精智达：DRAM晶圆老化测试设备进入验证阶段

1月2日，精智达发布最新研究报告，披露其半导体存储器件测试设备的研发进展顺利。DRAM晶圆老化测试设备已完成开发与测试，步入验证阶段； DRAM测试机仍处研发环节。

该公司声称，在半导体业务上，探针卡业务实现重大突破，开始量产，前景看好。

至于面板业务，公司正积极涉足MicroLED、Micro-OLED等微型显示领域，已先后获得数个Micro-LED检测设备订单。同时，关于微型显示领域的技术开发和设备验证工作正在稳步展开。

谈及公司近年来的对外投资行动，精智达强调，标的公司主营业务与公司业务具备高度协同效应，有助于加速推动测试设备的核心信号处理引擎芯片国产化进程，同时 丰富产业链布局，提升在ATE设备市场中的核心竞争实力和供应链可靠性。

更为详细地说，标的方提供存储芯片测试开发服务，技术水准领先全球，所研发出的高性能数字混合信号测试芯片涵盖DDR5等产品，并支持9Gbps传输协议。该芯片的问世将有助于加快芯片测试装备的研发速度及提高测试效率。