大电流弹片微针模组比传统pogo pin探针模组更具优势

手机的拍照功能是像素、处理器、性能结合在一起的综合体验，对于手机摄像头的应用，出厂前的测试肯定少不了。因为手机摄像头测试的重要性，所以企业选择测试模组的标准应当以测试的稳定性为先，其次是追求测试效率和较高的性价比。凯智通大电流弹片微针模组对于手机摄像头测试有着极佳的性能，能够满足测试要求。

大电流弹片微针模组与传统pogo pin探针模组相比，从传输电流到小pitch可取值再到外形结构、使用寿命等方面都占据着较大优势。

（一）电流传输

大电流弹片微针模组在大电流测试时稳定可靠，可通过的额定电流能达到50A，电流传导时在同一材料体内流通，电阻恒定，具有极好地连接功能。Pogo pin探针模组可通过的额定电流仅为1A，在大电流测试时通常会加大探针的尺寸来增加电流，但这样做很容易出现卡pin、断针的现象，造成误测。

（二）小pitch领域测试

在小pitch领域的测试中，大电流弹片微针模组有着很好地测试解决方案，应对的pitch值范围大，最小可以达到0.15mm，在0.15mm~0.4mm之间，性能都很稳定。Pogo pin探针模组在小pitch领域中寿命和稳定性都表现较差，应对的pitch值通常只在0.3mm~0.4mm之间，可取值范围小，无法应对复杂的测试环境和要求。

（三）外形结构对比

大电流弹片微针模组是一体成型的弹片结构，多种头型可以选择，在对btb连接器公母座的测试中有独特的应对方法。接触形状可根据客户的要求进行定制，生产难度低，交期短。pogo pin探针模组是多配件组合结构，由针头、针管、针尾构成，制作工艺复杂，表面镀金厚度很难控制，生产难度高且交期长。电流传输时会在不同的部位衰减，造成测试不稳定。

（四）使用寿命

大电流弹片微针模组的使用寿命高达20w次以上，测试时不会对连接器造成损坏，不会留下扎痕，面对高频率测试表现较好，无需频繁更换，测试效率高。pogo pin探针模组的使用寿命在5w次左右，损坏率高，更换频繁，无法应对高频率的测试，效率低下，测试不稳定。

大电流弹片微针模组在手机摄像头的测试中，性能稳定、测试效率高、性价比高，各方面都远超pogo pin探针模组，是手机摄像头测试的最佳选择！

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