模式生成输出
    • 样本输入/切换输出
    • 输出的二进制计数
    • 偶数奇偶校验操作码
  • 每个I /O具有两个边界扫描单元以提高灵活性
  • 最先进的EPIC-IIB ?? BiCMOS设计显着降低功耗
  • 封装选项包括塑料小外形(DW)和收缩小外形(DL)封装,陶瓷芯片载体(FK)和标准陶瓷DIP(JT)

SCOPE和EPCI-IIB是德州仪器公司的商标。

参数 与其它产品相比 收发器

 
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
Rating
Operating Temperature Range (C)
 
SN54ABT8646
ABT    
4.5    
5.5    
8    
Military    
-55 to 125    
无样片

技术文档

数据手册(1)
元器件购买 SN54ABT8646 相关库存