FDB13AN06A0 N - 通道 PowerTrench® MOSFET:特性、参数与应用解析
在电子设计领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是至关重要的元件,广泛应用于各类电路中。今天,我们就来详细探讨一下 Fairchild(现已并入 ON Semiconductor)的 FDB13AN06A0 N - 通道 PowerTrench® MOSFET。
文件下载:FDB13AN06A0-D.pdf
一、公司背景与产品编号变更
Fairchild 半导体现已成为 ON Semiconductor 的一部分。在产品整合过程中,部分 Fairchild 可订购的产品编号需要更改,以满足 ON Semiconductor 的系统要求。由于 ON Semiconductor 的产品管理系统无法处理带有下划线()的部件命名,Fairchild 部件编号中的下划线()将更改为破折号(-)。大家在使用时可通过 ON Semiconductor 网站验证更新后的设备编号。
二、FDB13AN06A0 产品概述
1. 产品特性
- 低导通电阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=62A) 时,典型导通电阻 (r_{DS(on)} = 11.5mΩ),这意味着在导通状态下,MOSFET 的功率损耗较小,能有效提高电路效率。
- 低栅极总电荷:在 (V{GS}=10V) 时,典型总栅极电荷 (Q{g(tot)} = 22nC),这有助于降低开关损耗,提高开关速度。
- 低米勒电荷和低 (Q_{r}):米勒电荷的降低可以减少开关过程中的电压尖峰和振荡,提高电路的稳定性。
- 体二极管 UIS 能力:具备单脉冲和重复脉冲的体二极管非钳位感性开关(UIS)能力,增强了器件在感性负载应用中的可靠性。
2. 应用领域
- 电机负载控制:在电机驱动电路中,FDB13AN06A0 能够高效地控制电机的启停和转速,其低导通电阻和快速开关特性可以减少电机驱动过程中的能量损耗。
- DC - DC 转换器和离线 UPS:在 DC - DC 转换器中,它可以实现高效的电压转换;在离线 UPS 中,能确保在市电中断时为负载提供稳定的电源。
- 分布式电源架构和 VRMs:适用于分布式电源系统,为各个模块提供稳定的电源供应。
三、产品参数
1. 最大额定值
| 参数 | 符号 | 额定值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | 60 | V |
| 栅源电压 | (V_{GS}) | ±20 | V |
| 连续漏极电流((T{C}=25^{circ}C),(V{GS}=10V)) | (I_{D}) | 62 | A |
| 连续漏极电流((T{C}=100^{circ}C),(V{GS}=10V)) | (I_{D}) | 44 | A |
| 连续漏极电流((T{A}=25^{circ}C),(V{GS}=10V),(R_{theta JA}=43^{circ}C/W)) | (I_{D}) | 10.9 | A |
| 脉冲漏极电流 | (I_{D}) | 见图 4 | A |
| 单脉冲雪崩能量 | (E_{AS}) | 56 | mJ |
| 功率耗散 | (P_{D}) | 115 | W |
| 25°C 以上降额 | - | 0.77 | (^{circ}C/W) |
| 工作和存储温度 | (T{J}, T{STG}) | -55 至 175 | (^{circ}C) |
2. 热特性
- 结到壳热阻:(R_{theta JC}=1.3^{circ}C/W),反映了器件内部结到外壳的热传导能力。
- 结到环境热阻:在不同条件下有不同的值,如 (R{theta JA}=62^{circ}C/W)(一般情况),当有 1 平方英寸铜焊盘面积时,(R{theta JA}=43^{circ}C/W)。热阻的大小直接影响器件的散热性能,在设计散热方案时需要重点考虑。
3. 电气特性
关断特性
- 漏源击穿电压:(B{V DSS}) 在 (I{D}=250µA),(V_{GS}=0V) 时为 60V,这是衡量器件耐压能力的重要参数。
- 零栅压漏极电流:(I{DSS}) 在 (V{GS}=0V),(T_{C}=150^{circ}C) 时为 250µA,该值越小,说明器件在关断状态下的漏电越小。
- 栅源泄漏电流:(I{GSS}) 在 (V{GS}=±20V) 时为 ±100nA。
导通特性
- 栅源阈值电压:(V{GS(TH)}) 在 (V{GS}=V{DS}),(I{D}=250µA) 时为 2 - 4V,这是 MOSFET 开始导通的临界栅源电压。
- 漏源导通电阻:在不同的 (I{D}) 和 (V{GS}) 条件下有不同的值,如 (I{D}=62A),(V{GS}=10V) 时,典型值为 0.0115Ω,最大值为 0.0135Ω。
动态特性
包括输入电容 (C{ISS})、输出电容 (C{OSS})、反向传输电容 (C{RSS}) 以及各种栅极电荷参数,如总栅极电荷 (Q{g(TOT)})、阈值栅极电荷 (Q_{g(TH)}) 等。这些参数对于分析 MOSFET 的开关特性和频率响应非常重要。
开关特性
在 (V{GS}=10V) 时,给出了导通时间 (t{ON})、导通延迟时间 (t{d(ON)})、上升时间 (t{r})、关断延迟时间 (t{d(OFF)})、下降时间 (t{f}) 和关断时间 (t_{OFF}) 等参数,这些参数决定了 MOSFET 的开关速度和效率。
漏源二极管特性
包括源漏二极管电压 (V{SD})、反向恢复时间 (t{rr}) 和反向恢复电荷 (Q_{RR}) 等参数,这些参数对于分析 MOSFET 在感性负载应用中的性能至关重要。
四、典型特性曲线
文档中给出了一系列典型特性曲线,如归一化功率耗散与环境温度的关系、最大连续漏极电流与壳温的关系、归一化最大瞬态热阻抗曲线、峰值电流能力曲线等。这些曲线可以帮助工程师更好地了解器件在不同工作条件下的性能,从而进行合理的设计。例如,通过功率耗散曲线可以确定在不同环境温度下器件的最大允许功率,避免器件过热损坏。
五、测试电路和波形
文档还提供了多种测试电路和波形,如非钳位能量测试电路、栅极电荷测试电路和开关时间测试电路等。这些测试电路和波形可以帮助工程师验证器件的性能,确保其符合设计要求。例如,通过开关时间测试电路可以测量 MOSFET 的开关时间,评估其开关性能。
六、热阻与安装焊盘面积的关系
在使用表面贴装器件时,安装焊盘面积对器件的电流和最大功率耗散额定值有显著影响。文档给出了热阻 (R_{theta JA}) 与顶部铜(元件侧)面积的关系曲线,并提供了相应的计算公式。通过这些信息,工程师可以根据实际应用需求选择合适的安装焊盘面积,以确保器件的散热性能。
七、电气模型和热模型
文档提供了 PSPICE 电气模型、SABER 电气模型、SPICE 热模型和 SABER 热模型。这些模型可以帮助工程师在电路设计阶段进行仿真分析,预测器件在实际电路中的性能,从而优化设计方案。例如,通过电气模型可以模拟 MOSFET 在不同输入信号下的输出特性,评估电路的稳定性和效率。
八、机械尺寸和商标信息
文档还给出了器件的机械尺寸图,方便工程师进行 PCB 布局设计。同时,列出了 Fairchild 半导体的一系列商标,包括注册和未注册的商标和服务标记。
九、注意事项
1. 产品变更和免责声明
ON Semiconductor 保留对产品进行更改的权利,且不承担因产品应用或使用而产生的任何责任。用户需要自行验证所有操作参数,确保产品在特定应用中的适用性。
2. 生命支持政策
ON Semiconductor 的产品未经授权不得用于生命支持系统或 FDA 3 类医疗设备等关键应用。如果用户将产品用于此类未经授权的应用,需要承担相应的责任。
3. 防伪政策
为了避免购买到假冒伪劣产品,建议用户直接从 ON Semiconductor 或其授权经销商处购买产品。
在实际设计中,电子工程师需要综合考虑 FDB13AN06A0 的各项特性和参数,结合具体的应用需求,进行合理的电路设计和散热设计。同时,要密切关注产品的变更信息,确保设计的可靠性和稳定性。大家在使用这款 MOSFET 时,有没有遇到过什么特别的问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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