CDCE913-Q1 和 CDCEL913-Q1 器件是基于锁相环 (PLL) 的模块化可编程时钟合成器。这些器件提供灵活且可编程的选项,例如输出时钟、输入信号和控制引脚,以便用户可以根据自己的规格配置 CDCE913-Q1 和 CDCEL913-Q1。
CDCE913-Q1 和 CDCEL913-Q1 从单个输入频率生成多达三个输出时钟,以节省电路板空间和成本。此外,通过多个输出,时钟发生器可以用一个时钟发生器替换多个晶体。这使得该设备非常适合 ADAS 中信息娱乐和摄像头系统中的主机和远程信息处理应用,因为这些平台正在发展成为更小、更具成本效益的系统。
*附件:cdcel913-q1.pdf
此外,每个输出都可以通过集成的可配置PLL在系统内针对高达230MHz的任何时钟频率进行编程。PLL 还支持具有可编程下和中心扩展的扩频时钟 (SSC)。这提供了更好的电磁干扰 (EMI) 性能,使客户能够通过 CISPR-25 等行业标准。
频率编程和SSC的定制可通过三个用户定义的控制引脚进行访问。这样就无需使用额外的接口来控制时钟。还可以根据用户的需求定义特定的上电和断电序列。
特性
- 符合汽车应用标准
- AEC-Q100 符合以下标准:
- 设备温度等级
- 1 级 对于 CDCE913-Q1:–40°C 至 +125°C 环境工作温度
- 3 级 对于 CDCEL913-Q1:–40°C 至 +85°C 环境工作温度
- 设备 HBM ESD 分类等级 H2
- 设备 CDM ESD 分类等级 C6
- 设备温度等级
- 功能安全功能
- 系统内可编程性和EEPROM
- 串行可编程易失性寄存器
- 用于存储客户设置的非易失性EEPROM
- 灵活的输入时钟概念
- 外部晶体:8MHz至32MHz
- 片上VCXO:拉动范围±150ppm
- 单端LVCMOS,频率高达160MHz
- 自由选择高达 230MHz 的输出频率
- 低噪声PLL内核
- 集成 PLL 回路滤波器组件
- 低周期抖动(典型值 50ps)
- 独立的输出电源引脚:
- CDCE913-Q1:3.3V 和 2.5V
- CDCEL913-Q1:1.8V
- 灵活的时钟驱动器
- 1.8V器件电源
- 采用 TSSOP 封装
- 用于轻松进行 PLL 设计和编程的开发和编程套件 (TI Pro-Clock™)
参数
方框图

1. 产品概述
CDCE913-Q1和CDCEL913-Q1是德州仪器(TI)推出的汽车级可编程时钟合成器,基于PLL(锁相环)技术,支持1.8V、2.5V和3.3V输出。
- 关键特性:
- 符合AEC-Q100汽车级认证(CDCE913-Q1支持-40°C至+125°C,CDCEL913-Q1支持-40°C至+85°C)。
- 集成EEPROM,支持用户自定义配置存储。
- 输入支持外部晶体(8MHz至32MHz)或LVCMOS时钟信号(最高160MHz)。
- 输出频率可编程至230MHz,支持三路独立输出。
- 低抖动性能(典型值50ps),集成PLL环路滤波器。
2. 应用场景
3. 功能模块
- 输入模块:支持晶体振荡器、VCXO(压控晶体振荡器)或LVCMOS输入。
- PLL核心:
- 支持分数分频,灵活生成目标频率。
- 可选扩频时钟(SSC),降低EMI干扰(中心扩展±2%或向下扩展-2%)。
- 输出模块:三路LVCMOS输出,每路可独立配置频率、使能状态(高阻、低电平或激活)。
4. 控制与编程
- 控制引脚:S0、S1/SDA、S2/SCL支持多模式配置(如频率切换、SSC选择、输出使能)。
- I2C接口:通过标准或快速模式(最高400kHz)编程寄存器,支持字节/块读写操作。
- EEPROM:保存用户配置,支持1000次编程循环,数据保留10年。
5. 电气特性
- 工作电压:VDD(1.8V)、VDDOUT(CDCE913-Q1: 2.5V/3.3V;CDCEL913-Q1: 1.8V)。
- 功耗:典型值11mA(PLL激活),30µA(待机模式)。
- 抖动性能:周期抖动典型50ps(PLL模式)。
6. 封装与布局
- 14引脚TSSOP封装(5mm×6.4mm)。
- 布局建议:晶体靠近芯片放置,避免电源层干扰,输出端串联终端电阻。
7. 典型应用设计
- 扩频时钟配置:通过SSC降低EMI,例如±1%中心扩展可满足55dBµV标准。
- 频率规划:通过PLL分频比(M/N)和输出分频(Pdiv)实现目标频率(如27MHz输入→108MHz输出)。
8. 安全与可靠性
- ESD防护:HBM 2000V,CDM 1000V。
- 功能安全:提供文档支持系统级安全设计。
文档结构
包含特性、引脚定义、电气参数、寄存器映射(如控制终端配置、PLL设置)、应用示例及机械封装信息,完整覆盖设计、编程与测试需求。
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