调整用于测试芯片的电压

客户挑战

随着测试的 IC 引脚的数量不断增加，出于成本考虑，每分钟所测试的芯片数量也必须增加。这需要对测试设备的硬件进行大幅调整。测试头本身必须测试更多引脚，必须更快移动，而且还必须提供不同的测试电压。测试头的尺寸和重量是实现这些改进至关重要的因素。即便电源具有更高效率及更小尺寸的相同拓扑，也会造成组件的更高工作温度，因而可降低可靠性，这是一天 24 小时全天候运行的系统所无法接受的。

另一项挑战是必须调整用于测试芯片的电压，才能满足不同芯片的需求。

解决方案

分比式电源的使用帮助客户减小了负载本身各转换级的尺寸、重量以及热量的产生。将稳压 (PRM) 与变压 (VTM) 分开，并在负载点上只提供变压部件 (VTM)，与该端口的全面转换器级相比，不仅可明显降低负载点所产生的功耗，而且还可显著缩小转换器的尺寸。稳压本身可以出现在远离负载点的另一端。

结论

VTM 支持高开关频率，因而支持极高的功率密度，是非常小巧的轻量级组件。这是用来减轻测试头重量的主要组件。VTM 极高的效率不仅降低了测试头上所生成的热量，而且还确保满足了这种环境下所需的高可靠性及平均故障间隔时间 (MTBF) 值要求。

FPA 分比式电源通过对 PRM 母线电压的调整实现对负载电压的稳压。在测试具有不同电压需求的芯片时，这可避免高昂的准备成本或更换设备。

产品系列的主要规格

PRM 稳压模块

输入电压：48V, (36 – 75V)

输出电压：48V

输出功率高达：600W

效率高达：97%

尺寸：32.5 x 22.0 x 6.73 mm

VTM 电流倍增器

输入电压：0 – 60V

输出电压：0 – 55V

输出电流高达：135A

效率高达：96%

尺寸：32.5 x 22.0 x 6.73 mm

审核编辑 ：李倩