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KLA-Tencor 以全新测量系统扩充其 5D 图型控制方案

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2018-04-10 12:15:005181

KLA-Tencor推出两款全新缺陷检测产品 堪称黑科技

今天,KLA-Tencor公司(纳斯达克股票代码:KLAC)宣布推出两款全新缺陷检测产品,在硅晶圆和芯片制造领域中针对先进技术节点的逻辑和内存元件,为设备和工艺监控解决两项关键挑战
2018-07-14 08:24:009385

KLA-Tencor公司宣布推出两款全新缺陷检测产品

Voyager 1015图案化晶圆缺陷检测系统将新型光源、信号采集和传感器完美结合,填补了业界针对显影后检测(ADI)方面的长期空白。这一革命性的激光散射检测系统在提升灵敏度的同时也可以减少噪声信号——并且与最佳替代品相比得到检测结果要迅速得多。
2018-07-14 10:28:357265

中芯国际为进一步扩大产量,将引进首台检测设备

根据媒体报导,中国晶圆代工厂商中芯国际的天津厂,日前举行了 P2 Full Flow 扩产计划的首台设备进驻仪式。而检测设备大厂柯磊国际 (KLA-Tencor China) 的 RS200 型检测设备,就是该次中芯国际天津厂的首台进驻设备。
2018-07-16 15:17:002745

KLA-Tencor宣布推出Kronos 1080和ICOS F160检测系统:拓展IC封装产品系列

KLA-Tencor公司今日宣布推出两款全新缺陷检测产品,旨在解决各类集成电路(IC)所面临的封装挑战。 Kronos™ 1080系统为先进封装提供适合量产的、高灵敏度的晶圆检测,为工艺控制和材料处置提供关键的信息。
2018-08-31 16:01:289821

Tencor推出两款全新缺陷检测产品,可满足各种IC封装类型的检测需求

ICOS F160系统在晶圆切割后对封装进行检查,根据关键缺陷的类型进行准确快速的芯片分类,其中包括对侧壁裂缝这一新缺陷类型(影响高端封装良率)的检测。这两款全新检测系统加入KLA-Tencor缺陷检测、量测和数据分析系统的产品系列,将进一步协助提高封装良率以及芯片分类精度。
2018-09-04 09:11:002239

高盛:准备好!半导体设备将带来更多痛苦

高盛分析师Toshiya Hari在报告中称,投资者可能低估了半导体制造设备支出下滑的严重程度。Hari下调了应用材料、Lam Research和KLA-Tencor的盈利预期,因根据最近的行业调查,预计2019年半导体制造设备的支出将进一步恶化。
2018-10-12 16:14:134844

半导体驱动数字时代发展

KLA-Tencor公司在2017年收到的中国订单出现显著增长——约为2016年订单的3倍!根据2018年第二季度统计数据显示,KLA-Tencor公司在中国地区的设备出货量已经超过全球总数的30%。
2018-11-28 15:57:353491

Tencor成功收购Orbotech 增加半导体封装制造机遇

分享到 晶圆检测设备制造商科磊 KLA-Tencor 周一宣布,它已经达成了收购以色列自动光学检测(AOI)系统供货商奥宝科技( Orbotech Ltd.)的最终协议。科磊将以每股69.02美元
2018-12-31 16:14:01193

Capres收购或已达成协议 加强新型存储器布局

据海外消息人士透露,KLA-Tencor(科天半导体)正准备收购丹麦公司Capres A/S,目前已经办妥收购手续,应该在之后会公布。
2019-02-28 14:37:353047

zpwsmileKLA-Tencor光刻工艺控制解决方案可将产量优化至0.13微米

KLA-Tencor光刻工艺控制解决方案将产量优化至0.13微米 SAN JOSE - KLA-Tencor公司推出了一款工艺模块控制(PMC)解决方案芯片制造商实施和控制0.13微米及更小
2020-02-14 11:05:231114

Mentor,KLA-Tencor提供模板以简化OPC光掩模计量

俄勒冈州WILSONVILLE - Mentor Graphics Corp.和KLA-Tencor公司今天宣布扩大合作用于使用亚波长光掩模改善晶圆厂产量的产品。两家公司表示,Mentor网站将提供
2019-08-13 10:31:174877

东芝聘请Synopsys公司和KLA-Tencor开发紧凑的良率分析和建模系统

于设备扩展,工艺容差越来越严格,而微小的工艺波动对设备性能的影响越来越大。为了解决这些问题,必须识别和控制这些过程变化的来源,以最小化参数产量损失。对于生产短生产设备的高混合设备的公司而言,错过流程上的标记可能意味着完全错过新产品设计的市场窗口。
2019-09-01 09:06:003821

KLA引入全新芯片制造量测系统

KLA量测部门高级副总裁兼总经理Jon Madsen表示:“ IC制造商面临着以原子尺度衡量的制程容差,因为他们将新颖的结构和新材料集成到了先进的芯片中。
2020-02-25 13:43:101102

KLA荣登《财富》500强

2021年KLA首次入选《财富》500强榜单,希望与全球员工分享这一卓越成就。
2021-06-10 10:14:192667

怎样通过重新化学表面处理改善水痕缺陷

(REWORK), 对处理前后的样品用 KLA-tencor surfscan SP1 TB1 型表面缺陷扫描仪进行观察并进行缺陷数量统计,结果如下图所示。
2022-03-15 15:09:53325

KLA持续赋能化合物半导体制造发展

5月23-24日 “2023半导体先进技术创新发展和机遇大会” 在苏州召开,来自KLA LS-SWIFT部门的技术专家裴舜在会上带来了《创新工艺控制为碳化硅汽车芯片良率与可靠性保驾护航》的主题演讲,分享KLA的全流程工艺控制解决方案如何提升车规级功率器件良率与可靠性。
2023-05-30 11:09:372431

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